LUMOS II ИК-Фурье Микроскоп

Легкий эффективный точный

ИК-Фурье микроскопия и станция для визуализации

Индродукция LUMOS II Презентация продукта

Менеджер по продуктам LUMOS II представляет LUMOS II и его особенности.

Наше заявление

Инфракрасная микроскопия, как это должно было быть.

Больше места для подготовки образцов. Больше скорости для химической визуализации. Больше представления в ATR, просвечивающей и отражающей микроскопии. Это то, что мы называем сменой правил игры - и это не обсуждается.

Функции

Технические характеристики LUMOS II:

Стандартный детектор TE-MCT
Включай и работай: нет жидкого азота, нет очистки сухого воздуха
Дополнительный детектор FPA-изображения
Новая технология калибровки PermaSure+
Полностью моторизованное и автоматизированное оборудование
Размещение образцов высотой до 40 мм
Надёжные компоненты, включая лазер
Инертен к высокой влажности (оптика ZnSe)
Автономная конструкция, небольшой размер
Низкое энергопотребление

LUMOS II обеспечивает:

Программное обеспечение с пошаговым помощником
Спектральные и визуальные данные высокого разрешения
Высокая чувствительность ИК без необходимости использования жидкого азота
Огромное поле зрения при субмикронном разрешении.
Сверхбыстрая регистрация данных при картировании на FPA детекторе
Съёмка с матрицей в фокальной плоскости (FPA) НПВО/пропускание/отражение
Легкий доступ к этапу выборки
Соответствие требованиям cGMP и FDA 21 CFR p11
Автоматическая аттестация эксплуатируемого оборудования (PQ)/функционирования (OQ)/фармокопея
Обновления в любое время

Области применения

Анализ дефектов
Анализ частиц и поверхности
Промышленное производство
Судебно-медицинская экспертиза
Биологические науки
Полимеры и пластмассы
Экология
Фармацевтика

ЗАПРОС ДЕМО

Что такое LUMOS II

Везде. Для всех.

Мы считаем, что настало время сделать продвинутые методы доступными для каждого пользователя, независимо от его квалификации. Преимущества ИК-Фурье визуализации и микроскопии слишком велики, чтобы ограничить доступ к ним из-за сложного оборудования и программного обеспечения.

С самого начала LUMOS II должен был вывести ИК-Фурье визуализацию на новый уровень, делая её ещё быстрее, проще, точнее и надёжнее - и даже интереснее. Конечно, это потребовало от нас включения новых и улучшения проверенных технологий.

Вот почему мы адаптировали LUMOS II, его программное обеспечение и пользовательский интерфейс под потребности пользователя. Новичок получит мгновенный результат, в то время как эксперты полностью контролируют работу инструмента.

ОТЛИЧНАЯ FT-IR МИКРОСКОПИЯ

Превосходные μ-ATR FT-IR возможности

Все сводится к этому: Лучший инструмент. Лучшие результаты.

Будь то пропускание, отражение или нарушенное полное внутреннее отражение (НПВО),LUMOS II всегда правильный выбор. Но его самая большая сила ATR микроскопии увеличивается с помощью технологии FPA. Это делает LUMOS II универсальным инструментом для анализа отказов и разработки продукта.

Короче говоря, возможности ATR непревзойденны. И точка. Не соглашайтесь на ненадежное, возьмите аксессуары ATR - получите лучшее. Возьмите LUMOS.

Выдвижной кристалл управляется высокоточными пьезоэлектрическими двигателями и интегрируется в объектив. Это позволяет наслаждаться четким представлением образца в то время как ваши измерения по-прежнему происходит именно там, где вы хотите.

Проверенные технологии

Убедительные инновации

Выносливость и мощность для всех областей применения.

Для нас естественно обеспечивать лучшими технологиями наших клиентов. Конечно, это относится и к LUMOS II.

Интерферометр RockSolid^TM гарантирует постоянную производительность, в то время как современная электроника обеспечивает точность и низкое потребление энергии. Между тем, программное обеспечение отслеживает эффективность инструмента и всегда обеспечивает правильную работу устройства.

ЗАПРОС ДЕМО

LUMOS II Application Videos

PCB failure analysis by FT-IR microscopy.

Coating defect analysis by ATR-FT-IR microscopy.

Adhesive layer analysis of a food packaging film by µ-FT-IR.

Textile and fleece quality control by FT-IR microscopy.

Detecting dangerous particles in injectable medication.

Particle root cause analysis performed by IR microscopy.

Composite multi-layer polymers analyzed by ATR-FT-IR.

Coating thickness analysis of DLC layers by FT-IR microscopy.

Quantification in microscopic samples by FT-IR.

How LUMOS II is applied in geology and related sciences.

Anti-corrosive coating analysis on metal surface by IR imaging.

Multi-layer film and laminate analysis by macro ATR imaging.

Diamond gemstone analysis by FT-IR microscopy.

Finding microplastic particles in cosmetic products by µ-FT-IR.

