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FT-IR-Spektrometer VERTEX 80/80v

Die FT-IR-Vakuum-Spektrometer VERTEX 80 und VERTEX 80v basieren auf dem aktiv justierten UltraScan™-Interferometer, das eine spektrale PEAK-Auflösung bietet. Der präzise lineare Gaslager-Scanner und die PEAK-Qualitätsoptik garantieren die ultimative Empfindlichkeit und Stabilität. Das VERTEX 80v ist eine evakuierbare Optik, die Absorptionen durch atmosphärische Feuchtigkeit für ultimative Empfindlichkeit und Stabilität beseitigen kann, womit anspruchsvolle Experimente wie z. B. hohe Auflösung, ultraschneller RapidScan, Step-Scan oder UV-Spektralbereichmessungen ermöglicht werden. Das Optik-Design des VERTEX 80/80v bietet PEAK-Flexibilität und gleichzeitig PEAK-Instrumentleistung. Die einzigartige DigiTect™-Technologie von Bruker Optics verhindert externe Signalstörungen, garantiert das beste PEAK Signal-zu-Rausch-Verhältnis und ermöglicht einen einfachen und reproduzierbaren Detektoraustausch durch den Benutzer des Instruments. Die beiden optionalen externen Detektoranschlüsse sind für die flüssig He gekühlten Bolometer- und "hot-electron"-Detektoren vorgesehen. In Kombination mit der externen wassergekühlten Hochleistungs-Hg-Bogenquelle ist der jüngst wiederentdeckte Terahertz-Spektralbereich sogar mit einem bei Raumtemperatur betriebenen DTGS-Detektor zugänglich.

Breiter Spektralbereich

Das VERTEX 80/80v kann optional mit optischen Komponenten ausgestattet werden, die den gesamten Bereich vom fernen IR (oder "Terahertz") zum mittleren und nahen IR sowie den sichtbaren bis ultravioletten Spektralbereich erfassen. Durch vorjustierte optische Komponenten und das aktiv justierte UltraScan™-Interferometer sind der Wechsel des Messbereichs und die Wartung des Spektrometers einfach vom Anwender durchführbar.

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BMS-c: Bruker bietet für das VERTEX 80v Vakuum-Spektrometer die hochpräzise BMS-c Strahlenteilerwechseloption an.

Damit wird der ferngesteuerte automatische Wechsel von bis zu vier verschiedenen Strahlenteilern unter Vakuumbedingungen möglich. Jetzt kann ein Spektrum im gesamten Spektralbereich vom UV/VIS bis zum fernen IR/THz aufgenommen werden, ohne die Spektrometeroptik zum manuellen Strahlenteilerwechsel belüften zu müssen.

NEU: Bruker hat die verfügbaren Strahlenteiler mit einem neuen breitbandigen Fern-IR-/THz-Strahlenteiler für die VERTEX 80/80v FT-IR-Spektrometerserie erweitert. Insbesondere für die Erforschung und Entwicklung von halbleitenden und inorganischen Materialien bietet der neue Festkörper-Strahlenteiler zusätzliche Anwendungsvorteile, da er nominell den Spektralbereich von über 900 cm-1 bis zu ca. 5 cm-1 in einer Messung abdeckt und das mittlere IR mit den langwelligen FIR-/THz-Wellenlängen verbindet.

Optische Auflösung

Die Standardkonfiguration des VERTEX 80/80v bietet eine apodisierte spektrale Auflösung von besser als 0,2 cm-1. Diese ist für Messungen in der Gasphase bei Umgebungsdruck und bei Raumtemperatur ausreichend. Für anspruchsvolle Applikationen bei z. B. tiefen Temperaturen, an mono-kristallinen Halbleitermaterialien oder für Gasphasenmessungen bei niederen Drücken, steht die optionale PEAK-Auflösung von besser als 0,06 cm-1 zur Verfügung. Dies ist die höchste spektrale Auflösung, die mit einem kommerziellen FT-IR-Tisch-Spektrometer erzielt wird. Im sichtbaren Spektralbereich wird ein Auflösungsvermögen (Verhältnis der Wellenzahl ν dividiert durch die spektrale Auflösung ∆ν) besser als 300.000:1 erzielt.

Flexibilität

Die innovative Konstruktion der Optik ergibt ein FT-IR-Forschungsspektrometer mit bester Flexibilität und Erweiterbarkeit. Die evakuierbare Optik gewährleistet höchste PEAK-Empfindlichkeit im mittleren, nahen und fernen IR, ohne dass sehr schwache Absorptionen spezieller Proben durch Wasserdampf-Absorptionen der Raumluft überdeckt werden. Mit dem FT-IR-Vakuum-Spektrometer VERTEX 80v können hervorragende Resultate, z. B. im Bereich der Nano-Forschung, mit molekularen Schichten mit weniger als 10-3 Mono-Lagen erzielt werden. Die optische Bank gibt praktisch keine Beschränkungen in Bezug auf Flexibilität: Fünf Strahlausgänge (rechts, vorne und links) und zwei Strahleingänge (rechts und hinten) erlauben den gleichzeitigen Anschluss z. B. einer Elektron-Synchrotron-Strahlungsquelle auf der Rückseite, dem PMA 50 Polarisationsmodulations-Zubehör auf der rechten Seite, einer IR-Faserkopplung am rechten vorderen Ausgang, einem Bolometer-Detektor an der linken Vorderseite und dem HYPERION FT-IR-Mikroskop auf der linken Spektrometerseite.

Die VERTEX 80-Serie ist das ideale Instrument für anspruchsvolle Forschungs- und Entwicklungsanwendungen.

