X선 회절분석기(XRD)

D8 DISCOVER

가장 다재다능하고 유연한 XRD 솔루션 산업 및 학계의 연구, 개발 및 품질 관리의 요구 사항을 완벽하게 일치합니다.

XRD 최고의 성능

HerostageD8DISCOVER

하이라이트

광자 /mm²
고휘도 X선 소스
IμS 마이크로포커스 X선 소스와 B-TXS High-Brillliance Turbo X-ray Souce HB-TXS와 같은 뛰어난 X선 소스.
300mm
최대 샘플 크기
넓은 인클로저는 최대 300mm 직경의 대형 샘플을 가능하게 합니다.
50kg
최대 샘플 중량
당사의 고유한 UMC 샘플 단계는 최대 샘플 용량을 지원합니다.

D8 DISCOVER는 선도적인 기술 구성 요소를 제공하는 주력 다목적 X선 회절분석기입니다. 분말, 무정형 및 다결정 재료에서 상온 및 비 상온 조건에서 에필택셜 다층 박막에 이르기까지 다양한 재료의 구조적 특성화를 위해 설계되었습니다.

응용 프로그램:

  • 상 식별 및 정량화, 구조 결정 및 정제, 마이크로 스트레인 및 결정문 크기 분석,
  • X선 반사율, 방목 발생률 회절 (GID), 비행기 내 회절, 고분해능 XRD, GISAXS, GI 응력 분석, 결정 방향 분석
  • 잔류 응력 분석, 텍스처 및 극 피규어, 마이크로 X선 회절, 광각 X선 산란(WAXS)
  • 총 산란 분석: 브래그 회절, 쌍 분배 기능(PDF), 소각 X선 산란(SAXS)

특징

주요 기능

D8 DISCOVER 기능

마이크로포커스 소스 IμS

MONTEL 옵틱 기능이 장착된 IμS 마이크로포커스 소스는 작은 영역이나 샘플 조사에 완벽하게 적합한 작은 고강도 X-선 빔을 제공합니다.

  • 높은 광채와 초저배경의 밀리미터 크기의 빔
  • 낮은 전력 소비, 물 소비 및 확장된 수명 구성 요소와 친환경 설계
  • 빔 모양과 발산을 최적화하는 MONTEL 옵틱
  • 다양한 구성 요소, 옵틱 및 검출기와 완벽한 호환성을 제공합니다.

D8 DISCOVER 기능

UMC 샘플 단계

D8 DISCOVER는 탁월한 매핑 및 무게 용량을 갖춘 수 많은 UMC 단계를 제공합니다.

  • 최대 5kg의 무게로 샘플 매핑
  • 최대 300mm 크기의 샘플의 넓은 면적 매핑.
  • 최대 3개의 웰 플레이트를 지원하는 하이 처리량 스크리닝(HTS)을 위한 UMC 단계.

높은 모듈성으로 인해 UMC 단계는 표준 구성을 초과하는 고객 요구 사항에 맞게 사용자 지정할 수 있습니다.

D8 DISCOVER 기능

다중 모드 EIGER2 R 감지기

EIGER2 R 250K 및 500K는 실험실 X- 선 회절에 싱크로트론 성능을 제공하는 2D 검출기입니다.

  •  2 세대 혁신적인 EIGER를 포함한 고급 센서 설계 : 75 x 75 mm² 크기의 최대 500.000 픽셀은 현미경 해상도의 거시적 커버리지를 허용합니다.
  • 인체 공학적 설계를 통해 응용 프로그램 요구 사항에 최소한의 노력으로 검출기 위치와 방향을 조정할 수 있습니다. 여기에는 도구가 필요없는 0°/90° 방향 전환과 자동 교정을 갖춘 연속변수 검출기 위치가 포함됩니다.
  • 시야를 가리지 않는 파노라마 옵틱 및 액세서리.
  • 스냅-샷, 스텝, 연속 또는 고급 스캐닝 모드가 있는 0D, 1D 및 2D 작동 모드.
  • DIFFRAC.SUITE에 완벽하고 원활하게 통합됩니다.
D8 DISCOVER 기능

TRIO와 PATHFINDER PLUS 옵틱

특허받은 TRIO 옵틱을 통해 세 개의 빔패스 간에 자동 스위칭할 수 있습니다.

