JA
My Bruker
お問合せ
製品とソリューション
アプリケーション
サービス
ニュースとイベント
キャリア
企業情報
少なくとも2文字を使用してください (現在1文字を使用しています) 。
Languages
Deutsch
English
Español
Français
Italiano
Polski
Português
Русский
中文
日本語
한국어
全反射蛍光Ⅹ線元素分析装置(TXRF)
極微量元素解析用卓上型 TXRF
全反射蛍光分析(TXRF)は、様々なサンプルに対する微量元素分析のための確立された方法です。
S2 PICOFOX
ngまたはμgの範囲の非常に少ないサンプル量の極微量(サブppb)元素分析のための持ち運び可能なTXRF分光計:低い操作コスト、クリーンな技術
詳細はこちら
S4 T-STAR
pg、ngまたはμgの範囲の非常に少ないサンプル量の極微量(サブppb)元素分析のためのハイエンドTXRF分光計:低い操作コスト、クリーンな技術
詳細はこちら
Live from the Lab Recordings
June 12, 2025
S4 E12: Trace Elemental Analysis with Minimal Sample Prep
In this session, Noah, our TXRF application scientist will walk you through the core principles of TXRF, discuss differences compared to ICP techniques, and share real-world examples across industries like food safety, pharmaceuticals, and environmental testing.
コンタクト
販売担当に連絡
ソフトウェア&マニュアル
サービスに連絡
ブルカーオフィス
消耗品とスペア
お見積り依頼