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Nanoskalige Infrarotspektroskopie

Vergleich von AFM-IR und s-SNOM

AFM-IR und s-SNOM sind komplementäre Techniken mit unterschiedlichen Stärken. Mit dem nanoIR3-s können Sie je nach Probe und Messung eine Konfiguration wählen, die über eine oder beide Techniken verfügt.

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AFM-IR und s-SNOM sind komplementäre Techniken mit unterschiedlichen Stärken. Mit dem nanoIR3-skönnen Sie je nach Proben- und Messbedarf eine Konfiguration wählen, die über eine oder beide Techniken verfügt. AFM-IR erkennt direkt Licht, das von der Probe absorbiert wird, mit der AFM-Sondenspitze, um die wärmeausdehnung zu erfassen. Diese wärmende Ausdehnung hängt in erster Linie vom Absorptionskoeffizienten der Probe ks ab und ist weitgehend unabhängig von anderen optischen Eigenschaften der Spitze und der Probe. Die AFM-IR-Technik wird daher für Messungen bevorzugt, bei denen ein genaues Absorptionsspektrum gewünscht wird. AFM-IR zeichnet sich durch die hohe wärmende Ausdehnung dieser Materialien durch Weichstoffstudien aus.

s-SNOM erkennt Licht, das von Nanometer-Skalabereichen direkt unter der AFM-Sondenspitze gestreut wird. Das verstreute Feld hängt von den komplexen optischen Konstanten sowohl der Spitze als auch der Probe ab und enthält umfangreiche Informationen über nanooptische Phänomene. Referenzproben (z. B. Gold oder Silizium) sind erforderlich, um die Probenantwortbeiträge von der Quelle und der Spitze zu trennen. Möglicherweise ist Unterstützung bei der Modellierung erforderlich, um die Ergebnisse zu interpretieren. s-SNOM ist eine überzeugende Technik zur Abbildung von nanoskaliem Kontrast in optischen Eigenschaften mit unterschiedlichen Anwendungen in fortschrittlichen Materialien, Geräten und grundlegenden Licht-/Materie-Wechselwirkungen. s-SNOM eignet sich am besten für harte Materialien, die stark mit Licht interagieren.