X선 회절분석기(XRD)

D8 ADVANCE Plus

D8 ADVANCE를 파우더 이상으로 사용하십시오.
HerostageD8ADVANCE

하이라이트

D8 ADVANCE Plus: 다목적 재료 연구

>1x10¹² 광자/s
EIGER2 R 500K의 계수 속도 기능
EIGER2 R 500K는 일관된 신호 대 노이즈로 흡수기 무료 측정을 가능하게 하는 가장 큰 다이나믹 레인지를 보유하고 있습니다.
3x2
TWIN 및 TRIO 옵틱
최대 6개의 서로 다른 빔 형상 간의 완전 자동 스위칭
4
중심 축
컴팩트 크래들 플러스는 Phi와 Psi를 추가하여 D8 ADVANCE를 2축에서 4축 회절계로 변환합니다.
브루커의 차별화된 얼라인먼트 보증
더 알아보세요

D8 ADVANCE Plus - 최대의 유연성은 탁월한 사용 편의성을 충족합니다.

D8 ADVANCE Plus는 다목적의 여러 연구자들이 사용하는 실험실을 위한 궁극의 X선 플랫폼을 나타내는 D8 ADVANCE 최신형 모델입니다. 이 시스템은 분말, 벌크 재료, 섬유, 시트 및 박막 (무정형, 다결정 및 에피택셜)을 포함한 모든 샘플 유형의 요구와 완벽하게 일치합니다.

  • 전통적인 X선 분말 회절(XRD)
  • 쌍 분배 함수(PDF) 분석
  • 소각 X 선 산란 (SAXS, WAXS)
  • 상온 및 비상온 조건에서의 XRR(반사측정) 및 HRXRD(흔들리는 곡선, 상호 공간 매핑)

이 시스템의 진정한 장점은 분말을 위한 Bragg-Brentano 빔을 사용하는 것에서 부터 에피택셜 박막과 그 사이의 모든 것을 위한 고분해능 병렬 빔 Kα1 형상에 이르기까지 최대 6개의 빔 경로를 전환할 수 있는 능력입니다. 소프트웨어에서 버튼 하나로 완전하게 응용분야가 변화됩니다.

샘플 유형과 응용 프로그램이 무엇이든, 초보자든 전문가이든 상관없이 D8 ADVANCE Plus는 탁월한 유연성과 사용하기 쉬운 덕분에 데이터 품질의 새로운 기준을 제시합니다.

특징

주요 기능

D8 ADVANCE Plus 기능

TRIO 옵틱

특허받은 TRIO 옵틱은 D8 ADVANCE의 사용을 단순화하여 가장 다양한 응용 분야와 샘플 유형을 제공합니다. 사용자 편의성을 염두에 두고 이 시스템은 최대 6개의 서로 다른 빔 경로 간에 자동 전동 스위칭을 제공합니다. 물리적 사용자 개입없이 시스템은 세 개의 빔 패스 사이를 전환할 수 있습니다.

  • 파우더를 위한 Bragg-Brentano 모드
  • 모세관, GID 및 XRR용 고강도 병렬 빔 Kα1,2
  • 에피택셜 박막용 고해상도 병렬 빔 Kα1 형상

 

상온 또는 non- ambient 조건에서 분말, 벌크, 섬유, 시트 및 박막 (무정형, 다형성 및 상압)을 포함한 모든 샘플 유형에 완벽하게 부합합니다.

D8 ADVANCE Plus 기능

재료 연구 단계

컴팩트한 UMC 및 컴팩트 크래들 플러스는 D8 ADVANCE Plus의 샘플 처리 기능을 확장하여 샘플의 복잡한 정밀 한 움직임을 허용합니다. Comact UMC 단계는 X25mm, Y70mm, Z의 52mm의 동력 모션을 특징으로 하며, 2kg 의 샘플 용량은 대형 벌크 샘플 또는 여러 개의 작은 샘플을 분석합니다. 컴팩트 크래들 플러스는 스트레스, 질감 및 에피택셜 박막 분석을 위해 무제한 Phi 회전과 -5°에서 95°로 Psi 기울기를 포함합니다. 또한, 컴팩트 크래들 플러스는 작은 박막 샘플 홀더 또는 대형 수동 XY 테이블과 함께 샘플을 제자리에 보관할 수 있도록 진공 유틸리티 피드스루를 갖추고 있습니다. 두 단계 모두 비주변 분석을 위해 돔 온도 단계를 수용합니다. 또한 DIFFRAC.DAVINCI 스테이지 베이어 넷 장착 시스템을 사용하여 샘플 스테이지를 쉽게 교체 할 수 있습니다.

