VERTEX 80/80v

Extensão de faixa espectral

O VERTEX 80/80v pode ser opcionalmente equipado com componentes ópticos para cobrir a faixa espectral desde o ir distante, ou terahertz, através do IR médio e próximo e visível e até a faixa espectral ultravioleta. Com seus componentes ópticos pré-alinhados e o UltraScan ativamente alinhado™ interferômetro, mudança de alcance e manutenção são fáceis.

BMS-c: A Bruker fornece a opção de troca de feixe de alta precisão BMS-c para o espectrômetro de vácuo VERTEX 80v.

Assim, tornou-se possível a troca automática remotamente controlada de até quatro tipos diferentes de feixes em condições de vácuo. Agora, a faixa espectral completa do UV/VIS até o extremo IR/THz pode ser medida sem a necessidade de ventilar o banco de óptica espectrômetro para troca manual de feixes.

NOVO: Bruker ampliou a gama disponível de feixes por uma nova banda larga de longo alcance, para a série espectrômetro VERTEX 80/80v FT-IR. Em particular para pesquisa e desenvolvimento de materiais inorgânicos semicondutores e inorgânicos adicionais, o novo feixe de estado sólido de IR fornecerá valores adicionais porque abrange nominalmente a faixa espectral acima de 900 cm^-1 para a appr. 5 cm^-1 em uma medição e conecta o IR médio com as faixas de comprimento de onda FIR/THz de ondas muito longas.

Resolução óptica

A configuração padrão VERTEX 80 e a VERTEX 80v fornecem resolução espectral apodizada superior a 0,2 cm^-1, o que é suficiente para a maioria dos estudos de fase de gás de pressão ambiente e medições de amostras de temperatura ambiente. Para um trabalho avançado de baixa temperatura, por exemplo, em materiais semicondutores cristalinos ou medidas de fase de gás a uma pressão mais baixa, está disponível uma resolução PEAK superior a 0,06 cm^-1. Esta é a maior resolução espectral alcançada usando um espectrômetro FT-IR de bancada comercial. Espectros de alta resolução na faixa espectral visível demonstram um poder de resolução (número de ondas não dividido por resolução espectral ∆ν) de melhor 300.000:1.

Versatilidade

O design de óptica inovadora resulta no espectrômetro ft-IR de vácuo de P&D mais flexível e expansível disponível. Com o banco de óptica evacuado, a sensibilidade do PICO nas regiões de ir médio, próximo e distante é obtida sem o medo de mascarar características espectrais muito fracas por absorções de vapor de água do ar. Resultados notáveis, por exemplo, na área de pesquisa de nanociência até menos de 10-3 monocamadas, podem ser obtidos com o espectrômetro FT-IR de vácuo VERTEX 80v. Não há praticamente nenhuma limitação em relação à flexibilidade. Cinco portas de saída de vigas no lado direito, frontal e esquerdo e duas portas de entrada de feixe no lado direito e traseiro do banco óptico estão disponíveis. Isso permite a conexão simultânea de, por exemplo, uma fonte de luz síncrotron usando a porta de entrada traseira lateral, o acessório de modulação de polarização PMA 50 no feixe de saída do lado direito, um acoplamento de fibra óptica na porta do lado direito, um detector de bolometro na frente esquerda e o microscópio FT-IR da série HYPERION no feixe de saída do lado esquerdo.

A Série VERTEX 80 são os instrumentos ideais para exigir aplicações de pesquisa e desenvolvimento.

Entre em contato com nossa equipe de vendas hoje para saber mais sobre o VERTEX 80/80v!

As tecnologias utilizadas são protegidas por uma ou mais das seguintes patentes: US 7034944

Compatible with EMILIE™ — the first nanomechanical infrared analyzer for FT-IR spectroscopy. Developed in collaboration with Invisible Light Labs, EMILIE™ integrates seamlessly with Bruker research spectrometers for characterizing nanomaterials with picogram-level sensitivity without cryogenic cooling. Ideal for analyzing aerosols, nanoplastics, biopharmaceuticals, and other trace-level samples, EMILIE™ expands your spectrometer’s capabilities with direct sample collection of samples, broad spectral coverage, and in-situ thermal desorption.

