X선 형광분석기 (XRF)

XRF의 작동원리

샘플은 엑스레이로 포격됩니다. 이것은 X 선 형광을 생성하기 위하여 견본을 흥분시킵니다. X선은 주로 내부 원자 껍질 K와 L에서 원소의 원자에서 개별 전자를 "촬영"합니다. 그 결과 공석은 더 높은 에너지 껍질의 전자에 의해 다시 채워져 있습니다.

이 전자의 과잉 에너지는 그 때 엑스레이 형광 방사선의 형태로 방출됩니다. 이 방사선은 지문과 같은 각 요소에 대한 특징이며 원자의 화학 결합과 무관합니다. 방사선의 강도는 시료의 요소의 농도에 비례한다.

S8 TIGER와 파장 분산 X선 형광 (WDXRF)

파장 분산 X선 형광(WDXRF)의 경우 각 소자는 최적의 측정 조건하에서 분석된다.

이를 위해 측정 파라미터의 개별 조합은 농도 범위에 해당하고 라인 중복을 방지하기 위해 설정됩니다.

X선 소스 와 1차 방사선 필터는 샘플의 각 요소가 최적으로 흥분된다는 것을 보장합니다.

마스크는 샘플 컵과 같은 원치 않는 신호를 잘라냅니다.

진공 씰은 샘플 챔버를 고니오미터 챔버에서 분리합니다. 적재 하는 동안 씰이 닫혀 있고 곤니미터 챔버는 진공 상태입니다. 따라서 시료 챔버의 소량만 고형물을 위해 대피하거나 액체에 대한 헬륨으로 플러시되어야 합니다. 액체를 측정하는 동안 진공 씰은 유출 시 부품을 보호하기 위해 닫혀 유지되어 헬륨을 안전하게 보호하며 안정성을 향상시킵니다.

콜리메이터는 해상도를 개선하는 데 사용됩니다.

분석기 결정은 중요한 역할을 합니다. 그들은 여러 주파수 형광 스펙트럼을 원소의 특정 파장에 분해합니다. 이 신호 분리는 WDXRF의 뛰어난 해상도와 감도에 매우 중요합니다.

그리고 마지막으로, 검출기: 광원원 검출을 위해 비례 카운터와 무거운 원소에 대해 신경방지 카운터가 사용된다. 두 검출기 모두 각각의 에너지 범위에 완벽하게 적합합니다.

S2 PUMA의 하이센스™ 빔 경로

하이센스TM 기술을 갖춘 S2 PUMA는 50W 엔드 윈도우 X선 튜브를 사용하여 샘플에서 X 선 형광을 직접 자극합니다.

X선 튜브의 고전압을 설정하고 필터 재료를 선택함으로써 에너지 범위가 선택됩니다.

멀티 채널 분석기를 갖춘 실리콘 드리프트 검출기는 X선 형광 방사선을 감지하고 카운트를 축적하여 샘플의 강도 대 에너지 스펙트럼을 형성합니다.

저에너지 형광을 가진 가벼운 원소는 헬륨으로 시료 챔버를 플러시하거나 진공 펌프로 대피함으로써 분석됩니다.