D8 ADVANCE PLUS 기능

EIGER2 R 검출기

다중 모드 기능(0D-1D-2D, 스냅샷 및 스캐닝 모드)을 통해 EIGER2 R는 분말에서 재료 연구 응용 분야에 이르는 광범위한 측정 방법을 포괄할 수 있습니다. 모든 거래의 전형적인 잭이 아닌 EIGER2는 모든 응용 프로그램의 마스터입니다. 흡수제 무료 측정을 허용하는 다이나믹 레인지, 초고속 분말 측정을 위한 대형 1D 크기, 빠른 상호 공간 맵, 500k 이상의 픽셀이 대형 2차원 커버리지를 제공하는 EIGER2는 멀티 모드 검출기에 대한 새로운 표준을 설정합니다. EIGER2는 DECTRIS Ltd.의 빔라인 검출기 기술과 BRUKER의 소프트웨어 및 하드웨어 통합을 원활하게 사용하기 쉬운 솔루션으로 결합합니다.

응용

회절분석기 - 모든 응용 프로그램

D8 ADVANCE PLUS 애플리케이션

분말 회절

X선 분말 회절(XRPD) 기술은 재료 특성화를 위한 가장 중요한 도구 중 하나입니다. 분말 패턴에 내장된 대부분의 정보는 존재하는 단계의 원자 적 배열로부터 직접 파생된다. D8 ADVANCE 및 DIFFRAC.SUITE 소프트웨어를 사용하면 일반적인 XRPD 방법을 간단하게 실행할 수 있습니다.

  • 결정 및 비정질 상 식별 및 시편 순도 결정
  • 다상 혼합물의 결정상 및 비정질상 모두의 정량적 분석
  • 미세 구조 분석 (결정성 크기, 미세 변형, 장애 ...)
  • 제조된 부품의 열 처리 또는 가공으로 인한 대량 잔류 응력
  • 텍스처(기본 방향) 분석
  • 인덱싱, ab-initio 결정 및 결정 구조 정제
D8 ADVANCE PLUS 애플리케이션

잔류 응력 및 텍스처 분석

잔류 응력 및 텍스처 측정은 재료가 한계까지 밀려나는 산업용 금속 샘플에서 일상적으로 수집됩니다. 인장 응력 완화 또는 샘플 표면의 압축 응력 유도를 통해 기능수명을 크게 연장할 수 있습니다. 이는 열처리 또는 쇼트 피닝과 같은 물리적 프로세스를 통해 수행할 수 있습니다. 벌크 샘플을 구성하는 결정의 방향은 균열이 전파되는 방식을 결정합니다. 재료에 특정 텍스처를 형성함으로써 그 특성을 크게 늘릴 수 있습니다. 이 두 가지 기술은 적정 제조와 같은 최첨단 제조 방법을 최적화하는 데도 중요합니다.

D8 ADVANCE PLUS 애플리케이션

박막 및 코팅

박막과 코팅의 분석은 XRPD의 동일한 원리를 기반으로 하지만, 추가 빔 조건 및 각도 제어. 일반적인 예로는 상 식별, 결정 품질, 잔류 응력, 텍스처 분석, 두께 측정 및 조성 대 스트레인 해석에 국한되지 않습니다. 박막과 코팅의 분석은 비정질 및 다결정 코팅에서부터 상체 재배 필름에 이르기까지 nm에서 μm 두께에 이르는 박막 재료의 특성에 초점을 맞추고 있습니다. D8 ADVANCE ECO와 DIFFRAC.SUITE 소프트웨어는 다음을 포함하여 박막의 고품질 분석을 가능하게 합니다.

  • 스침 각 회절
  • X선 반사경
  • 고분해능 X선 회절
  • 역격자 공간 매핑

사양

D8 ADVANCE Plus 사양

기능

사양

혜택

TRIO 옵틱

소프트웨어 푸시 버튼 스위치 사이:

전동 발산 슬릿 (Bragg-Brentano)

고강도 Ka1,2 병렬 빔

고해상도 Ka1 병렬 빔

특허: US10429326, US665372, US7983389

수동 사용자 개입 없이 최대 6개의 서로 다른 빔 형상 간에 완전 자동 전동 전환

분말, 벌크 재료, 섬유, 시트 및 박막 (무정형, 다형성 및 상종)을 포함한 모든 샘플 유형에 완벽하게 적합합니다.

LYNXEYE XE-T

에너지 분해능: < 380 eV @ 8 KeV

감지 모드: 0D,1D, 2D

파장: Cr, Co, Cu, Mo 및 Ag

특허: EP1647840, EP1510811, US20200033275

Kß 필터 및 보조 모노크로메이터 필요 없음

Cu 방사선으로 야기되는 Fe-형광향의 100% 여과

기존 검출기 시스템보다 최대 450배 빠릅니다.

