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Espectrômetros FT-IR VERTEX 80/80v

Os espectrômetros a vácuo FT-IR VERTEX 80 e o VERTEX 80v baseiam-se nos interferômetros ativamente alinhados UltraScan™, que proporcionam resolução espectral de picos. O scanner linear com rolamento pneumático e as lentes de qualidade MÁXIMA garantem sensibilidade e estabilidade máxima. GO VERTEX 80v é um banco óptico selado que pode eliminar as absorções de umidade da atmosfera para máxima sensibilidade e estabilidade, possibilitando experiências complexas como alta resolução, varredura ultra-rápida, método step-scan ou medições de faixa espectral.  

O design das lentes do VERTEX 80/80v oferecem flexibilidade MÁXIMA e, ao mesmo tempo, desempenho MÁXIMO do instrumento. A tecnologia exclusiva das lentes Bruker DigiTect™ previnem contra distúrbios de sinais externos, garantem uma relação MÁXIMA sinal/ruído e permitem uma troca de detector fácil e reproduzível pelo usuário do instrumento. As duas portas opcionais externas do detector acomodam o He líquido em frascos dewar de bolômetro e/ou detectores de elétrons. Em conjunto com a fonte externa de alimentação de arco de mercúrio refrigerada à água, a faixa espectral Terahertz recentemente redescoberta está acessível mesmo com um detector DTGS operado em temperatura ambiente.

Extensão de faixa espectral

O VERTEX 80/80v pode ser opcionalmente equipado com componentes ópticos com uma abrangência espectral desde o infravermelho distante, ou Terahertz, passando pelo infravermelho médio, próximo e visível até a faixa espectral ultravioleta. Com seus componentes ópticos pré-alinhados e o interferômetro UltraScan™ ativamente alinhado, as mudanças de faixa e manutenção são feitas de maneira simples.

NOVIDADE: A Bruker Optics introduziu uma opção nova e exclusiva de troca do divisor de feixe BMS-c para o espectrômetro a vácuo VERTEX 80v. Desta forma, tornou-se possível a troca automática e remotamente controlada de até quatro tipos diferentes de divisores de feixe em condições de vácuo. Assim, toda a faixa espectral desde UV/VIS até o IR/THz distante pode ser medida sem a necessidade de ventilar o banco óptico para a troca manual do divisor de feixe.

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NOVIDADE:a Bruker alargou a gama de separadores de feixes disponível com um novo separador de feixes THz/IV longínquo de banda larga para a série de espetrómetros FTIR VERTEX 80/80v. Especialmente para a investigação e desenvolvimento de materiais semicondutores e inorgânicos adicionais, o novo separador de feixes IV de estado sólido longínquo irá fornecer valores adicionais, uma vez que cobre nominalmente a gama espetral desde acima dos 900 cm-1 até aprox. 5 cm-1 numa medição e liga o IV médio às gamas de comprimento de onda FIR/THz muito longas.

Resolução óptica

A configuração padrão do VERTEX 80 e VERTEX 80v proporciona uma resolução espectral apodizada de 0,2 cm-1, suficiente para a maioria dos estudos de fase gasosa em ambientes de pressão e medições de amostra em temperatura ambiente. Para trabalhos avançados sob baixa temperatura como, por exemplo, em materiais cristalinos semicondutores ou medições de fase gasosa em baixa temperatura, a resolução de picos disponível é de 0,06 cm-1. Esta é a resolução espectral máxima alcançada no uso de um espectrômetro FT-IR de bancada. Espectros de alta resolução na faixa espectral visível demonstram um poder de resolução (número de ondas ν dividido pela resolução espectral ∆ν) de mais de 300.000:1.

Versatilidade

O design inovador do conjunto óptico resulta no espectrômetro a vácuo FT-IR de P&D mais flexível e expansível no mercado. Com o banco óptico sem ar, é possível obter sensibilidade de picos nas regiões do infravermelho distante, médio e próximo sem o temor de mascarar pequenos traços espectrais pela absorção de vapor de água. Com o espectrômetro a vácuo FT-IR VERTEX 80v é possível obter resultados excelentes como, por exemplo, na área de pesquisa da nanociência a menos de 10-3 monocamadas. As limitações relativas à flexibilidade são virtualmente inexistentes. Existem cinco portas de saída de feixe à direita, esquerda e na frente e duas portas de entrada de feixe à direita e na traseira do banco óptico. Tudo isso permite conexão simultânea de, por exemplo, uma fonte de luz usando a porta de entrada no lado traseiro, o acessório de modulação de polarização PMA50 no feixe da saída no lado direito, um acoplamento de fibra óptica na porta do lado frontal, um detector de bolômetro à esquerda e o microscópio FT-IR da linha HYPERION no feixe da saída do lado esquerdo.

A linha VERTEX 80 apresenta os instrumentos ideais para aplicações de pesquisa e desenvolvimento.

