Spectroscopie infrarouge à l’échelle nanométrique

nanoIR Upgrades

Améliorez votre plate-forme nanoIR et développez votre capacité de mesure

Tapoter AFM-IR

<10 nm Imagerie chimique à résolution spatiale

Le nouveau mode breveté Tapping AFM-IR est une nouvelle capacité passionnante qui fournit une résolution spatiale de 10 nm pour l’imagerie chimique ainsi que la sensibilité à la mesure des monocouches et étend la capacité du nanoIR à un plus large éventail d’échantillons. L’aFM-IR permet d’utiliser la technologie nanoIR, de sorte qu’une résolution de mesure optimale est obtenue facilement et rapidement.

Disponible sur les plates-formes nanoIR2/2-s et nanoIR1.

Caractérisation chimique de l’échantillon de co-polymère de bloc PS-P2VP par Tapping AFM-IR. a) Appuyer sur l’image de hauteur de l’AFM; b) Appuyer sur les spectres de l’AFM-IR identifiant clairement chaque composant chimique; c) Appuyer sur l’image de superposition AFM-IR mettant en évidence les deux composantes (PS@ 1492 et P2 VP@ 1588); d) Section transversale de profil mettant en évidence la résolution spatiale réalisable, 10 nm. Exemple de courtoisie du Dr Gilles Peccastaings et Antoine Ségolène à l’Université de Bordeaux.

FASTspectra OPO Mid-IR Laser

Nylon 12 nanoIR spectre mesuré avec les deux fastspectra OPO et FASTspectra QCL lasers. Les régions importantes de c-h, d’étirement N-H et de OH sont maintenant activées avec de riches données interprétables.

Le nouveau laser OPO à pouls élevé étend la gamme de longueurs d’onde de l’AFM-IR amélioré par résonance pour couvrir les numéros d’onde de 2700 à 3600 cm⁻¹, ce qui étend la capacité à d’importantes régions spectroscopiques d’un large éventail d’échantillons.

Le nouveau laser OPO intègre également fastspectra™, une technologie exclusive fournissant la mesure des spectres IR à grande vitesse en quelques secondes, améliorant le temps aux données et permettant une compréhension plus détaillée de l’échantillon. Le laser FASTspectra OPO complète l’option laser FACSTspectra QCL standard qui offre une couverture à partir de
950-1900 cm⁻¹.

Disponible sur les plates-formes nanoIR3 et nanoIR3-s,nanoIR2/2-s et nanoIR1.

Contrôle de polarisation

Permet aux utilisateurs d’étudier l’orientation moléculaire avec une résolution spatiale à l’échelle nanométrique en modifiant la polarisation d’entrée de la lumière IR tout en étudiant les changements associés dans les spectres IR à l’échelle nanométrique et/ou les cartes chimiques à un certain nombre d’ondes.

Disponible sur les plates-formes nanoIR3 et nanoIR3-s,nanoIR2/2-s et nanoIR1.

(Gauche) Spectres AFM-IR sur les fibres pvdf électrospun sous deux polarisations IR différentes; (Droite) Image d’absorption d’IR à 1404 cm⁻¹ de fibres PVDF croisées sous éclairage polarisé (direction de polarisation montrée par flèche).

Enceinte environnementale

Permet de contrôler l’humidité dans un environnement clos. Le contrôle de l’humidité passe de 4% à 95%, non-condensation. Disponible sur les nanoIR3 et nanoIR3-s.

Accessoire d’imagerie fluide

Accessoire pour l’imagerie fluide. Contactez Bruker pour les mises à niveau des systèmes installés. Disponible sur les plates-formes nanoIR3 et nanoIR3-s,nanoIR2/2-s et nanoIR1.

Système de chauffage/refroidisseur d’échantillon

Fournit le chauffage et le refroidissement sur une gamme pratique de 4°C à 80°C. Lorsqu’il est utilisé avec une enceinte environnementale distincte, une plage de travail de -20°C à 80°C est disponible. Disponible sur les nanoIR3 et nanoIR3-s.

Mode de résonance de contact Lorentz

Image composite LCR réalisée en sursassant les amplitudes LCR recueillies à trois résonances de contact différentes. Ces résonances ont été sélectionnées pour mettre en évidence les rapports variables de la lignine et de la cellulose qui composent l’échantillon.

Options logicielles, sondes et échantillons

Permet à l’utilisateur d’étudier l’orientation moléculaire avec la résolution spatiale à l’échelle nanométrique en modifiant la polarisation d’entrée de la lumière IR tout en étudiant les changements associés dans les spectres IR à l’échelle nanométrique et /ou les cartes chimiques à un certain nombre d’ondes.

Disponible sur tous les systèmes Anasys nanoIR.

Modules d’application

Disponible en modules plug-in pour les systèmes nanoIR3 et nanoIR3-s et fournir une cartographie complémentaire à l’échelle nanométrique avec l’analyse thermique à l’échelle nanométrique, l’AFM conducteur et Kelvin Probe Force capacités de microscopie.

Commutateur laser

Permet aux utilisateurs de basculer entre les sources laser OPO et QCL sur les systèmes équipés des deux lasers. Disponible sur les nanoIR3 et nanoIR3-s.

Analyse thermique nano

Permet à l’utilisateur de sélectionner n’importe quel point (ou série de points) sur l’image de l’AFM pour obtenir des températures de transition localisées, c’est-à-dire Tg et Tm, d’imager les températures de transition à travers la surface de l’échantillon via le mode de microscopie de température de transition (TTM) et de recueillir des cartes de la surface de l’échantillon montrant la variation de la conductivité thermique relative ou de la température relative à travers la surface (SThM). Disponible sur tous les systèmes Anasys nanoIR et en complément de certains AFM tiers.

Direction de l’AFM (CAFM)

Permet à l’utilisateur d’obtenir des cartes simultanées de la hauteur et du débit actuel de la surface de l’échantillon. Disponible sur les plates-formes nanoIR3 et nanoIR3-s,nanoIR2/2-s et nanoIR1.

Microscopie de force de sonde de Kelvin (KPFM)

Acquérir des mesures potentielles de surface. Disponible sur les plates-formes nanoIR3 et nanoIR3-s,nanoIR2/2-s et nanoIR1.