BRAGG2D: 서로 다른 기본 선 빔으로 2D 데이터 수집

차별화된 검출기 보증: 데이터 산출에 결함이 있는 채널 없음

EIGER2 R

Dectris Ltd가 개발한 하이브리드 광자 카운팅 기술을 기반으로 한 최신 세대 멀티 모드(0D/1D/2D) 검출기.

0D, 1D 및 2D 감지단계, 연속 및 고급 스캐닝 모드의 원활한 통합

인체 공학적, 정렬없는 검출기 회전을 최적화하기 위한 γ 또는 2Θ 각 커버리지

전체 검출기 시야를 이용한 파노라마, 공구 없는 디저저저저드 빔 광학

각도 커버리지와 해상도의 균형을 맞추기 위해 지속적으로 가변 검출기 위치 지정

TWIST.TUBE

선과 점 포커스 응용 프로그램 간의 간편하고 빠르며 정렬없는 스위치

전기 케이블이나 물 호스의 분리 또는 튜브의 장착 해제

DAVINCI.DESIGN: 초점 방향의 완전 자동 감지 및 구성

컴팩트한 UMC 스테이지

전동 X: 25mm

전동 Y: 70mm

전동 Z: 52mm

용량: 2kg

빔에 큰 샘플의 관심 영역의 정확한 위치

자동 측정을 위한 여러 샘플 장착

컴팩트 크래들 플러스

전동 Phi: 무제한

전동 Psi: -5° ~ 95°

걱정 없는 시료 마운팅을 위한 진공 유틸리티 공급

전체 4축 회절을 통해 텍스처, 잔류 응력 및 박막 측정가능

D8 고니오미터

독립 스테퍼 모터와 광학 인코더가 있는 2원 고니오미터

브루커의 차별환된 얼라인먼트 보증으로 탁월한 정확성과 정밀도

수명 윤활이 있는 절대유지보수 프리 드라이브 메커니즘/기어링

비상온

온도: ~85K에서 ~2500K까지

압력: 10-⁴ mbar up to 10 bar

습도: 5% ~ 95% RH

상온 및 비상온 조건에 따른 조사

DIFFRAC.DAVINCI와 쉽게 스테이지를 교환할 수 있습니다.

부속품

XRD Components

XRD Components

Bruker XRD solutions consist of high performance components configured to meet the analytical requirements. The modular design is the key to configure the best instrumentation.

All categories of components are part of Bruker’s key competence, developed and manufactured by Bruker AXS, or in close cooperation with third party vendors.

Bruker XRD components are available for upgrading the installed X-ray systems for improving their performance.

소프트웨어

PLAN.MEASURE.ANALYZE with DIFFRAC.SUITE

DIFFRAC.SUITE Software

DIFFRAC.SUITE™ offers a wide range of software modules for easy X-ray powder diffraction data acquisition and evaluation. Based on Microsoft's .NET technology, DIFFRAC.SUITE offers all the advantages of modern software technology for stability, maximum ease of use and networking.

The fully customizable user-interface is characterized by a plug-in framework, providing a common look, feel and operation. All measurement and evaluation software modules can be operated as individual applications or integrated together in DIFFRAC.SUITE's plug-in framework. Unlimited networking allows access and control of any number of D2 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER and D8 ENDEAVOR diffractometers within a customer's network.

Measurement Software:
WIZARD – Method planning
COMMANDER – Method execution and direct measurements
TOOLS – Service Interface
Powder Diffraction Software:
DQUANT – Quantitative phase analysis
EVA – Phase identification and quantitative phase analysis
TOPAS – Profile analysis, quantitative analysis, structure analysis

Materials Research Software:
SAXS – Small Angle X-ray Scattering software
XRR – Comprehensive X-ray reflectometry analysis
TEXTURE – All-round Texture analysis meets ease-of-use
LEPTOS – Thin film analysis/Residual stress investigation

웨비나

지원

서비스 및 지원

우리는 다음을 제공합니다.

  • 고도로 숙련된 문제 해결 전문가의 헬프 데스크 지원, 하드 및 소프트웨어 문제 격리 및 해결
  • 서비스 진단 및 애플리케이션 지원을 위한 웹 기반 원격 계측기 서비스
  • 병합 된 현실 지원 – 당신의 측면에 가상 엔지니어 (비디오)
  • 귀하의 요구 사항에 따라 계획된 유지 보수
  • 고객 현장 수리 및 유지 보수 서비스
  • 예비 부품 가용성은 일반적으로 밤 또는 전 세계 며칠 근무일 이내에 제공됩니다.
  • 설치 자격, 운영 자격 /성능 검증을 위한 규정 준수 서비스
  • 사이트 계획 및 이전
  • 다음 교육 과정 찾기

다음을 위해 지원 웹 사이트를 확인하십시오.

  • 소프트웨어 업데이트
  • 제품 매뉴얼 및 설치 가이드
  • 교육 동영상

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