OPTIMUS 2

強化されたTKD検出器ヘッド

ハイライト

業界をリードするブルカーのTKDソリューションがさらに進化しました

ブルカーの新しい拡張TKDソリューションは、複数の新しいハードウェアオプション、アクセサリ、およびソフトウェア機能を追加して、既存のオンアクシスTKDの比類のない性能を実現しています。最も重要な変更点は、デンマークのDTU Nanolabとの継続的なコラボレーションによる、OPTIMUS 2検出器ヘッドのリリースです。新しいイメージング機能と革新的なソフトウェア機能を組み合わせた設計の改善により、以下の機能が可能になります。

  • in-situ実験のための新しい分析機能
  • 以前よりも優れた空間分解能
  • 優れたデータ品質とデータ整合性
  • ユーザーエクスペリエンスの向上
  • 特定のアプリケーションにおける生産性の大幅な向上

OPTIMUS 2の主な特長

  • 明視野(BF)のようなイメージジングのために、中心にSiダイオードを備えたOPTIMUS Vueスクリーン
  • 電子ビームとの干渉を最小限に抑えるための高度な合金
  • 信号品質を向上させるスクリーンアクティブ層構造の薄膜を追加
  • ユーザーエクスペリエンスを向上させるために最適化された画面フレーム設計
  • OPTIMUS 2は標準TKDスクリーン(センターダイオードなし)と互換性があります

利点

EDSおよびTKDマッピングを組み合わせたSEMのSTEM

OPTIMUS Vueのセンターダイオードは、オンアクシスTKDのマッピング位置でナノ材料やナノ構造を特徴付ける際に、新しいアプリケーションの可能性を開き、システム全体の性能をさらに向上させながら、明視野(BF)のようなイメージング機能を提供します。

SEMのSTEMにおけるOPTIMUS Vueの主な利点

  • OPTIMUS Vueのセンターダイオードによる空間分解能の向上。TKDマップを取得する前に、ビームフォーカスと乱視設定を最適化するための理想的な条件を提供します。
  • 時間分解測定のための新しいESPRIT TRM 機能を使用し、SEMでのin-situ 実験中に電子透過サンプルをほぼリアルタイムで視覚化
  • データの整合性の向上 – 高品質で詳細な BFのような画像は、ESPRIT Drift Correction機能(ドリフト補正機能)で使用される画像相関アルゴリズムへの理想的な入力データです。わずか数十ナノメートルのビームまたはサンプルドリフトでさえマップ内に目に見えるアーティファクトを作成するTKDマップにとっては、得られるドリフト補正精度の向上は特に有益です。
  • 生産性の向上 – BF のような画像は、新しい ESPRIT MaxYield 機能を使用して二項化でき、その後ナノ粒子やナノロッドなどのまばらなサンプル上の所定の領域を効率的にマッピングするためのマスクとして使用できます。
  • 新しい ESPRIT FIL TKD (フルイマージョンレンズ TKD) 機能のキャリブレーション手順中の利便性や効率によって、特定の電子カラムでフルイマージョンレンズ モード(超高解像度 (UHR) モード)を使用した TKD マッピングを可能にします。
画像はアーロン・リンデンバーグとアメリカのスタンフォード大学の彼のグループの礼儀です

ユニークな機能

研究と技術の進歩を支える独自の能力

dark-field-like-image-zoom-ARGUS-EBSD

すべてを見ることができる神話の巨人ARGUS

OPTIMUS 2検出器ヘッドは、SEMイメージング機能にSTEMを提供するために、組み込みのARGUSシステムで設計されています。フロントエッジに3つのSiダイオードと画面中央に1つのSiダイオードを備え、TKDマッピング位置でDFのようなイメージング、BFのようなイメージングを提供し、最大125,000ピクセル/秒の速度でイメージングし、全自動信号最適化を行います。
オンアクシス TKD マップ

ナノ構造サンプルの細部を見る

近年のナノテクノロジーの発達は、走査型電子顕微鏡(SEM)における最高解像度の競争を引き起こしました。究極の空間分解能を実現するためのアプローチの 1 つは、磁気イマージョンレンズを使用することです。
Xフラッシュ フラットクワッド TKD

最速のTKDとEDSの同時測定

最大1.1 srの超高立体角を備えたBruker独自のXFlash FlatQUAD EDS検出器は、OPTIMUS 2と同時に使用することによって、比類のない空間分解能と速度で電子透過性サンプルから化学および結晶方位データを含むマップを取得できます。
Bruker integrated OPTIMUS PI89 in-situ tensile testing TKD EBSD

サンプルをよりよく理解する

Hysitron PicoIndenter PI89は、 OPTIMUS2ヘッドを搭載したeFlash EBSD検出器とシームレスに統合するように設計され、in-situ実験中に理想的な条件を提供します。
In-situ-heating-electrical-biasing-TKD-EBSD

サンプルを理解するために複数の次元を追加する

OPTIMUS2は新しいOPTIMUS-VUEスクリーンとESPRIT TRMソフトウェア機能を備えており、電子透明サンプルでのin-situの加熱および電気バイアス実験のための完璧で必須の組み合わせを提供します。