D8 DISCOVER
具有最佳XRD性能
D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪，带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。
应用范围：
- 定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析
- X射线反射法、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析
- 残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射（WAXS）
- 总散射分析：Bragg衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）
市场概况
汽车和航空航天
半导体与微电子
制药业筛选
储能/电池
药物
地质学
金属
薄膜计量
主要特点
微焦源IµS
配备了MONTEL光学器件的IµS微焦源可提供高强度小X射线束，非常适合小范围或小样品的研究。
- 毫米大小的光束：高亮度和超低背景
- 绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命延长
- MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度
- 与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。
UMC样品台
D8 DISCOVER提供了许多UMC平台，具有无与伦比的样品扫描和重量容纳能力：
- 可对重达5 kg的样品进行扫描
- 大区域映射：最大300mm的样品
- 支持高通量筛选（HTS）的UMC样品台，最多支持三个孔板。
考虑到其高度的模块化性能，该UMC样品台可根据客户的要求进行超出标配的定制。
多模EIGER2 R检测器
EIGER2 R 250K和500K是将Synchrotron性能带入实验室X射线衍射的2D检测器。
- 先进的传感器设计，包括第二代革命性的EIGER：最大尺寸为75 x 75mm²的50万像素，可实现微观分辨率的宏观覆盖。
- 符合人体工程学的设计：轻松即可根据应用需求，调节探测器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切换以及探测器位置可连续变化、支持自动对光。
- 全景光学器件和附件，视野开阔。
- 0D、1D和2D操作模式：支持快照、步进、连续或高级扫描模式。
- 可与DIFFRAC.SUITE完全无缝集成。
TRIO Optics与PATHFINDER PLUS Optics
获得专利的TRIO光学器件可在三种光路之间自动切换：
- 用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何
- 用于毛细管，GID和XRR分析的高强度平行光束Kα1,2几何
- 用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何
PATHFINDERPlus光学器件带有一个用于确保测得强度的线性的自动吸收器，并可在以下之间切换：
- 电动狭缝：用于高通量测量
- 分光晶体：用于高分辨率测量
使用配备了TRIO和PATHFINDERPlus的D8 DISCOVER，无需重新配置，在环境条件下或非环境条件下，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所类型尽在掌握。
D8测角仪
Turbo X射线源（TXS）
MONTEL光学器件
高级X射线衍射
薄膜分析
X射线衍射（XRD）和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：
- 掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。
- X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。
- 高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。
- 应力和织构（择优取向）分析。
材料研究
XRD可研究材料的结构和物理特性，是最重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布鲁克推出的、用于材料研究的旗舰款XRD仪器。D8 DISCOVER配备了技术领先的组件，可为您带来最佳的性能和充分的灵活性，同时让研究人员对材料进行细致入微的表征：
- 定性相分析和结构测定
- 微米应变和微晶尺寸分析
- 应力和织构分析
- 粒度和粒度分布测定
- 使用微米大小的X射线束进行局部XRD分析
- 倒易空间扫描
筛选和大区域扫描
涉及高通量筛选（HTS）和大区域扫描分析时，D8 DISCOVER是最佳解决方案。而有了UMC样品台的加持，D8 DISCOVER更是成为了电动位移和重量能力方面的同类最佳：
- 孔板和沉积样品在反射和透射中的高通量筛选（HTS）
- 对最大300 mm的样品进行扫描
- 安装和扫描重量不超过5kg的样品
- 自动化接口
应用范围
残余应力分析
使用了2D检测器的µXRD
定性相分析
高通量筛选（HTS）
非环境XRD
小角X射线散射（SAXS）
广角X射线散射（WAXS）
织构分析
X射线反射率测量（XRR）
高分辨率X射线衍射（HRXRD）
晶片与区域扫描
倒易空间扫描
D8 DISCOVER 规格
| 规格 | 优势 | |
| TWIST-TUBE | 轻松在点焦点和线焦点之间切换 可用阳极材料：Cr、Cu、Mo、Ag 最高功率和灯丝：最高3 kW，取决于阳极材料（0.4 x 16mm²） 专利：EP 1 923 900 B1 |
快速改变波长，以理想地匹配不同应用 可以最快的速度在线焦点和点焦点之间极快切换，因此扩展了应用范围，并且可在更短的时间内，获得更好的结果。 |