  • 파우더를 위한 Bragg-Brentano 초점
  • capillary, GID 및 XRR용 고강도 병렬 빔 Kα1,2
  • 에피택셜 박막용 고분해능 병렬 빔 Kα1 형상

PATHFINDERPlus 옵틱에는 측정된 강도의 선형성을 보장하기 위해 자동화된 흡수장치가 포함되어 있으며 다음 사이를 전환할 수 있습니다.

  • 높은 플럭스 측정을 위한 전동 슬릿
  • 고해상도 측정을 위한 분석기 결정

TRIO와 PATHFINDERPlus 를 갖춘 D8 DISCOVER는 재구성없이 상온 또는 비 상온 조건에서 분말, 벌크, 섬유, 시트 및 박막 (무정형, 다결정 및 상실)을 포함한 모든 샘플 유형을 마스터합니다.

응용

X선 회절 프리미엄 교육

D8 DISCOVER 애플리케이션

박막 분석

X-Ray 회절(XRD) 및 반사는 얇은 층 구조화된 샘플의 비파괴 특성화에서 지배적인 역할을 합니다. D8 DISCOVER 및 DIFFRAC.SUITE 소프트웨어는 박막 분석에서 일반적인 XRD 방법의 간단한 실행을 지원합니다.

  • 결정상의 표면에 민감한 식별을 위한 방목 발생 회절(GID)과 결정화 크기 및 변형을 포함한 구조적 특성의 결정.
  • 간단한 기판에서 매우 복잡한 중대계 구조에 이르기까지 다층 샘플의 두께, 재료 밀도 및 인터페이스 구조를 추출하기 위한 X선 반사량(XRR).
  • 상피 재배 시료 구조의 분석을 위한 고해상도 X선 회절(HRXRD): 층 두께, 스트레인, 이완, 모사이시티, 혼합 결정의 조성 분석.
  • 응력 및 텍스처(기본 방향) 분석
D8 DISCOVER 애플리케이션

재료 연구

XRD는 재료의 구조적 및 물리적 특성을 연결할 수 있으므로 재료 연구에서 가장 중요한 도구 중 하나입니다. D8 DISCOVER는 재료 연구를 위한 주력 XRD 기기입니다. 선도적인 기술 구성 요소를 갖춘 D8 DISCOVER는 최고의 성능과 완전한 유연성을 제공하며 연구원이 소재의 상세한 특성을 구현할 수 있도록 합니다.

  • 상 식별 및 구조 결정
  • 미크론 균주 및 결정문 크기 분석
  • 응력 및 텍스처 분석
  • 파티클 크기 및 분포의 결정.
  • μm 크기의 X선 빔을 이용한 로컬 XRD 분석
  • 상호 공간 매핑
D8 DISCOVER 애플리케이션

스크리닝 및 넓은 영역 매핑

D8 DISCOVER는 높은 처리량 스크리닝(HTS) 및 샘플에 대한 넓은 영역매핑에 있어 궁극적인 솔루션입니다. UMC 샘플 단계는 D8 DISCOVER를 동력 번역 및 중량 용량 모두에서 자체 클래스로 만드는 다양한 모션을 제공합니다.

  • 반사 및 전송 모두에서 웰 플레이트 및 증착 시료의 하이트 처리량 스크리닝(HTS)
  • 최대 300mm 크기의 샘플 매핑
  • 최대 5kg의 무게로 시료 장착 및 매핑
  • 자동화 상호 작용

사양

D8 DISCOVER 사양

  사양 혜택
TWIST-TUBE

포인트와 라인 포커스 간의 간편한 전환

사용 가능한 양극: Cr, Cu, Mo, Ag

최대 출력 및 필라멘트: 양극 재료에 따라 최대 3kW (0,4 x 16 mm²)

특허: EP 1 923 900 B1

파장의 빠른 변화는 완벽하게 다른 응용 프로그램과 일치

더 넓은 범위의 애플리케이션을 위해 라인과 포인트 포커스 사이를 가장 빠르게 전환하고 더 짧은 시간에 더 나은 결과를 초래합니다.

IμS 마이크로포커스 소스

전력 부하: 최대 50W, 단상 전력

MONTEL과 MONTEL Plus 옵틱은 평행과 초점 거울을 결합.

빔 크기는 180 x 180 μm²입니다.

미러 출구에서 최대 통합 플럭스 8 x 10⁸ cps.