See for yourself how well IR and VIS data match with LUMOS II.

Микроскопия Сделано Легко

Выберите μ-FT-IR приложение

Анализ частиц и поверхности

Будь то техническая чистота, исследование частиц или проверка однородности покрытия. С помощью специальных программных функций для идентификации частиц и измерения их автоматически, LUMOS является вашим постоянным партнером для анализа любой частицы на любой поверхности.

Промышленное производство

Все виды органических и неорганических веществ используются в промышленном производстве. и, таким образом, повреждения и дефекты могут принимать различные формы. Как поистине универсальный метод, FT-IR микроскопия имеет большую помощь в этих отказов и первопричины анализа приложений.

Экологическая наука

Химические и частицы загрязнения сильно влияют на нашу экосистему. Используйте микроскопию FT-IR и визуализацию для оценки загрязнения почв, воды и воздуха. Исследуйте сложные образцы, такие как отложения, геологические образцы и определите остаточную материю на фильтрах.

Наука о жизни

Анализ с помощью микро-FT-IR дает важное представление о биологии. Это позволяет открытие конкретных моделей заболеваний, дисфункциональных тканей или даже новых заболеваний, связанных с биомаркеров. С быстрыми возможностями изображения и огромным полем зрения LUMOS II упрощает длительные исследования тканей.

Криминалисты

Мельчайшие детали могут иметь первостепенное значение, когда дело доходит до судебно-медицинской экспертизы. FT-IR микроскопия является методом выбора для расследования малейший след доказательств. Проанализируйте волокна, препараты, краски и лаки и донизу проанализируйте сложные аналитические вопросы.

Полимеры и пластмассы

FT-IR является одним из наиболее важных аналитических методов в полимерной науке. Именно в этой области инфракрасная микроскопия обеспечивает доступ к беспрецедентным уровням детализации. Используйте его для отслеживания причин дефектов продукта, таких как примесей включений и неоднородности. Начните выявить химический состав сложных материалов, многослойных конструкций, ламинатов, композитных материалов и лаков.

Искусство и реставрация

LUMOS II помогает открыть для себя композицию цветов, используемых в исторических картинах и принимает более пристальное участие в химической деградации мрамора в античных статуй. Его автономный компактный форм-фактор позволяет путешествовать, легко настроить и точные результаты.

Фармацевтика

LUMOS II полностью соответствует всем фармацевтическим нормам, таким как cGMP, GLP FDA 21 CFR часть 11 и все фармакопеи. Автоматизированные квалификационные тесты приборов (ОЗ/ПЗ/PhEur/PhJp/USP, далее) дают вам время сосредоточиться на своих аналитических задачах: изучить таблетки, гранулы и порошки, обнаружить и идентифицировать частицы и другие загрязнения; определить API и excipient распределение.

Поверхностная наука

Оцените обработку поверхности, покрытия или чистоту с помощью микроскопии FTIR. Органические и неорганические пленки на готовой продукции исследованы на их однородность и толщину слоя.

Дальнейшие заявки

Ультрабыстрый визуальный микроскоп

OPUS Release 8.8 | LUMOS II | Q3 2023

New Feature: 3D FocusFusion now allows the creation of visual images of infinite "sharpness"

This new feature creates a pin sharp visual image, even if the sample has a rough surface or isn’t flat at all.
This infinite "sharpness" in microscopic images helps in region of interest selection. Now it will be possible to generate sharp visual images of samples for which the depth of field of the LUMOS II is limited.

Image of a highly structured surface created by 3D FocusFusion.

New Feature: FPA imaging can now follow round / circular measurement areas

Now, the measurement grid can be placed in a round shaped way to measure a whole particle filter with FPA imaging. By only measuring the actual region of interest users safe significant amounts of time during FPA measurements of round regions of interest like filters in microplastic analysis.

Circular measurement area on an aluminum oxide filter for particle analysis

OPUS Release 8.7 | LUMOS II | Q3 2021

New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function

This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.

Forecasting or time consuming searching of the included amount of chemical classes is no longer been necessary as the algorithm can predict all included chemical classes by itself.
This major function is important for all kind of chemical imaging and distribution analysis of unknown samples or small structures within larger datasets.
Together with the LUMOS II analysis and evaluation is as easy as possible and safes your valuable time and nerves.

New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data

Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.

Easy determination of the chemical identity of classified sample components for particles, layers in laminates, components of pharmaceutical tablets and other inhomogeneous materials.
Reliable and comprehensive statistics reports about quantity, size and of course identity of all analyzed structures is provided and leads particle and technical cleanliness analysis to a new, autonomous level.

Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method

The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.

While particle recognition for low contrast structures and off-white/transparent particles/fibers on off-white filter membranes can be tedious, a postrun particle determination based on the chemical IR image allows you to determine quantity and size of particles from your imaging or mapping results.
With the Find Particle Function together with the LUMOS II you will never miss any detail – neither in visual nor in IR range.