Anasys IR3 S webslider 2018.065
  • Zwei komplementäre IR-Techniken auf Nanoebene - s-SNOM und AFM-IR
  • Zuordnung der chemischen und optischen Eigenschaften mit einer Auflösung von 10 nm
  • Nano-FTIR-Hochleistungs-Breitbandspektroskopie
  • Korrelative Mikroskopie mit nanoskaliger Eigenschaftszuordnung und voll ausgestattetem Rasterkraftmikroskop
  • „Anasys-Technik“ für Benutzerfreundlichkeit, Produktivität und Zuverlässigkeit

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Datenblatt herunterladen: nanoIR3-s Nano-FTIR Spectroscopy

Nanoir3 Sept2018

Chemische Bildgebung und Spektroskopie mit räumlicher Auflösung von 10 nm

Graphen-Plasmonik

Graphene Plasmons Ill

s-SNOM-Phasen- und Amplitudenbilder von Oberflächenplasmon-Polaritonen (SPP) auf einem Graphenkeil. (links) s-SNOM-Phase mit einem Querschnitt der SPP-Stehwelle; (rechts) s-SNOM-Amplitude. Das obere Bild ist eine 3D-Ansicht des Phasenbildes (links).

Hochauflösende Eigenschaftszuordnung

GrapheneFlakeCrossSection 21

Der Querschnitt durch die Graphenflocke zeigt die optische Eigenschaftsabbildung mit einer Auflösung von unter 10 nm.

Nano-FTIR-Spektroskopie mit höchster Leistung

  • Nano-FTIR-Spektroskopie mit höchster Leistung
  • Hochleistungs-IR-SNOM-Spektroskopie mit der modernsten verfügbaren NanoIR-Laserquelle
  • Nano-FTIR-Spektroskopie mit integrierter DFG, Kontinuum-basierte Laserquelle
    Integration von Breitband-Synchrotronlichtquellen
  • Multi-Chip-QCL-Laserquelle für Spektroskopie und chemische Bildgebung

Ultraschnelle Breitbandstreuungs-SNOM-Spektroskopie zur Ermittlung der molekularen Schwingungsinformationen. Das Laserinterferogramm von Polytetrafluorethylen (PTFE) zeigt eine kohärente molekulare Vibration in Form eines freien Induktionszerfalls im Zeitbereich (oben). Das hervorgehobene Merkmal im Interferogramm der Stichprobe ist auf den Schlag des symmetrischen und antisymmetrischen Modus der C-F-Modi im resultierenden Frequenzbereich zurückzuführen (unten links). Die Monoschichtempfindlichkeit von Nano-FTIR wird an einer Monoschicht-pNTP (unten rechts) demonstriert. Daten mit freundlicher Genehmigung von Prof. Markus Raschke, Universität von Colorado, Boulder, USA

PTFI spectrograph group

POINTspectra-Technologie

PointSpectroscopy data b

POINTspectra-Laser ermöglichen sowohl die Spektroskopie als auch die Abbildung hochauflösender optischer Eigenschaften über einen breiten Wellenlängenbereich.

  1. Auswählen des zu messenden Merkmals im Bild des Rasterkraftmikroskops
  2. Messen der Spektroskopie der Probe und auswählen der Wellenlänge von Interesse
  3. Erstellen einer hochauflösenden optischen Eigenschaftskarte

Bilder mit einer räumlichen Auflösung von 10 nm von Amplitude und Phase werden schnell von Interferogrammen über einen Wellenlängenbereich gemessen. Ermöglicht das AFM-IR-Tapping mit 10nm-Auflösung für eine komplementäre, einzigartige IR-Spektroskopie.