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Espectrômetros FT-IR VERTEX 80/80v

Os espectrômetros a vácuo FT-IR VERTEX 80 e o VERTEX 80v baseiam-se nos interferômetros ativamente alinhados UltraScan™, que proporcionam resolução espectral de picos. O scanner linear com rolamento pneumático e as lentes de qualidade MÁXIMA garantem sensibilidade e estabilidade máxima. GO VERTEX 80v é um banco óptico selado que pode eliminar as absorções de umidade da atmosfera para máxima sensibilidade e estabilidade, possibilitando experiências complexas como alta resolução, varredura ultra-rápida, método step-scan ou medições de faixa espectral.  

O design das lentes do VERTEX 80/80v oferecem flexibilidade MÁXIMA e, ao mesmo tempo, desempenho MÁXIMO do instrumento. A tecnologia exclusiva das lentes Bruker DigiTect™ previnem contra distúrbios de sinais externos, garantem uma relação MÁXIMA sinal/ruído e permitem uma troca de detector fácil e reproduzível pelo usuário do instrumento. As duas portas opcionais externas do detector acomodam o He líquido em frascos dewar de bolômetro e/ou detectores de elétrons. Em conjunto com a fonte externa de alimentação de arco de mercúrio refrigerada à água, a faixa espectral Terahertz recentemente redescoberta está acessível mesmo com um detector DTGS operado em temperatura ambiente.

Extensão de faixa espectral

O VERTEX 80/80v pode ser opcionalmente equipado com componentes ópticos com uma abrangência espectral desde o infravermelho distante, ou Terahertz, passando pelo infravermelho médio, próximo e visível até a faixa espectral ultravioleta. Com seus componentes ópticos pré-alinhados e o interferômetro UltraScan™ ativamente alinhado, as mudanças de faixa e manutenção são feitas de maneira simples.

NOVIDADE: A Bruker Optics introduziu uma opção nova e exclusiva de troca do divisor de feixe BMS-c para o espectrômetro a vácuo VERTEX 80v. Desta forma, tornou-se possível a troca automática e remotamente controlada de até quatro tipos diferentes de divisores de feixe em condições de vácuo. Assim, toda a faixa espectral desde UV/VIS até o IR/THz distante pode ser medida sem a necessidade de ventilar o banco óptico para a troca manual do divisor de feixe.

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[Bitte nach "Portuguese" übersetzen:] NEW: Bruker has extended the available range of beamsplitters by a new broad band far IR/THz beamsplitter for the VERTEX 80/80v FTIR spectrometer series. In particular for research and development of semiconducting and additional inorganic materials the new far IR solid state beamsplitter will provide additional values because it covers nominally the spectral range from above 900 cm-1 to appr. 5 cm-1 in one measurement and connects the mid IR with the very long wave FIR/THz wavelength ranges.

Resolução óptica

A configuração padrão do VERTEX 80 e VERTEX 80v proporciona uma resolução espectral apodizada de 0,2 cm-1, suficiente para a maioria dos estudos de fase gasosa em ambientes de pressão e medições de amostra em temperatura ambiente. Para trabalhos avançados sob baixa temperatura como, por exemplo, em materiais cristalinos semicondutores ou medições de fase gasosa em baixa temperatura, a resolução de picos disponível é de 0,06 cm-1. Esta é a resolução espectral máxima alcançada no uso de um espectrômetro FT-IR de bancada. Espectros de alta resolução na faixa espectral visível demonstram um poder de resolução (número de ondas ν dividido pela resolução espectral ∆ν) de mais de 300.000:1.

Versatilidade

O design inovador do conjunto óptico resulta no espectrômetro a vácuo FT-IR de P&D mais flexível e expansível no mercado. Com o banco óptico sem ar, é possível obter sensibilidade de picos nas regiões do infravermelho distante, médio e próximo sem o temor de mascarar pequenos traços espectrais pela absorção de vapor de água. Com o espectrômetro a vácuo FT-IR VERTEX 80v é possível obter resultados excelentes como, por exemplo, na área de pesquisa da nanociência a menos de 10-3 monocamadas. As limitações relativas à flexibilidade são virtualmente inexistentes. Existem cinco portas de saída de feixe à direita, esquerda e na frente e duas portas de entrada de feixe à direita e na traseira do banco óptico. Tudo isso permite conexão simultânea de, por exemplo, uma fonte de luz usando a porta de entrada no lado traseiro, o acessório de modulação de polarização PMA50 no feixe da saída no lado direito, um acoplamento de fibra óptica na porta do lado frontal, um detector de bolômetro à esquerda e o microscópio FT-IR da linha HYPERION no feixe da saída do lado esquerdo.

A linha VERTEX 80 apresenta os instrumentos ideais para aplicações de pesquisa e desenvolvimento.

