Micro-XRF on SEM

QUANTAX Micro-XRF

Модернизация растровых электронных микроскопов для анализа на микроэлементы

XTrace Mounted on a SEM

Рентгенофлуоресцентный анализатор QUANTAX  Micro-XRF с рентгеновским источником с микропятнами XTrace расширяет возможности сканирующего электронного микроскопа функциями полного микрорентгенофлуоресцентного спектрометра. XTrace монтируется на свободный вход наклонной камеры почти любого растрового электронного микроскопа. Пользователь имеет преимущества как в чувствительности к микроэлементам, так и в повышенной интенсивности потока информации рентгеновского флуоресцентного анализа.

Удобный в пользовании микрорентгенофлуоресцентный анализатор Micro-XRF для растрового электронного микроскопа.

  • Анализ распределения с гиперкартой сохраняет полные спектры для каждой точки карты для анализа в режиме он- и офлайн.
  • Образцы могут анализироваться рентгенофлуоресцентным и энергодисперсионным анализатором без изменения положения.
  • Оба метода интегрированы в одном аналитическом программном пакете ESPRIT 2.0.
  • Не мешает нормальной работе растрового электронного микроскопа, большую часть времени XTrace может оставаться в своем положении для измерения.

    Комплектный микрорентгенофлуоресцентный спектрометр без инвестиций.

    • Аналитические данные сравниваются с данными автономных систем.
    • Фрагментация изображения позволяет отображать большие площади.
    • Возможен выбор фильтров первичного излучения для подавления дифракционных пиков.
    • Использует предметный столик растрового электронного микроскопа с электроприводом.
    • Позволяет наклонять образец для получения минимальных размеров пятна.