Espectrômetros FT-IR VERTEX 80/80v

Os espectrômetros a vácuo FT-IR VERTEX 80 e o VERTEX 80v baseiam-se nos interferômetros ativamente alinhados UltraScan™, que proporcionam resolução espectral de picos. O scanner linear com rolamento pneumático e as lentes de qualidade MÁXIMA garantem sensibilidade e estabilidade máxima. GO VERTEX 80v é um banco óptico selado que pode eliminar as absorções de umidade da atmosfera para máxima sensibilidade e estabilidade, possibilitando experiências complexas como alta resolução, varredura ultra-rápida, método step-scan ou medições de faixa espectral.  

O design das lentes do VERTEX 80/80v oferecem flexibilidade MÁXIMA e, ao mesmo tempo, desempenho MÁXIMO do instrumento. A tecnologia exclusiva das lentes Bruker DigiTect™ previnem contra distúrbios de sinais externos, garantem uma relação MÁXIMA sinal/ruído e permitem uma troca de detector fácil e reproduzível pelo usuário do instrumento. As duas portas opcionais externas do detector acomodam o He líquido em frascos dewar de bolômetro e/ou detectores de elétrons. Em conjunto com a fonte externa de alimentação de arco de mercúrio refrigerada à água, a faixa espectral Terahertz recentemente redescoberta está acessível mesmo com um detector DTGS operado em temperatura ambiente.

Extensão de faixa espectral

O VERTEX 80/80v pode ser opcionalmente equipado com componentes ópticos com uma abrangência espectral desde o infravermelho distante, ou Terahertz, passando pelo infravermelho médio, próximo e visível até a faixa espectral ultravioleta. Com seus componentes ópticos pré-alinhados e o interferômetro UltraScan™ ativamente alinhado, as mudanças de faixa e manutenção são feitas de maneira simples.

NOVIDADE:a Bruker alargou a gama de separadores de feixes disponível com um novo separador de feixes THz/IV longínquo de banda larga para a série de espetrómetros FTIR VERTEX 80/80v. Especialmente para a investigação e desenvolvimento de materiais semicondutores e inorgânicos adicionais, o novo separador de feixes IV de estado sólido longínquo irá fornecer valores adicionais, uma vez que cobre nominalmente a gama espetral desde acima dos 900 cm^-1 até aprox. 5 cm^-1 numa medição e liga o IV médio às gamas de comprimento de onda FIR/THz muito longas.

Resolução óptica

A configuração padrão do VERTEX 80 e VERTEX 80v proporciona uma resolução espectral apodizada de 0,2 cm-1, suficiente para a maioria dos estudos de fase gasosa em ambientes de pressão e medições de amostra em temperatura ambiente. Para trabalhos avançados sob baixa temperatura como, por exemplo, em materiais cristalinos semicondutores ou medições de fase gasosa em baixa temperatura, a resolução de picos disponível é de 0,06 cm-1. Esta é a resolução espectral máxima alcançada no uso de um espectrômetro FT-IR de bancada. Espectros de alta resolução na faixa espectral visível demonstram um poder de resolução (número de ondas ν dividido pela resolução espectral ∆ν) de mais de 300.000:1.

Versatilidade

O design inovador do conjunto óptico resulta no espectrômetro a vácuo FT-IR de P&D mais flexível e expansível no mercado. Com o banco óptico sem ar, é possível obter sensibilidade de picos nas regiões do infravermelho distante, médio e próximo sem o temor de mascarar pequenos traços espectrais pela absorção de vapor de água. Com o espectrômetro a vácuo FT-IR VERTEX 80v é possível obter resultados excelentes como, por exemplo, na área de pesquisa da nanociência a menos de 10-3 monocamadas. As limitações relativas à flexibilidade são virtualmente inexistentes. Existem cinco portas de saída de feixe à direita, esquerda e na frente e duas portas de entrada de feixe à direita e na traseira do banco óptico. Tudo isso permite conexão simultânea de, por exemplo, uma fonte de luz usando a porta de entrada no lado traseiro, o acessório de modulação de polarização PMA50 no feixe da saída no lado direito, um acoplamento de fibra óptica na porta do lado frontal, um detector de bolômetro à esquerda e o microscópio FT-IR da linha HYPERION no feixe da saída do lado esquerdo.

A linha VERTEX 80 apresenta os instrumentos ideais para aplicações de pesquisa e desenvolvimento.

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As tecnologias usadas são protegidas por uma ou mais das seguintes patentes:
US 7034944; US 5923422