Wenden Sie sich noch heute an unser Vertriebsteam, um mehr über VERTEX 80/80v zu erfahren!

Die eingesetzten Technologien sind durch eines oder mehrere der folgenden Patente geschützt: US 7034944

Externe Zubehöre, Quellen und Detektoren

Die VERTEX 80/80v-Spektrometer sind mit fünf Strahlausgängen und zwei weiteren Strahleingängen  ausgestattet und bieten die Möglichkeit, diese zum Beispiel mit externen Lasern oder Synchrotron-Strahlungsquellen zu verbinden. Zusätzlich kann das Spektrometer einfach mit externen Zubehören, Quellen und Detektoren erweitert werden. Dies schließt folgende Möglichkeiten mit ein:

  • PMA 50 Polarisations-Modulations-Zubehör für VCD und PM-IRRAS
  • PL II Photolumineszenz-Modul
  • RAM II FT-Raman-Modul und das RamanScope III FT-Raman-Mikroskop 
  • TGA-FT-IR-Kopplung
  • FT-IR-Mikroskope der HYPERION-Serie
  • HYPERION 3000 FT-IR-Imaging-System
  • HTS-XT High-Throughput-Screening eXTension
  • IMAC Focal Plane Array macro imaging Zubehör
  • Externe Probenkammer XSA, evakuierbar oder spülbar
  • Vakuumdichte Adaptation einer externen UHV-Kammer
  • Vakuum-PL/PT/PR-Messeinheit
  • Tieftemperaturkryostat mit Kühlung durch Flüssighelium oder ohne flüssiges Kühlmittel
  • Einheit zur Kopplung einer Faseroptik MIR- oder NIR-Fasersonde für Feststoffe und Flüssigkeiten
  • Große Integrationskugeln
  • Autosampler-Zubehöre
  • Externe FIR-Hg-Lampe
  • Einzigartiger Weitbereichs-MIR-FIR-Detektor
  • Festkörper-FIR-/THz-Strahlteiler
  • Externer Emissionsadapter
  • Externe Hochleistung-MIR-Quelle
  • Externe Hochleistung-VIS-Quelle
  • Externe Vakuum-Detektorkammer mit 4 Positionen (für Vakuumspektrometer)
  • Adaptation eines Bolometers für die Detektion im FIR-Bereich
  • Automatischer Stahlteilerwechsler (BMS-c) (für Vakuumspektrometer)

Die VERTEX 80- und VERTEX 80v-Spektrometer sind die High-End-Forschungsgeräte in der VERTEX-Reihe. Ihr innovatives Design der optischen Bank macht sie zu den leistungsfähigsten erhältlichen Laborspektrometern mit Vakuumtechnik oder Trockenluftspülung. Sie bieten den größten verfügbaren Spektralbereich vom UV/VIS (50000 cm-1) bis zum FIR/THz (5 cm-1), die höchste spektrale und zeitliche Auflösung und ein unerreichtes Maß an Flexibilität. Die vielseitigen VERTEX 80/80v-Spektrometer bieten mit ihrer Hochleistungstechnologie die passende Lösung für alle topaktuellen herausfordernden Anwendungen in der Forschung.

Forschung & Entwicklung

  • Kontinuierliche und Step-Scan-Spektroskopie mit Amplituden- und Phasenmodulation
  • Rapid-, interleaved und Step-Scan-Technologie für Experimente mit hoher zeitlicher Auflösung (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • Charakterisierung von periodisch geordneten mikroskopischen Materialien, bekannt als Metamaterialien
  • Hochauflösungsspektroskopie für die Analyse von Gasen mit Auflösungen besser als 0.06 cm-1
  • Vakuum-FT-IR-Spektroskopie an Synchrotroninstallationen
  • Stopped-flow-Methoden für die Untersuchung der Enzymkatalyse
  • Externe Adaptation von Ultrahochvakuum-Messkammern
  • FT-IR-Spektroelektrochemie für in-situ-Untersuchungen von Elektrodenoberflächen und Elektrolyten

Pharma

  • Bestimmung der absoluten Konfiguration von Molekülen (VCD)
  • Bestimmung der Stabilität und der flüchtigen Bestandteile von Medikamenten mit Hilfe thermoanalytischer Verfahren (TGA-FT-IR)
  • Unterscheidung von Polymorphen desselben Wirkstoffes im fernen Infrarotbereich

Polymere und Chemie

  • Identifizierung anorganischer Füllstoffe in Polymerkompositen im fernen Infrarotbereich
  • Dynamische und rheo-optische Untersuchungen von Polymeren
  • Bestimmung flüchtiger Bestandteile und Zuordnung der Zersetzungsprozesse mit Hilfe der thermischen Analyse (TGA-FT-IR)
  • Reaktionsbeobachtung und Reaktionskontrolle (MIR-Fasersonde)
  • Identifizierung anorganischer Mineralien und Pigmente

Oberflächenanalytik

  • Erkennung und Bestimmung von dünnen Schichten und Monolagen
  • Oberflächenuntersuchungen mit Hilfe der Polarisationsmodulations-Technik (PM-IRRAS)

Materialwissenschaft

  • Charakterisierung optischer und stark reflektierender Materialien (Fenster, Spiegel)
  • Untersuchungen von dunklen Materialien und Tiefenprofilierung durch photoakustische Spektroskopie (PAS)
  • Bestimmung des Emissionsvermögens von Materialien

    Halbleiter

    • Bestimmung des Sauerstoff- und Kohlenstoffgehalts in Siliziumwafern
    • Tieftemperaturtransmissions- und Photolumineszenzmessungen (PL) von flachen Störstellen in der Qualitätskontrolle