Stylus Banner 1154x400

스타일러스 프로파일러

Dektak® 스타일러스 프로파일러는 Bruker 40년에 걸쳐 쌓아온 독점 기술의 산물입니다. 프로파일러는 기존의 2D 조도 표면 특성화, 단차 측정, 고급 3D 매핑과 박막 응력 분석 다양한 표면에 대해 반복 가능하고 정확한 측정을 제공합니다.

 

Dektak 표면 프로파일러는 교육 연구 검증, 반도체 공정 제어 다양한 적용 분야에서 박막 두께, 응력, 표면 조도와 형태 측정을 위한 우수한 솔루션으로 널리 인정받고 있습니다. Dektak 시스템은 점점 성장하고 있는 태양 전지 시장에서 우수한 특성화 도구로 평가받으면서 여러 주요 광기전 태양 전지 제조업체들이 사용하고 있습니다.

Dektak X Tproduct

DektakXT

데스크용 스타일러스 단차측정기

Bruker DektakXT® 스타일러스 프로파일러는 4옹스트롬의 반복성을 가능하게 하는 혁신적인 디자인을 특징으로 합니다스타일러스 프로파일러 성능에서의 획기적인 변화는 40년에 걸친 Dektak® 혁신과 업계 리더십의 정점입니다. 새로운 기능이 탑재된 DektakXT R&D에서부터 QC까지 개선된 공정 모니터링을 통해 가치와 성능, 놀라운 사용 편의성을 제공합니다. Dektak 적용된 혁신 기술은 마이크로 전자장치와 반도체, 태양열, 고휘도 LED, 의료 재료 과학 산업 분야에서 나노미터 수준의 표면 측정을 실현합니다.

Dektak X T Lproduct

Dektak XTL

300mm 영역 측정 가능한 최적화된 QA/QC 프로파일러

Dektak XTL 스타일러스 프로파일러는 다양한 응용 분야에 매우 정확하고 반복 가능하며, 재현 가능한 계측을 제공합니다. 최대 350mm x 350mm크기의 시료를 계측할 있으며, 마침내 200mm 300mm 웨이퍼 제조라는 놀라운 Dektak 성능을 실현합니다. Dektak XTL 연동 도어를 포함한 통합 분리 기능을 갖추고 있어 오늘날의 까다로운 생산 작업장 환경에 이상적입니다. 듀얼 카메라 아키텍처는 개선된 공간 인식을 가능하게 하여, 높은 수준의 자동화로 제조 처리량을 향상시킵니다.