Série SEM PicoIndenter

Hysitron PI 85E

Instrumento de teste nanomecânico in situ de alcance estendido para microscópios eletrônicos de varredura
Instrumento de Teste Nanomecânico In-Situ

Hysitron PI 85E SEM PicoIndenter

O Hysitron PI 85E SEM PicoIndenter amplia o alcance de seus testes mecânicos in-situ, preenchendo a lacuna entre a caracterização em nanoescala e microescala. Este sistema de teste nanomecânico com detecção de profundidade foi projetado especificamente para aproveitar os recursos avançados de imagem dos microscópios eletrônicos de varredura (SEM, FIB/SEM, PFIB) ao mesmo tempo em que realiza testes nanomecânicos quantitativos. Sua faixa de força estendida permite que os pesquisadores testem com precisão estruturas dimensionalmente grandes e/ou duras que exigem cargas maiores para induzir falhas e/ou fraturas. O instrumento PI 85E oferece testes de indentação, compressão, tensão e fadiga em todo o espectro de materiais (de metais e ligas a cerâmicas, compósitos e materiais semicondutores). A arquitetura compacta e discreta do PI 85E o torna ideal para SEMs de pequena câmara, microscópios Raman e ópticos, linhas de luz e muito mais.

Modular
conjunto de técnicas de teste principais
Suporta nanoindentação, compressão, tensão, fadiga, PTP, E-PTP e caracterização elétrica.
Essencial
acessório SEM
Permite medições confiáveis por técnicos e operadores em instalações multiusuário.
Estendida
alcance de força
Fornece recursos de deslocamento de carga alta e baixa para testar amostras de alta resistência e alta conformidade.

Nanoindentação: Teste Mecânico In-Situ de Alta Precisão

Caracterize dureza, fluência, relaxamento de tensão, módulo de elasticidade e resistência à fratura de características próximas à superfície, interfaces, microestruturas localizadas e filmes finos.

Exploração do comportamento com alcance estendido

Deformation of carbon nanotube (CNT) structure.

Hysitron PI 85E incorpora uma variedade de modos de teste para caracterizar propriedades mecânicas fundamentais, comportamento de tensão-deformação, rigidez, tenacidade à fratura e mecanismos de deformação em uma ampla gama de amostras. Além do transdutor de teste padrão da indústria da Bruker, o PI 85E oferece capacidades de carga mais alta (250 mN) e deslocamento maior (150 µm). O transdutor de alta largura de banda e a flexão com eletrônica de controle avançada otimizam totalmente os testes de amostra em grande escala e oferecem desempenho e sensibilidade excepcionais.

Caracterização de Nanoestruturas Unidimensionais, Bidimensionais e Tridimensionais

Deformation of ZnO nanowire mounted on E-PTP.

O sistema Hysitron PI 85E usa dispositivos patenteados Push-to-Pull (PTP) para caracterizar estruturas unidimensionais, como nanofios e nanotubos, e estruturas bidimensionais, como filmes finos independentes. Essas estruturas também podem ser caracterizadas eletricamente com os dispositivos elétricos Push-to-Pull opcionais do instrumento. A maior faixa de deslocamento do PI 85E também é ideal para testar a deformação de treliças tridimensionais para maiores deformações.

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