옵티머스 2

향상된 TKD 검출기 헤드

하이라이트

브루커의 업계 최고의 TKD 솔루션은 더 좋아졌습니다!

당사의 새로운 증강 TKD 솔루션은 여러 개의 새로운 하드웨어 옵션, 액세서리 및 소프트웨어 기능을 추가하여 기존 축 TKD의 타의 추종을 불허하는 성능을 기반으로 합니다. 가장 중요한 변화는 덴마크의 DTU Nanolab과의 지속적인 협력의 결과인 OPTIMUS 2 검출기 헤드의 출시입니다. 새로운 이미징 기능과 새롭고 혁신적인 소프트웨어 기능과 결합된 향상된 설계를 통해 다음을 가능하게 합니다.

  • 내부 실험을 위한 새로운 분석 기능
  • 이전보다 더 나은 공간 해상도에 도달
  • 탁월한 데이터 품질 및 데이터 무결성
  • 향상된 사용자 경험
  • 특정 애플리케이션의 생산성 향상
옵티머스 2의 주요 특징
  • 브라이트 필드 (BF)와 같은 이미징의 중심에 시 다이오드가있는 옵티머스 Vue 화면
  • e-빔과의 간섭을 최소화할 수 있는 고급 합금
  • 향상된 신호 품질을 위해 스크린 활성 층 구조에 새로운 박막 추가
  • 향상된 사용자 환경을 위한 최적화된 화면 프레임 설계
  • 옵티머스 2는 표준 TKD 화면과 계속 호환됩니다(중앙 다이오드 제외)

혜택

EDS 및 TKD 매핑과 결합된 SEM의 STEM

OPTIMUS Vue의 중앙 다이오드는 밝은 필드(BF)와 같은 이미징 기능을 제공하는 한편, 온축 TKD 매핑 위치에 있어 새로운 적용 가능성을 위한 길을 열어주며 나노 물질 및 나노 구조를 특성화할 때 전반적인 시스템 성능을 더욱 향상시춥니다.

옵티머스 Vue의 SEM 기능에서 새로운 STEM의 주요 이점

  • TKD 맵을 획득하기 전에 빔 초점 과 난시 설정을 최적화하기에 이상적인 조건을 제공하는 OPTIMUS Vue의 중앙 다이오드를 통해 향상된 공간 해상도를 제공합니다.
  • 시간 해결 측정을 위한 새로운 ESPRIT TRM 기능을 사용하여 SEM에서 의 내 시차 실험 중 전자 투명 시료의 거의 실시간 시각화.
  • 향상된 데이터 무결성 – 고품질 및 높은 디테일 BF와 같은 이미지는 ESPRIT 드리프트 교정 기능에서 사용하는 이미지 상관 알고리즘에 이상적인 입력 데이터입니다. 드리프트 보정 정확도의 결과 이득은 TKD 맵에 특히 도움이 될 것이며, 수십 나노미터의 빔 또는 샘플 드리프트조차도 맵에서 보이는 아티팩트를 생성합니다.
  • 생산성 향상 – BF와 같은 이미지는 새로운 ESPRIT MaxYield 기능을 사용하여 비나화할 수 있으며, 이후 나노 입자 나 나노로드와 같은 희소한 샘플에 대한 관심 영역을 효율적으로 매핑하기 위한 마스크로 사용할 수 있습니다.
  • 새로운 ESPRIT FIL TKD(풀 몰입 렌즈 TKD) 기능의 교정 절차 중 편리성, 효율성 및 성공은 사상 처음으로 전체 침수 렌즈 모드를 사용하는 TKD 매핑을 가능하게 하며, 특정 전자 컬럼의 초고해상도(UHR) 모드로도 알고 있습니다.
이미지는 아론 린덴버그와 미국 스탠포드 대학에서 그의 그룹의 호의입니다

고유한 기능

연구 및 기술의 발전을 지원하는 고유한 기능