빔 발산은 0,5mrad까지

높은 광채와 초저배경의 밀리미터 크기의 빔

낮은 전력 소비, 물 소비 및 확장 된 수명 구성 요소와 친환경 설계

최상의 결과를 위해 빔 모양과 발산 최적화

 

터보 X선 소스 (TXS)

라인 포커스, 0.3x3 mm²

6 kW / mm²의 초점 폭주

양극 재료 : Cu, Co, Cr, Mo

최대 전압 50 kV, 양극 재료에 따라 최대 출력: Cr 3.2 kW, Cu/Mo 5.4 kW, Co 2,8 kW

사전 정렬된 텅스텐 필라멘트

표준 세라믹 X선 소스에 비해 최대 5배 더 많은 강도.

라인 및 스팟 포커스 애플리케이션에 적합

사전 정렬된 필라멘트는 최소 한번의 재정렬 요구 사항으로 빠른 필라멘트 교환을 허용합니다.

TRIO 옵틱

소프트웨어 푸시 버튼 스위치 사이:

전동 발산 슬릿 (브래그-브렌타노)

고강도 Ka1,2 병렬 빔

고해상도 Ka1 병렬 빔

특허: US10429326, US665372, US7983389

수동 사용자 개입 없이 최대 6개의 서로 다른 빔 형상 간에 완전 자동 전동 전환

분말, 벌크 재료, 섬유, 시트 및 박막 (무정형, 다형성 및 상종)을 포함한 모든 샘플 유형에 완벽하게 적합합니다.

고해상도 모노크로매터

대칭 및 비대칭 형상의 Ge(220) 및 Ge(004) 반사

2 바운스 및 4 바운스(바텔 타입) 단색

SNAP를 통한 정렬 프리 마운팅. LOCK 기술

최상의 결과를 얻기 위해 최상의 해상도 와 강도 균형에 대한 광범위한 선택.

다양한 샘플에 최적화하기 위한 단색소로마의 빠른 교환

D8 고니오미터 독립 스테퍼 모터와 옵틱 인코더가 있는 2원 고니오미터

브루커의 독특한 얼라인먼트 보증으로 탁월한 정확성과 정밀도

수명 윤활이 가능한 유지보수가 필요없는 구동 메커니즘/기어링

UMC 스테이지

샘플 단계의 가족

x,y 최대 +/- 150mm의 샘플 번역용

최대 50mm의 이동을 가진 z 드라이브

무한 회전을 가진 피 드라이브

최대 55°

최대 중량 (중심 위치) : 50kg

샘플 무게와 크기에 있어 독보적인 용량

맞춤형 대형 샘플 챔버 구현 가능

Centric Eulerian Cradle(CEC)

자유 샘플 스테이지 5도:

x,y +/-40mm의 샘플 번역용

높이 정렬용 z 드라이브

360° 회전을 갖춘 피 드라이브

Psi 드라이브 및 각 범위 -11° ~ 98°

최대 중량 부하: 1kg

다양한 무대 애착을 사용할 수 있습니다.

높은 정확도 결과를 위해 측면 경사로 응력 및 텍스처 측정을 합니다.

(x,y)에서 자동화 된 매핑 기능.

정확한 표면 정렬을 위한 전동 틸트 스테이지.

분말 또는 모세관 스피너는 분말 회절을 허용합니다.

다른 단계와 빠르고 재현 가능한 스와핑을 위한 Bayonette 샘플 스테이지 홀더.

Pathfinder Plus 옵틱

소프트웨어 푸시 버튼 스위치 사이:

전동 슬릿

2 바운스 Ge 분석기

자동 흡수기 통합

수동 사용자의 개입 없이 두 개의 서로 다른 광학 간에 완전 자동 전동 전환.

LYNXEYE 검출기의 전체 시야를 유지합니다.

부속품

XRD Components

XRD Components

Bruker XRD solutions consist of high performance components configured to meet the analytical requirements. The modular design is the key to configure the best instrumentation.

All categories of components are part of Bruker’s key competence, developed and manufactured by Bruker AXS, or in close cooperation with third party vendors.

Bruker XRD components are available for upgrading the installed X-ray systems for improving their performance.

웨비나

추가 정보

D8 관련자료 검색

지원

서비스 및 지원

우리는 다음을 제공합니다.

  • 고도로 숙련된 문제 해결 전문가의 헬프 데스크 지원, 하드 및 소프트웨어 문제 격리 및 해결
  • 서비스 진단 및 애플리케이션 지원을 위한 웹 기반 원격 계측기 서비스
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  • 귀하의 요구 사항에 따라 계획된 유지 보수
  • 고객 현장 수리 및 유지 보수 서비스
  • 예비 부품 가용성은 일반적으로 밤 또는 전 세계 며칠 근무일 이내에 제공됩니다.
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