Os espectrômetros VERTEX 80 e VERTEX 80v são os instrumentos de pesquisa high-end da série VERTEX. Seu design óptico inovador resulta no mais poderoso expurgo de bancada e espectrômetros de vácuo disponíveis. Eles oferecem uma faixa espectral mais ampla desde a região UV/VIS (50000 cm^-1) até a região FIR/THz (5 cm^-1),maior resolução espectral e temporal e um nível incomparável de flexibilidade. Os versátils sistemas VERTEX 80/80v fornecem com sua tecnologia PEAK a solução certa para todas as aplicações de pesquisa high-end.

Pesquisa e Desenvolvimento

• Tecnologia de varredura contínua e de etapas para espectroscopia de modulação de amplitude/fase
• Tecnologia rápida, intercalada e step scan para experimentos com alta resolução temporal (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
• Caracterização de materiais microscópicos periodicamente ordenados, conhecidos como metamateriais
• Espectroscopia de alta resolução para análise de gás com resoluções superiores a 0,06 cm^-1
• Instrumentação para instalações de feixe FT-IR a vácuo
• Métodos de fluxo interrompido para experimentos de catalise de enzimas
• Adaptação externa de câmaras de medição de vácuo ultra-alto
• Espectroeletristatos FT-IR para a investigação in situ de superfícies eletrodos e eletrólitos

Pharma

• Determinação da configuração absoluta das moléculas (VCD)
• Caracterização da estabilidade e conteúdo volátil de medicamentos médicos por análise térmica (TG-FT-IR)
• Diferenciação de polimorfos de ingredientes farmacêuticos ativos na região infravermelha distante

Polímeros e Química

• Identificação de preenchimentos inorgânicos em compósitos de polímeros na região infravermelha distante
• Estudos dinâmicos e reo-ópticos de polímeros
• Determinação de compostos voláteis e caracterização de processos de decomposição por análise térmica (TGA-FT-IR)
• Monitoramento de reação e controle de reação (sonda de fibra MIR)
• Identificação de minerais e pigmentos inorgânicos

Análise de superfície

• Detecção e caracterização de finos e monocamadas
• Análise de superfície combinada com modulação de polarização (PM-IRRAS)

Ciência material

• Caracterização de materiais ópticos e altamente reflexivos (janelas, espelhos)
• Investigação de materiais escuros e perfil de profundidade por Espectroscopia Foto-Acústica (PAS)
• Caracterização do comportamento de emissão de materiais

Semicondutores

• Determinação de oxigênio e conteúdo de carbono em wafers de silício
• Medições de transmissão de baixa temperatura e fotoluminescência (PL) de impurezas rasas para controle de qualidade

Acessórios externos, fontes e detectores

Os espectrômetros VERTEX 80/80v são equipados com cinco portas de saída de feixe e duas portas de entrada de feixe e oferecem a possibilidade de conectá-los, por exemplo, a fontes externas de laser e luz síncrotron. Além disso, a óptica espectrômetro pode ser prontamente atualizada com acessórios de medição externas, fontes e detectores. Isso inclui o seguinte:

• Acessório de Modulação de Polarização PMA 50 para VCD e PM-IRRAS
• Módulo de fotoluminescência PL II
• Módulo RAM II FT-Raman e o microscópio RamanScope III FT-Raman
• Acoplamento TGA-FT-IR
• Microscópio FT-IR da série HYPERION
• Sistema de imagem HYPERION 3000 FT-IR
• HTS-XT High Throughput Screening eXTension
• Acessório de imagem macro IMAC Focal Plane Array
• Compartimento de amostra externo XSA, evacuavel ou expurgável
• Adaptação de câmara UHV apertada de vácuo externo
• Unidade de medição PL/PT/PR de vácuo
• Líquido de baixa temperatura Ele ou criogênico líquido livre criostats
• Unidade de acoplamento de fibra óptica com sondas de fibra MIR ou NIR para sólidos e líquidos
• Grandes esferas de integração
• Dispositivos de amostrador automático

• Fonte externa fir hg
• Detector MIR-FIR de ampla gama única
• Feixe de raios IR/ THz de estado sólido
• Adaptador de emissões externa
• Fonte externa de alto desempenho MIR
• Fonte VIP de alto desempenho externo
• Câmara detectora de vácuo externo de 4 posições (para óptica a vácuo)
• Adaptação bolometer para detecção na gama FIR
• Unidade de troca automática de feixes (BMS-c) (para óptica a vácuo)