X射线衍射 (XRD)

D8 DISCOVER

最灵活、最全能的XRD解决方案,可理想地满足工业和学术界的研究、开发和质控要求。

具有最佳XRD性能

HerostageD8DISCOVER

亮点

光子/mm²
高亮度X射线源
X射线源:具有出色的亮度,如IµS微焦点X射线源和HB-TXS高亮度Turbo X射线源HB-TXS。
300 mm
最大样品尺寸
外壳宽敞,可容纳直径最大为300 mm的大型样品。
50 kg
最高样品重量
我们独一无二的UMC样品台,可容纳最大的样品。

D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪,带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下,对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。

应用范围:

  • 定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析
  • X射线反射法、掠入射衍射(GID)、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析
  • 残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射(WAXS)
  • 总散射分析:Bragg衍射、对分布函数(PDF)、小角X射线散射(SAXS)

特点

主要特点

D8 DISCOVER 特点

微焦源IµS

配备了MONTEL光学器件的IµS微焦源可提供高强度小X射线束,非常适合小范围或小样品的研究。

  • 毫米大小的光束:高亮度和超低背景
  • 绿色环保设计:低功耗、无耗水、使用寿命延长
  • MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度
  • 与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。
D8 DISCOVER 特点

UMC样品台

D8 DISCOVER提供了许多UMC平台,具有无与伦比的样品扫描和重量容纳能力:

  • 可对重达5 kg的样品进行扫描
  • 大区域映射:最大300mm的样品
  • 支持高通量筛选(HTS)的UMC样品台,最多支持三个孔板。

考虑到其高度的模块化性能,该UMC样品台可根据客户的要求进行超出标配的定制。

D8 DISCOVER 特点

多模EIGER2 R检测器

EIGER2 R 250K和500K是将Synchrotron性能带入实验室X射线衍射的2D检测器。

  • 先进的传感器设计,包括第二代革命性的EIGER:最大尺寸为75 x 75mm²的50万像素,可实现微观分辨率的宏观覆盖。
  • 符合人体工程学的设计:轻松即可根据应用需求,调节探测器的位置和方向,包括0°/ 90°免工具切换以及探测器位置可连续变化、支持自动对光。
  • 全景光学器件和附件,视野开阔。
  • 0D、1D和2D操作模式:支持快照、步进、连续或高级扫描模式。
  • 可与DIFFRAC.SUITE完全无缝集成。
D8 DISCOVER 特点

TRIO Optics与PATHFINDER PLUS Optics

获得专利的TRIO光学器件可在三种光路之间自动切换:

  • 用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何
  • 用于毛细管,GID和XRR分析的高强度平行光束Kα1,2几何
  • 用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何

PATHFINDERPlus光学器件带有一个用于确保测得强度的线性的自动吸收器,并可在以下之间切换:

  • 电动狭缝:用于高通量测量
  • 分光晶体:用于高分辨率测量

使用配备了TRIO和PATHFINDERPlus的D8 DISCOVER,无需重新配置,在环境条件下或非环境条件下,包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在内的所类型尽在掌握。

应用

高级X射线衍射

D8 DISCOVER应用范围

薄膜分析

X射线衍射(XRD)和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析:

  • 掠入射衍射(GID):晶相表面灵敏识别及结构性质测定,包括微晶尺寸和应变。
  • X射线反射率测量(XRR):用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。
  • 高分辨率X射线衍射(HRXRD):用于分析外延生长结构:层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。
  • 应力和织构(择优取向)分析。
D8 DISCOVER应用范围

材料研究

XRD可研究材料的结构和物理特性,是最重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布鲁克推出的、用于材料研究的旗舰款XRD仪器。D8 DISCOVER配备了技术领先的组件,可为您带来最佳的性能和充分的灵活性,同时让研究人员对材料进行细致入微的表征:

  • 定性相分析和结构测定
  • 微米应变和微晶尺寸分析
  • 应力和织构分析
  • 粒度和粒度分布测定
  • 使用微米大小的X射线束进行局部XRD分析
  • 倒易空间扫描
D8 DISCOVER应用范围

筛选和大区域扫描

涉及高通量筛选(HTS)和大区域扫描分析时,D8 DISCOVER是最佳解决方案。而有了UMC样品台的加持,D8 DISCOVER更是成为了电动位移和重量能力方面的同类最佳:

  • 孔板和沉积样品在反射和透射中的高通量筛选(HTS)
  • 对最大300 mm的样品进行扫描
  • 安装和扫描重量不超过5kg的样品
  • 自动化接口

规格

D8 DISCOVER 规格

  规格 优势
TWIST-TUBE

轻松在点焦点和线焦点之间切换

可用阳极材料:Cr、Cu、Mo、Ag

最高功率和灯丝:最高3 kW,取决于阳极材料(0.4 x 16mm²)

