AFM-IR 和 s-SNOM 的比较
AFM-IR 和 s-SNOM 是具有不同优势的互补技术。使用 nanoIR3-s，您可以选择具有一种技术或两者两种技术的配置，具体取决于您的样品和测量。
应用最佳技术进行研究 – 不折不扣
AFM-IR 和 s-SNOM 是具有不同优势的互补技术。使用 nanoIR3-s，您可以选择具有一种技术或两者两种技术的配置，具体取决于您的样品和测量需求。AFM-IR 使用 AFM 探针尖端直接检测样品吸收的光线，以感应热膨胀。这种热膨胀主要取决于样品的吸收系数 ks，并且在很大程度上与尖端和样品的其他光学特性无关。因此，AFM-IR 技术是需要精确吸收光谱的测量的首选。由于这些材料的热膨胀性很高，AFM-IR在软物质研究方面非常出色。
s-SNOM 可检测直接位于 AFM 探头尖端下的纳米比例区域散射的光。散射场依赖于尖端和样品的复杂光学常数，并包含有关纳米光学现象的丰富信息。需要参考样品（如金或硅）才能将样品响应贡献与来源和尖端分离。可能需要建模支持来解释结果。s-SNOM 是一项引人注目的技术，用于在光学性能中成像纳米级对比度，在先进材料、器件和基本光/物质相互作用方面应用多种多样。s-SNOM 最适合与光强相互作用的硬材料。
