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XRM

La XRM 3D pour la science des matériaux

Le portfolio de microscopes 3D à rayons X (XRM) de Bruker offre des solutions clés pour l’imagerie 3D non destructive d’une grande variété d’applications industrielles et scientifiques. Cela comprend la détection des défauts de coulée, l’usinage et la fabrication additive, l’inspection d’assemblages électromécaniques complexes, les emballages pharmaceutiques, les outils médicaux avancés, la porosité et l’analyse de la taille des grains dans les échantillons géologiques, et la microscopie in situ.

Une nouvelle dimension pour la microscopie

Les microscopes 3D à rayons X (XRM) de Bruker combinent le matériel de microtomographie (micro-ct) avec une solution complète de logiciels spécialisés dans la visualisation microscopique. Allant des bancs de micro-résolution aux instruments de sol de nanorésolution, les solutions XRM de Bruker offrent l’équilibre parfait entre la facilité d’utilisation et la puissance.

De la mesure de la porosité dans les spécimens géologiques à l’épaisseur de revêtements multiples des comprimés pharmaceutiques ou à la structure d’interconnexion des circuits électroniques de puces et panneaux, la XRM permet une analyse rapide à plusieurs échelles. La nature non destructive de la XRM permet la validation à un nouveau niveau de l’intégrité des composants apportant le controle de qualité (QC) des techniques de fabrication telles que la fabrication additive.

Le logiciel de Bruker fournit des interfaces simples à boutons poussoirs pour les techniciens et les chercheurs novices et d’une profondeur exceptionnelle pour les experts qui cherchent à repousser les limites de leurs échantillons et de la technique. La reconstruction est réalisée avec les derniers algorithmes pilotés par GPU fournissant des résultats de larges ensembles de données en une fraction de temps. L’ensemble des programmes d’analyse inclus dans le logiciel permet à la fois des visualisations qualitatives et des études quantitatives.

Spécifications des XRM pour la science des matériaux

Spécification

SKYSCAN 1275

SKYSCAN 1272

SKYSCAN 1273

SKYSCAN 2214

Dimensions extérieures (l x l x h, mm)

1040 x 665 x 400

1160 x 520 x 330

1250 x 820 x 815

1800 x 950 x 1680

Poids (sans électronique optionnelle)

170 kg

150 kg

400 kg

1500 kg

Source

20-100 kV

20-100 kV

40-130 kV

20-160 kV

Détecteur

écran plat de 3 mp

11 Mp CCD

16 Mp CCD

écran plat de 6 mp

écran plat de 6 mp

11 Mp grand CCD

11 Mp medium CCD

8 Mp hi-res CCD

Taille maximale de l’échantillon (Diam, hauteur)

96 mm, 120 mm

75 mm, 70 mm

300 mm, 500 mm

300 mm, 400 mm

Résolution minimale (Voxel, Spatial)

< 4 µm, <8 µm

<0.35 µm, <4 µm

< 3 µm, < 6 µm

60 nm, <500 nm

Logiciel de mesure, de reconstruction et d’analyse

Inclus

Inclus

Inclus

Inclus

POSITION, SCAN, RECONSTRUCT…

Position

La vue en temps réel de l‘échantillon et les paramètres d’analyse par défaut mis à jour de manière pro-active permettent le lancement rapide de l’analyse.

Numériser

Les radiographies peuvent être vues en temps réel permettant la surveillance de l’échantillon au cours de la mesure. Les mesures peuvent être effectuées par lots pour assurer l’utilisation continu du système.

NRECON

Dirigé par GPU, l‘algorithme de pointe aboutit à la reconstruction du modèle 3D en une fraction du temps de calcul traditionnel.