专利:EP 1 923 900 B1

快速改变波长,以理想地匹配不同应用

可以最快的速度在线焦点和点焦点之间极快切换,因此扩展了应用范围,并且可在更短的时间内,获得更好的结果。

IµS微焦源

功率负载:最高50 W,单相功率

MONTEL和MONTEL Plus光学器件:结合了平行镜和聚焦镜

光束尺寸:低至180 x 180 µm²

镜出口最大积分通量:8 x 10⁸ cps

光束发散度:低至0.5 mrad

毫米大小的光束:高亮度和超低背景

绿色环保设计:低功耗、无耗水、使用寿命更长

优化光束形状和发散,以获得最佳结果

Turbo X射线源(TXS)

线焦点:0.3x3mm²

焦点亮度:6 kW /mm²

阳极材料:Cu、Co、Cr、Mo

最大电压50 kV,功率取决于阳极材料:Cr :3.2 kW;Cu / Mo:5.4 kW;Co:2,8 kW

预对准钨丝

强度是标准陶瓷X射线源的5倍。

是线焦点和点焦点应用的理想之选

预对准的灯丝支持快速更换,极大地降低了对重新对准的要求。

TRIO Optics

软件按钮切换:

电动发散狭缝(Bragg-Brentano)

高强度Ka1,2平行光束

高分辨率Ka1平行光束

专利:US10429326、US6665372、US7983389

可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换,无需人工干预

是所有类型的样品的理想之选,包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)

高分辨率单色器

对称几何和非对称几何中的Ge(220)和Ge(004)反射

2-b和4-b(Bartels型)单色器

利用SNAP.LOCK技术,进行免对准安装

在最佳分辨率与强度平衡方面,为您提供广泛选择,助您获取最佳结果

可快速更换单色器,针对不同样品进行优化

D8测角仪 带独立步进电机和光​​学编码器的双圆测角仪

布鲁克独有的准直保证,确保了无与伦比的准确性和精确度

绝对免维护的驱动机构/齿轮装置,终身润滑

UMC样品台

样品台系列

x、y:最大+/- 150 mm的样品移动

z:最大移动50mm

Phi:旋转不受限制

Psi:倾斜度最高55°

最大承载重量(中心位置):50kg

在样品的重量和尺寸方面,拥有无与伦比的优势

可实现大型定制样品室的实施

Centric Eulerian Cradle (CEC)

样品台:5个自由度

x、y:+/- 40 mm样品移动

z:高度对准

Phi:360°旋转

Psi:-11°-98°

最高承载重量:1kg

提供各种样品台附件。

侧面倾斜时可进行应力和织构测量,以获取更高的精度。

(x,y):自动映射功能。

电动倾斜台:可精确调整表面。

粉末或毛细管旋转器:可用于粉末衍射。

Bayonette样品台支持器:可与其他样品台快速、可重复地互换。

Pathfinder Plus Optics

软件按钮切换:

电动狭缝

2-b Ge分析晶体

集成自动吸收器

可在两种不同的光学器件之间全自动地进行电动切换,无需人工干预。

保持了LYNXEYE探测器的完整视野。

利用吸收器,确保了测得数据的线性。

LYNXEYE XE-T

能量分辨率: 8 KeV时,<380 eV

检测模式:0D、1D、2D

波长:Cr、Co、Cu、Mo和Ag

专利:EP1647840、EP1510811、US20200033275

无需Kß过滤器和二级单色器

铜辐射即可100%过滤铁荧光

速度比传统探测器系统快450倍

Bragg2D:使用发散的初级线束收集2D数据

独一无二的探测器保修:交货时绝无不良通道

EIGER2 Dectris Ltd.开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器,支持多种模式(0D / 1D / 2D)。

在分步扫描、连续扫描和高级扫描模式中无缝集成0D、1D和2D检测。

符合人体工程学的免对准探测器旋转功能,可优化γ或2Ɵ角度范围

使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统 

连续可变的探测器位置,以平衡角度范围和分辨率

非环境

温度:范围从~-4 K到~2500 K

压力:10-⁴mbar至100 bar

湿度:5%至95%

在环境和非环境条件下进行调查

凭借DIFFRAC.DAVINCI,轻松更换样品台

附件

XRD 组件

XRD 组件

Bruker XRD解决方案包含一系列为满足分析要求配置的高性能组件。模块化设计是打造最佳仪器的关键所在。

各类组件都是布鲁克核心竞争力的组分部分,它们由布鲁克AXS开发或制造而成,或通过与第三方供应商密切合作而得。

布鲁克XRD组件可用于升级现有的X射线系统,用于提高其性能。

网络研讨会

更多信息

D8 DISCOVER资源

支持

服务与支持

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  • 高技能故障排除专业人员的技术支持,用于隔离和解决硬和软件问题
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  • 合并的现实支持 – 虚拟工程师在您身边 (视频
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