| IµS微焦源 | 功率负载：最高50 W，单相功率 MONTEL和MONTEL Plus光学器件：结合了平行镜和聚焦镜 光束尺寸：低至180 x 180 µm² 镜出口最大积分通量：8 x 10⁸ cps 光束发散度：低至0.5 mrad |
毫米大小的光束：高亮度和超低背景 绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命更长 优化光束形状和发散，以获得最佳结果 |
| Turbo X射线源（TXS） | 线焦点：0.3x3mm² 焦点亮度：6 kW /mm² 阳极材料：Cu、Co、Cr、Mo 最大电压50 kV，功率取决于阳极材料：Cr ：3.2 kW；Cu / Mo：5.4 kW；Co：2,8 kW 预对准钨丝 |
强度是标准陶瓷X射线源的5倍。 是线焦点和点焦点应用的理想之选 预对准的灯丝支持快速更换，极大地降低了对重新对准的要求。 |
| TRIO Optics | 软件按钮切换： 电动发散狭缝（Bragg-Brentano） 高强度Ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 专利：US10429326、US6665372、US7983389 |
可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换，无需人工干预 是所有类型的样品的理想之选，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延） |
| 高分辨率单色器 | 对称几何和非对称几何中的Ge（220）和Ge（004）反射 2-b和4-b（Bartels型）单色器 利用SNAP.LOCK技术，进行免对准安装 |
在最佳分辨率与强度平衡方面，为您提供广泛选择，助您获取最佳结果 可快速更换单色器，针对不同样品进行优化 |
| D8测角仪 | 带独立步进电机和光学编码器的双圆测角仪 | 布鲁克独有的准直保证，确保了无与伦比的准确性和精确度 绝对免维护的驱动机构/齿轮装置，终身润滑 |
| UMC样品台 | 样品台系列 x、y：最大+/- 150 mm的样品移动 z：最大移动50mm Phi：旋转不受限制 Psi：倾斜度最高55° 最大承载重量（中心位置）：50kg |
在样品的重量和尺寸方面，拥有无与伦比的优势 可实现大型定制样品室的实施 |
| Centric Eulerian Cradle (CEC) | 样品台：5个自由度 x、y：+/- 40 mm样品移动 z：高度对准 Phi：360°旋转 Psi：-11°-98° 最高承载重量：1kg 提供各种样品台附件。 |
侧面倾斜时可进行应力和织构测量，以获取更高的精度。 （x，y）：自动映射功能。 电动倾斜台：可精确调整表面。 粉末或毛细管旋转器：可用于粉末衍射。 Bayonette样品台支持器：可与其他样品台快速、可重复地互换。 |
| Pathfinder Plus Optics | 软件按钮切换： 电动狭缝 2-b Ge分析晶体 集成自动吸收器 |
可在两种不同的光学器件之间全自动地进行电动切换，无需人工干预。 保持了LYNXEYE探测器的完整视野。 利用吸收器，确保了测得数据的线性。 |
| LYNXEYE XE-T | 能量分辨率： 8 KeV时，<380 eV 检测模式：0D、1D、2D 波长：Cr、Co、Cu、Mo和Ag 专利：EP1647840、EP1510811、US20200033275 |
无需Kß过滤器和二级单色器 铜辐射即可100％过滤铁荧光 速度比传统探测器系统快450倍 Bragg2D：使用发散的初级线束收集2D数据 独一无二的探测器保修：交货时绝无不良通道 |
| EIGER2 | Dectris Ltd.开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器，支持多种模式（0D / 1D / 2D）。 | 在分步扫描、连续扫描和高级扫描模式中无缝集成0D、1D和2D检测。 符合人体工程学的免对准探测器旋转功能，可优化γ或2Ɵ角度范围 使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统 连续可变的探测器位置，以平衡角度范围和分辨率 |
| 非环境 | 温度：范围从~-4 K到~2500 K 压力：10-⁴mbar至100 bar 湿度：5％至95％ |
在环境和非环境条件下进行调查 凭借DIFFRAC.DAVINCI，轻松更换样品台 |
D8 DISCOVER资源
操作说明、报告和产品表
- 对药品进行快速XRD分析：使用EIGER2 R 500K的快照1D和2D模式
- 使用EIGER2 R 500K进行大面积RSM分析：InxGa1-xN LED、GaAs和Si1-xGex外延薄膜分析
- 使用EIGER2 R 500K进行地质学领域的μXRD分析：美国乔治亚州Graves Mountain的Lazulite的原位研究
- 使用EIGER2 R 500K进行残余应力分析：硅上的多晶钨涂层的0D、1D和2D研究
- 使用EIGER2 R 500K和DIFFRAC.TEXTURE进行织构分析：轧制铝板和拉制铝板研究
- 具有IμS、μXRD相扫描的D8 DISCOVER
- 具有IμS微焦源的D8 DISCOVER：面内掠入射衍射（IP-GID）
- 具有IμS高亮度微焦源的D8 DISCOVER：X射线衍射
- 具有IμS高亮度微焦源的的D8 DISCOVER：粉末衍射
- 具有PILATUS3 R 100K-A 的D8 DISCOVER：薄膜 2D RSM
- 具有PILATUS3 R 100K-A的D8 DISCOVER：2D GI-SAXS
- 具有PILATUS3 R 100K-A的D8 DISCOVER：石英二长岩微区XRD2
- 使用PILATUS3 R 100K-A的D8 DISCOVER：聚合物 XRD2
- 使用PILATUS3 R 100K-A的D8 DISCOVER：XRD2织构分析
- 使用PILATUS3 R 100K-A的D8 DISCOVER：XRD2残余应力分析
- Universal Motion Concept和Eulerian Cradles：控制样品定位
- 适用于D8系列的EIGER2 R