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As tecnologias usadas são protegidas por uma ou mais das seguintes patentes:
US 7034944; US 5923422

Acessórios, fontes e detetores externos

Os espetrómetros VERTEX 80/80v estão equipados com cinco portas de saída de feixe e duas portas de entrada de feixe e oferecem a possibilidade de os conectar, por exemplo, a fontes externas de luz de sincrotrão e de laser. Adicionalmente, a ótica dos espetrómetros pode ser facilmente atualizada com detetores, fontes e acessórios de medição externos. Estes incluem:

  • Acessórios de modulação de polarização PMA 50 para VCD e PM-IRRAS
  • Módulo de fotoluminescência PL II
  • Módulo FT-Raman RAM II e o microscópio FT-Raman RamanScope III
  • Acoplamento TGA-FT-IR
  • Microscópio FTIR da série HYPERION
  • Sistema de formação de imagens FTIR HYPERION 3000
  • Extensão de triagem de alto rendimento HTS-XT
  • Acessórios de formação de imagens macro matriz de plano focal IMAC
  • Compartimento de amostras externo XSA, evacuável ou purgável
  • Adaptação de câmara UHV estanque de vácuo externa
  • Unidade de medição PL/PT/PR de vácuo
  • Crióstatos de baixa temperatura isentos de líquido criogénico ou hélio líquido
  • Unidade de acoplamento de fibra ótica com sondas MIR ou NIR para sólidos e líquidos
  • Esferas de integração de grande dimensão
  • Amostradores automáticos
  • Fonte externa FIR Hg
  • Gama ampla e exclusiva de detetores MIR-FIR
  • Separador de feixe THz / IV longínquo de estado sólido
  • Adaptador de emissão externo
  • Fonte MIR externa de alto desempenho
  • Fonte VIS externa de alto desempenho
  • Câmara de deteção de vácuo externa com 4 posições (para ótica de vácuo)
  • Adaptação de bolómetro para deteção na gama FIR
  • Unidade de troca automática de separador de feixe (BMS-c) (para ótica de vácuo)

Os espetrómetros VERTEX 80 e VERTEX 80v são instrumentos de investigação sofisticados da série VERTEX. O inovador design conferido à ótica resulta nos mais eficientes espetrómetros de purga e vácuo de bancada disponíveis. Estes oferecem a maior gama espetral, desde a região UV/VIS (50000 cm-1) à região FIR/THz (5 cm-1), a mais alta resolução espetral e temporal e um nível de flexibilidade incomparável. Juntamente com a tecnologia PEAK, os versáteis sistemas VERTEX 80/80v são a solução ideal para todas as aplicações de investigação sofisticadas.

Investigação e desenvolvimento

  • Tecnologia contínua e Step Scan para espetroscopia de modulação de amplitude/fase
  • Tecnologia Rapid, interleaved e Step Scan para experiências com alta resolução temporaln (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • Caracterização de materiais microscópicos com arranjo periódico, conhecidos como metamateriais
  • Espetroscopia de alta resolução para análises de gases com resoluções superiores a 0,06 cm-1
  • Instrumentação para instalações de linha de luz FTIR de vácuo
  • Métodos de paragem de fluxo para experiências de catálise enzimática
  • Adaptação externa para câmaras de medição de vácuo ultra-alto
  • Espetroeletroquímica para a investigação in-situ de superfícies de elétrodos e eletrólitos

Farmácia

  • Determinação da configuração absoluta de moléculas (VCD)
  • Caracterização de estabilidade e matéria volátil de medicamentos através da análise térmica (TGA-FTIR)
  • Diferenciação de polimorfos de princípios ativos farmacêuticos na região de infravermelho longínquo

Polímeros e química

  • Identificação de fillers de polímeros em compostos de polímeros na região de infravermelho longínquo
  • Estudos dinâmicos e reo-óticos de polímeros
  • Determinação de compostos voláteis e caracterização de processos de decomposição através da análise térmica (TGA-FTIR)
  • <limonitorização e="" controlo="" reações="" (sonda="" de="" fibra="" mir)<="" li="">

    • dentificação de pigmentos e minerais inorgânicos

    </limonitorização>

Análise de superfícies

  • Deteção e caracterização de camadas finas e monocamadas
  • Análise de superfícies combinada com a modulação de polarização (PM-IRRAS)

Ciência dos materiais

  • Caracterização de materiais óticos e altamente refletivos (janelas, espelhos)
  • Investigação de materiais escuros e perfis de profundidade através da espetroscopia fotoacústica (PAS)
  • Caracterização do comportamento de emissão de materiais

Semicondutores

  • Determinação do teor de carbono e oxigénio em wafers de silício
  • Medições de baixa temperatura de fotoluminescência (PL) e transmitância de impurezas superficiais para controlo de qualidade