コンタクトモード

表面形状イメージングに対応し、高度なテクニックへの入口となる基本的なAFMモード

コンタクトモードはすべてのAFMテクニックの基本となるテクニックで、プローブチップがサンプル表面と物理的に接触します。チップが表面をスキャンするあいだ、表面形状に応じた、カンチレバーの垂直変位が生じます。フィードバックループでは、あらかじめ設定された負荷力でこの変位量を維持しながら、フィードバックレスポンスを用いて表面形状イメージを生成します。

コンタクトモードは、材料科学、生物学アプリケーション、基礎研究に適しています。また、チップとサンプルの直接的な接触を必要とする高度なSPMテクニックの基礎にもなります。

Contact Mode 1
コンタクトモードでイメージングした生きたHeLa細胞(スキャンサイズ150 µm)

コンタクトモードを搭載するブルカーのAFMシステム: