Nanochemical Atomic Force Microscopes

高価な基板の結晶欠陥を検出するX線回折イメージング(XRDI)検査システムcrystalline defects in high value substrates


Bruker JV-QCRTは、最新のX線回折イメージング(XRDI)技術を使用して、CdTeおよび他の高密度材料などの高価値基板の欠陥を特定する欠陥計測システムです。
光学技術とは異なりX線回折を使用するため、欠陥を見ることができるようをウェーハをエッチングまたは研磨する必要がありません。



On Off
JV QCRT tool imagev2
JV QCRT x ray detection dense material v1



CdTe基板のモザイク構造や欠陥


CdTeおよびCdHgTeは、特に暗視用のIR検出、および高エネルギーセンサ基板において広く使用されています。これらのアプリケーションでは、成長した結晶の品質が重要になります。 JV-QCRTは、このような結晶の品質管理、およびこれらの基材のさらなる開発のために使用されます。