OPTIMUS 2

Der weiterentwickelte TKD-Detektorkopf

Highlights

Brukers branchenführende TKD-Lösung ist jetzt noch besser!

Unsere neue, erweiterte TKD-Lösung baut auf der unübertroffenen Leistung des bestehenden On-Axis TKD Modells durch die Integration von neuen Hardwareoptionen, Softwarefunktionen und durchdachtem Zubehör auf. Die wichtigste Neuerung ist die Markteinführung des OPTIMUS 2 Detektorkopfes, ein Ergebnis der kontinuierlichen Zusammenarbeit mit dem DTU Nanolab in Dänemark. Seine neuen Bildgebungsmöglichkeiten und sein verbessertes Design in Kombination mit neuen, innovativen Softwarefunktionen ermöglichen:

  • neue Analyse-Optionen für In-situ-Experimente
  • noch bessere räumliche Auflösung als bisher
  • überragende Datenqualität und Datenintegrität
  • verbesserte Benutzererfahrung
  • erhebliche Produktivitätssteigerung in bestimmten Anwendungsbereichen
Hauptmerkmale von OPTIMUS 2
  • OPTIMUS Vue-Phosphorschirm mit einer Si-Diode im Zentrum für Hellfeld-ähnliche Bildgebung
  • Spezial-Legierung zur Minimierung der Interferenzen mit dem Elektronenstrahl des Elektronenmikroskops
  • Zusätzliche neue Dünnschicht in der aktiven Schichtstruktur des Phosphorschirms für verbesserte Signalqualität
  • Optimiertes Rahmendesign zur besseren Handhabung 
  • Standard-TKD-Phosphorschirm (ohne Mitteldiode) auch kompatibel mit OPTIMUS 2

Vorteile

REM Messungen im Transmissionsmodus (STEM) kombiniert mit EDS und TKD Mapping

Die Mitteldiode des OPTIMUS Vue ermöglicht Hellfeld-ähnliche Bilder in On-Axis TKD-Mapping-Position: dadurch erschließen sich neue Anwendungsmöglichkeiten und die Gesamtsystemleistung zur Charakterisierung von Nanomaterialien und Nanostrukturen wird weiter verbessert

 

Hauptvorteile der neuen STEM-im-REM-Fähigkeit von OPTIMUS Vue

Verbesserte räumliche Auflösung durch die Mitteldiode von OPTIMUS Vue, damit ergeben sich ideale Bedingungen zur Optimierung des Strahlfokus und Astigmatismuseinstellung vor der Aufnahme eines TDK-Maps.

Nahezu Echtzeit-Visualisierung von elektronentransparenten Proben bei In-situ-Experimenten im REM mit der neuen ESPRIT TRM-Funktion für zeitaufgelöste Messungen.

Optimierte Datenintegrität – hochwertige und detailreiche Hellfeld-ähnliche Bilder sind die ideale Basis für die Bildkorrelationsalgorithmen, die von der ESPRIT DriftCorrection-Funktion verwendet werden. Die daraus resultierenden Vorteil bei der Driftkorrekturgenauigkeit sind besonders hilfreich für TKD-Maps, bei denen selbst eine Strahl- oder Probendrift von nur wenigen Dutzend Nanometern sichtbare Artefakte im Mapping erzeugt.

Produktivitätssteigerung – Hellfeld-ähnliche Bilder können mit der neuen ESPRIT MaxYield-Funktion binarisiert und anschließend als Maske zum  effizienten Mappen von interessierenden Bereichen auf Proben mit geringer Belegung, wie beispielweise Nanopartikeln oder Nanostäben, verwendet werden.

Komfort, Effizienz und Erfolg während des Kalibriervorgangs dank der neuen ESPRIT FIL TKD (Full Immersion Lens TKD) Funktion, die zum ersten Mal überhaupt TKD-Mappings im Immersionslinsentechnologie-Modus, auch bekannt als Ultra-High-Resolution (UHR) Modus, bestimmter Elektronensäulen ermöglicht.

Bild mit freundlicher Genehmigung von Aaron Lindenberg und seiner Gruppe an der Stanford University in den USA

Einzigartige Einsatzmöglichkeiten

Einzigartige Möglichkeiten um den Fortschritt in Forschung und Technologie zu beschleunigen

dark-field-like-image-zoom-ARGUS-EBSD

ARGUS der allsehende mythische Riese ist zurück

Der OPTIMUS 2 Detektorkopf wurde mit eingebautem ARGUS-System entwickelt, um STEM-Bildgebungsfunktionen im REM zu ermöglichen. Mit drei Si-Dioden an der Vorderkante und einer Si-Diode in der Mitte des Bildschirms erlaubt das ARGUS-System die Aufnahme von Dunkelfelder-ähnlichen Bilder, Aufnahme von Hellfeld-ähnliche Bilder in TKD-Mapping-Position, Bildaufnahme mit bis zu 125.000 Pixeln/Sek. und vollautomatische Signaloptimierung.
TKD-Karten auf der Achse

Sehen Sie jedes Detail Ihrer nanostrukturierten Probe

Die aktuell massive Adaption von Nanotechnologie hat einen Wettlauf um die höchste Auflösung in der Rasterelektronenmikroskopie (REM) ausgelöst. Ein Ansatz, um die ultimative räumliche Auflösung zu erreichen, ist die Verwendung von magnetischen Immersionslinsen.
XFlash FlatQUAD TKD

Schnellste simultane TKD- und EDS-Messungen

Brukers einzigartiger XFlash FlatQUAD EDS-Detektor mit einem enormen Raumwinkel von bis zu 1,1 sr kann gleichzeitig mit OPTIMUS 2 zur Aufnahme von Mappings, die chemische Informationen und Kristallorientierungsdaten elektronentransparenter Proben erhalten, verwendet werden. Die Aufnahmen erfolgen mit bisher unerreichter räumlicher Auflösung und unübertroffener Geschwindigkeit.
Bruker integrated OPTIMUS PI89 in-situ tensile testing TKD EBSD

Verstehen Sie Ihre Probe besser

Der Hysitron PicoIndenter PI 89 wurde für eine nahtlose Integration mit den eFlash EBSD-Detektoren mit OPTIMUS 2 Detektorkopf entwickelt, um ideale Bedingungen bei In-situ-Experimenten zu bieten.
In-situ-heating-electrical-biasing-TKD-EBSD

Entschlüsseln Sie alle Eigenschaften Ihrer Proben durch Hinzufügen weiterer Dimensionen 

OPTIMUS 2 mit seinem innovativen OPTIMUS Vue-Phosphorschirm und die neue ESPRIT TRM-Software-Option bilden die perfekte, unverzichtbare Kombination von Werkzeugen für In-situ-Heiz- und elektrische Biasing-Experimente an elektronentransparenten Proben.