Bruker Nano Analytics

Elementanalyse

Elementanalyse am Elektronenmikroskop, mit Mikro-XRF und TXRF Spektrometern sowie mit portablen bzw. Handheld-XRF-Geräten

Das Produktportfolio von Bruker Nano Analytics (BNA) umfasst eine einzigartige Palette an Analysesystemen für die Materialuntersuchung am Elektronenmikroskop:

  • EDS für REM - energiedispersive Röntgenspektrometrie am Rasterelektronenmikroskop
  • EDS für TEM - energiedispersive Röntgenspektrometrie am Transmissionselektronenmikroskop
  • EBSD - Elektronenrückstreubeugung
  • WDS - wellenlängendispersive Röntgenspektrometrie
  • Mikro-RFA am REM - Mikro-Röntgenfluoreszenzanalyse am Rasterelektronenmikroskop

Neben diesem beispiellosen Spektrum an Analysewerkzeugen für Elektronenmikroskopie bietet Bruker auch eine Vielzahl von Benchtop-Mikro-Röntgenfluoreszenzspektrometern (mikro-RFA oder micro-XRF) für die Analyse der Probenszusammensetzung mit hoher Ortsauflösung sowie Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzinstrumente (TRFA oder TXRF) für die Spurenelementanalyse für eine Vielzahl von Anwendungen in Industrie und Forschung.

Zu guter Letzt können die handgehaltenen / mobilen / tragbaren Röntgenfluoreszenzspektrometer (Handheld-RFA oder Handheld-XRF) von BNA nahezu jedes Element von Magnesium bis Uran zerstörungsfrei qualifizieren oder quantifizieren und ermöglichen schnellste Elementanalyse vor Ort in einem breiten Spektrum von Anwendungsbereichen.

Virtueller Showroom

BNA Hauptsitz und virtueller Showroom

Besuchen Sie die Demolabore in unserem Hauptsitz in Berlin und entdecken Sie die Vielzahl unserer analytischen Lösungen bei einem virtuellen Rundgang durch unsere Applikationslabore.

Bei Fragen wenden Sie sich bitte an unsere Expertenteams Vertrieb oder Kundenbetreuung.