X 射线荧光光谱仪 (XRF)

X射线荧光光谱仪是如何工作的?

用原级X射线轰击样品,从而激发样品产生X射线荧光。X射线将电子(主要是原子内层的K层和L层电子)逐出原子,由此产生的空位,会被高能级的外层电子填补。

这些电子的多余能量会以X射线荧光辐射的形式发射出去。每个元素都会产生特征辐射,而且与原子的化学键无关。其辐射强度与样品中元素的含量成正比。

S8 TIGER的波长色散X射线荧光分析(WDXRF)

在进行波长色散型X射线荧光(WDXRF)分析时,每一种元素都是在最佳条件下进行分析的。

因此,应根据含量范围设置单独的测量参数,并防止谱线重叠:

WDXRF

X射线光管和初级光路滤光片可确保样品中的每个元素均得到最佳激发。

面罩可滤除多余的信号,例如来自样品杯的信号。

真空封档隔离样品室和光谱室。在装样期间,真空封档关闭,光谱室保持真空状态。对于固体样品,仅需对小容量的样品室抽真空,对于液体样品,则冲氦气。测量液体样品时,真空封档保持关闭状态,以节省氦气,提高测量稳定性,如液体渗漏可保护组件。

准直器用于提高分辨率。

分光晶体起关键作用。它可将多波长的荧光光谱分离为元素的特征波长。这种信号分离对于保持WDXRF出色的分辨率和灵敏度而言,至关重要。

最后是探测器:采用流气计数器检测轻元素,闪烁计数器检测重元素。两个探测器都非常适合各自的能量范围。

S2 PUMA的HighSense™光路

采用HighSense™技术的S2 PUMA使用50W端窗X射线管直接激发样品中的X射线荧光。

通过设置X射线光管高压和选择滤光片,可以选择能量范围。

带有多通道分析器的硅漂移探测器,可检测X射线荧光辐射并累积计数,形成样品的X射线荧光强度与能量的光谱图。

采用氦气冲刷样品室或采用真空泵抽真空,可以分析轻元素的低能量荧光​​。