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As tecnologias usadas são protegidas por uma ou mais das seguintes patentes:
US 7034944; US 5923422

Acessórios, fontes e detetores externos

Os espetrómetros VERTEX 80/80v estão equipados com cinco portas de saída de feixe e duas portas de entrada de feixe e oferecem a possibilidade de os conectar, por exemplo, a fontes externas de luz de sincrotrão e de laser. Adicionalmente, a ótica dos espetrómetros pode ser facilmente atualizada com detetores, fontes e acessórios de medição externos. Estes incluem:

  • Acessórios de modulação de polarização PMA 50 para VCD e PM-IRRAS
  • Módulo de fotoluminescência PL II
  • Módulo FT-Raman RAM II e o microscópio FT-Raman RamanScope III
  • Acoplamento TGA-FT-IR
  • Microscópio FTIR da série HYPERION
  • Sistema de formação de imagens FTIR HYPERION 3000
  • Extensão de triagem de alto rendimento HTS-XT
  • Acessórios de formação de imagens macro matriz de plano focal IMAC
  • Compartimento de amostras externo XSA, evacuável ou purgável
  • Adaptação de câmara UHV estanque de vácuo externa
  • Unidade de medição PL/PT/PR de vácuo
  • Crióstatos de baixa temperatura isentos de líquido criogénico ou hélio líquido
  • Unidade de acoplamento de fibra ótica com sondas MIR ou NIR para sólidos e líquidos
  • Esferas de integração de grande dimensão
  • Amostradores automáticos
  • Fonte externa FIR Hg
  • Gama ampla e exclusiva de detetores MIR-FIR
  • Separador de feixe THz / IV longínquo de estado sólido
  • Adaptador de emissão externo
  • Fonte MIR externa de alto desempenho
  • Fonte VIS externa de alto desempenho
  • Câmara de deteção de vácuo externa com 4 posições (para ótica de vácuo)
  • Adaptação de bolómetro para deteção na gama FIR
  • Unidade de troca automática de separador de feixe (BMS-c) (para ótica de vácuo)

Os espetrómetros VERTEX 80 e VERTEX 80v são instrumentos de investigação sofisticados da série VERTEX. O inovador design conferido à ótica resulta nos mais eficientes espetrómetros de purga e vácuo de bancada disponíveis. Estes oferecem a maior gama espetral, desde a região UV/VIS (50000 cm-1) à região FIR/THz (5 cm-1), a mais alta resolução espetral e temporal e um nível de flexibilidade incomparável. Juntamente com a tecnologia PEAK, os versáteis sistemas VERTEX 80/80v são a solução ideal para todas as aplicações de investigação sofisticadas.

Investigação e desenvolvimento

  • Tecnologia contínua e Step Scan para espetroscopia de modulação de amplitude/fase
  • Tecnologia Rapid, interleaved e Step Scan para experiências com alta resolução temporaln (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • Caracterização de materiais microscópicos com arranjo periódico, conhecidos como metamateriais
  • Espetroscopia de alta resolução para análises de gases com resoluções superiores a 0,06 cm-1
  • Instrumentação para instalações de linha de luz FTIR de vácuo
  • Métodos de paragem de fluxo para experiências de catálise enzimática
  • Adaptação externa para câmaras de medição de vácuo ultra-alto
  • Espetroeletroquímica para a investigação in-situ de superfícies de elétrodos e eletrólitos

Farmácia

  • Determinação da configuração absoluta de moléculas (VCD)
  • Caracterização de estabilidade e matéria volátil de medicamentos através da análise térmica (TGA-FTIR)
  • Diferenciação de polimorfos de princípios ativos farmacêuticos na região de infravermelho longínquo

Polímeros e química

  • Identificação de fillers de polímeros em compostos de polímeros na região de infravermelho longínquo
  • Estudos dinâmicos e reo-óticos de polímeros
  • Determinação de compostos voláteis e caracterização de processos de decomposição através da análise térmica (TGA-FTIR)
  • <limonitorização e="" controlo="" reações="" (sonda="" de="" fibra="" mir)<="" li="">

    • dentificação de pigmentos e minerais inorgânicos

    </limonitorização>

Análise de superfícies

  • Deteção e caracterização de camadas finas e monocamadas
  • Análise de superfícies combinada com a modulação de polarização (PM-IRRAS)

Ciência dos materiais

  • Caracterização de materiais óticos e altamente refletivos (janelas, espelhos)
  • Investigação de materiais escuros e perfis de profundidade através da espetroscopia fotoacústica (PAS)
  • Caracterização do comportamento de emissão de materiais

Semicondutores

  • Determinação do teor de carbono e oxigénio em wafers de silício
  • Medições de baixa temperatura de fotoluminescência (PL) e transmitância de impurezas superficiais para controlo de qualidade