Espectrômetros FT-IR VERTEX 80/80v

Os espectrômetros a vácuo FT-IR VERTEX 80 e o VERTEX 80v baseiam-se nos interferômetros ativamente alinhados UltraScan™, que proporcionam resolução espectral de picos. O scanner linear com rolamento pneumático e as lentes de qualidade MÁXIMA garantem sensibilidade e estabilidade máxima. GO VERTEX 80v é um banco óptico selado que pode eliminar as absorções de umidade da atmosfera para máxima sensibilidade e estabilidade, possibilitando experiências complexas como alta resolução, varredura ultra-rápida, método step-scan ou medições de faixa espectral.  

O design das lentes do VERTEX 80/80v oferecem flexibilidade MÁXIMA e, ao mesmo tempo, desempenho MÁXIMO do instrumento. A tecnologia exclusiva das lentes Bruker DigiTect™ previnem contra distúrbios de sinais externos, garantem uma relação MÁXIMA sinal/ruído e permitem uma troca de detector fácil e reproduzível pelo usuário do instrumento. As duas portas opcionais externas do detector acomodam o He líquido em frascos dewar de bolômetro e/ou detectores de elétrons. Em conjunto com a fonte externa de alimentação de arco de mercúrio refrigerada à água, a faixa espectral Terahertz recentemente redescoberta está acessível mesmo com um detector DTGS operado em temperatura ambiente.

Extensão de faixa espectral

O VERTEX 80/80v pode ser opcionalmente equipado com componentes ópticos com uma abrangência espectral desde o infravermelho distante, ou Terahertz, passando pelo infravermelho médio, próximo e visível até a faixa espectral ultravioleta. Com seus componentes ópticos pré-alinhados e o interferômetro UltraScan™ ativamente alinhado, as mudanças de faixa e manutenção são feitas de maneira simples.

[Bitte nach "Portuguese" übersetzen:] NEW: Bruker has extended the available range of beamsplitters by a new broad band far IR/THz beamsplitter for the VERTEX 80/80v FTIR spectrometer series. In particular for research and development of semiconducting and additional inorganic materials the new far IR solid state beamsplitter will provide additional values because it covers nominally the spectral range from above 900 cm^-1 to appr. 5 cm^-1 in one measurement and connects the mid IR with the very long wave FIR/THz wavelength ranges.

Resolução óptica

A configuração padrão do VERTEX 80 e VERTEX 80v proporciona uma resolução espectral apodizada de 0,2 cm-1, suficiente para a maioria dos estudos de fase gasosa em ambientes de pressão e medições de amostra em temperatura ambiente. Para trabalhos avançados sob baixa temperatura como, por exemplo, em materiais cristalinos semicondutores ou medições de fase gasosa em baixa temperatura, a resolução de picos disponível é de 0,06 cm-1. Esta é a resolução espectral máxima alcançada no uso de um espectrômetro FT-IR de bancada. Espectros de alta resolução na faixa espectral visível demonstram um poder de resolução (número de ondas ν dividido pela resolução espectral ∆ν) de mais de 300.000:1.

Versatilidade

O design inovador do conjunto óptico resulta no espectrômetro a vácuo FT-IR de P&D mais flexível e expansível no mercado. Com o banco óptico sem ar, é possível obter sensibilidade de picos nas regiões do infravermelho distante, médio e próximo sem o temor de mascarar pequenos traços espectrais pela absorção de vapor de água. Com o espectrômetro a vácuo FT-IR VERTEX 80v é possível obter resultados excelentes como, por exemplo, na área de pesquisa da nanociência a menos de 10-3 monocamadas. As limitações relativas à flexibilidade são virtualmente inexistentes. Existem cinco portas de saída de feixe à direita, esquerda e na frente e duas portas de entrada de feixe à direita e na traseira do banco óptico. Tudo isso permite conexão simultânea de, por exemplo, uma fonte de luz usando a porta de entrada no lado traseiro, o acessório de modulação de polarização PMA50 no feixe da saída no lado direito, um acoplamento de fibra óptica na porta do lado frontal, um detector de bolômetro à esquerda e o microscópio FT-IR da linha HYPERION no feixe da saída do lado esquerdo.

A linha VERTEX 80 apresenta os instrumentos ideais para aplicações de pesquisa e desenvolvimento.

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As tecnologias usadas são protegidas por uma ou mais das seguintes patentes:
US 7034944; US 5923422