FT-IR-Spektrometer VERTEX 80/80v

Die FT-IR-Vakuum-Spektrometer VERTEX 80 und VERTEX 80v basieren auf dem aktiv justierten UltraScan™-Interferometer, das eine spektrale PEAK-Auflösung bietet. Der präzise lineare Gaslager-Scanner und die PEAK-Qualitätsoptik garantieren die ultimative Empfindlichkeit und Stabilität. Das VERTEX 80v ist eine evakuierbare Optik, die Absorptionen durch atmosphärische Feuchtigkeit für ultimative Empfindlichkeit und Stabilität beseitigen kann, womit anspruchsvolle Experimente wie z. B. hohe Auflösung, ultraschneller RapidScan, Step-Scan oder UV-Spektralbereichmessungen ermöglicht werden. Das Optik-Design des VERTEX 80/80v bietet PEAK-Flexibilität und gleichzeitig PEAK-Instrumentleistung. Die einzigartige DigiTect™-Technologie von Bruker Optics verhindert externe Signalstörungen, garantiert das beste PEAK Signal-zu-Rausch-Verhältnis und ermöglicht einen einfachen und reproduzierbaren Detektoraustausch durch den Benutzer des Instruments. Die beiden optionalen externen Detektoranschlüsse sind für die flüssig He gekühlten Bolometer- und "hot-electron"-Detektoren vorgesehen. In Kombination mit der externen wassergekühlten Hochleistungs-Hg-Bogenquelle ist der jüngst wiederentdeckte Terahertz-Spektralbereich sogar mit einem bei Raumtemperatur betriebenen DTGS-Detektor zugänglich.

Breiter Spektralbereich

Das VERTEX 80/80v kann optional mit optischen Komponenten ausgestattet werden, die den gesamten Bereich vom fernen IR (oder "Terahertz") zum mittleren und nahen IR sowie den sichtbaren bis ultravioletten Spektralbereich erfassen. Durch vorjustierte optische Komponenten und das aktiv justierte UltraScan™-Interferometer sind der Wechsel des Messbereichs und die Wartung des Spektrometers einfach vom Anwender durchführbar.

NEU: Bruker hat die verfügbaren Strahlenteiler mit einem neuen breitbandigen Fern-IR-/THz-Strahlenteiler für die VERTEX 80/80v FT-IR-Spektrometerserie erweitert. Insbesondere für die Erforschung und Entwicklung von halbleitenden und inorganischen Materialien bietet der neue Festkörper-Strahlenteiler zusätzliche Anwendungsvorteile, da er nominell den Spektralbereich von über 900 cm^-1 bis zu ca. 5 cm^-1 in einer Messung abdeckt und das mittlere IR mit den langwelligen FIR-/THz-Wellenlängen verbindet.

Optische Auflösung

Die Standardkonfiguration des VERTEX 80/80v bietet eine apodisierte spektrale Auflösung von besser als 0,2 cm^-1. Diese ist für Messungen in der Gasphase bei Umgebungsdruck und bei Raumtemperatur ausreichend. Für anspruchsvolle Applikationen bei z. B. tiefen Temperaturen, an mono-kristallinen Halbleitermaterialien oder für Gasphasenmessungen bei niederen Drücken, steht die optionale PEAK-Auflösung von besser als 0,06 cm^-1 zur Verfügung. Dies ist die höchste spektrale Auflösung, die mit einem kommerziellen FT-IR-Tisch-Spektrometer erzielt wird. Im sichtbaren Spektralbereich wird ein Auflösungsvermögen (Verhältnis der Wellenzahl ν dividiert durch die spektrale Auflösung ∆ν) besser als 300.000:1 erzielt.

Flexibilität

Die innovative Konstruktion der Optik ergibt ein FT-IR-Forschungsspektrometer mit bester Flexibilität und Erweiterbarkeit. Die evakuierbare Optik gewährleistet höchste PEAK-Empfindlichkeit im mittleren, nahen und fernen IR, ohne dass sehr schwache Absorptionen spezieller Proben durch Wasserdampf-Absorptionen der Raumluft überdeckt werden. Mit dem FT-IR-Vakuum-Spektrometer VERTEX 80v können hervorragende Resultate, z. B. im Bereich der Nano-Forschung, mit molekularen Schichten mit weniger als 10^-3 Mono-Lagen erzielt werden. Die optische Bank gibt praktisch keine Beschränkungen in Bezug auf Flexibilität: Fünf Strahlausgänge (rechts, vorne und links) und zwei Strahleingänge (rechts und hinten) erlauben den gleichzeitigen Anschluss z. B. einer Elektron-Synchrotron-Strahlungsquelle auf der Rückseite, dem PMA 50 Polarisationsmodulations-Zubehör auf der rechten Seite, einer IR-Faserkopplung am rechten vorderen Ausgang, einem Bolometer-Detektor an der linken Vorderseite und dem HYPERION FT-IR-Mikroskop auf der linken Spektrometerseite.

Die VERTEX 80-Serie ist das ideale Instrument für anspruchsvolle Forschungs- und Entwicklungsanwendungen.

Die eingesetzten Technologien sind durch eines oder mehrere der folgenden Patente geschützt: US 7034944