【ZEISS x Bruker共催】最新in-situ技術セミナー ～Gemini x PicoIndenterで見て分かるナノ材料物性～
本ウェビナーではZEISSのSEMとBrukerのナノインデンターの最新情報に加え、SEMとナノインデンターを組み合わせることで実現するナノ力学試験in-situ評価技術とその評価事例をご紹介します。
ウェビナー要約
あらゆる材料開発において、ナノ・マイクロスケールの構造が新材料固有の特性や機能発現メカニズムに大きく寄与することはまれではありません。そのため、ナノ・マイクロスケール構造の科学評価技術として、SEMを用いた形態観察・元素分析・結晶解析技術、ナノインデンターを用いたナノ力学特性評価技術が材料評価に広く用いられています。
本ウェビナーではZEISSのSEMとBrukerのナノインデンターの最新情報に加え、SEMとナノインデンターを組み合わせることで実現するナノ力学試験in-situ評価技術とその評価事例をご紹介します。
＜プログラム＞ 合計時間：97分
「ナノスケール力学評価の最新動向」 25分
各種材料の小型化、薄膜化、複合化が進むにつれ、微小なスケールでの機械的特性評価は、材料特性の発現やメカニズム解明において重要になってきている。ナノインデンテーション技術は、微小なスケールでの定量的な機械的特性ができる技術として、近年注目を浴びている。本発表では、ナノインデンテーション技術の基礎的な概要説明と、最先端でのナノスケールの機械的特性評価事例を紹介する。
ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 長谷川勇人
「In-SituのためのZEISS Gemini SEM 先端技術紹介」 25分
世界のFE-SEMイメージングテクノロジーをリードするZEISSは2020年、待望のNew GeminiSEM Familyをリリース。近年、電子顕微鏡やX線顕微鏡などの観察ツールが、各種材料試験のプラットフォームとしての役割を期待されている。そこで本講演ではNew GeminiSEM Familyの最新機能の中でもIn-Situイメージングへ有効なGeminiカラムによる高効率な発生電子の収集と理にかなった電子の選択検出により得られる高精細なコントラスト、非導電性試料の各種帯電抑制、試料室内の雰囲気可変によるユニークで独自の基幹技術を最新のApplication事例と共に紹介する。
カールツァイス株式会社 風間大和
「In-situ SEM nanomechanical instrument SEM PicoIndenterのご紹介」25分
近年、微小材料の材料特性発現メカニズム解明のため、試料の変形・破壊過程などを直接観察するin-situナノメカニクス評価システムのニーズが高まっている。SEM PicoIndenterはSEM中で様々なナノメカニクス試験を行いながら、ナノ～マイクロスケールの構造がどのように変化するかをin-situで観察することができるシステムである。本講演ではSEM Piconindeterについて製品紹介および本システムを用いた評価事例紹介を行う。
ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 二軒谷亮
「Microscopy as a Service をめざしたZEISS の顕微鏡制御API と画像処理プラットフォーム」 25分
近年、研究開発・生産・教育等の現場において、デジタルトランスフォーメーションが推進されている。特に、新型コロナウイルス感染症への対策として、理化学機器のリモートコントロール化や実験プロトコルのオートメーション化は必須といえる状況にある。一方、ZEISSでは、画像処理を含めた研究用顕微鏡ソリューションのプラットフォーム化を進めている。これは、必要な顕微鏡の機能を必要な分だけサービスとして利用できるようにした Microscopy as a Service を目指したものである。本発表では、ZEISS電子顕微鏡のリモートコントロール化・オートメーション化のためのソリューションとして、アプリケーションプログラミングインタフェースの機能と、画像処理専用のオープンプラットフォームについて紹介する。
カールツァイス株式会社 博士(工学) 前田 悦男
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