Bruker
製品とソリューション アプリケーション サービス ニュースとイベント キャリア 企業情報
少なくとも2文字を使用してください (現在1文字を使用しています) 。

Languages

全反射蛍光Ⅹ線元素分析装置（TXRF）

極微量元素解析用卓上型 TXRF 

全反射蛍光分析(TXRF)は、様々なサンプルに対する微量元素分析のための確立された方法です。

S2 ピコフォックス TXRF 分光計

S2 PICOFOX

ngまたはμgの範囲の非常に少ないサンプル量の極微量（サブppb）元素分析のための持ち運び可能なTXRF分光計:低い操作コスト、クリーンな技術
詳細はこちら
S4 T-STAR TXRF分光計

S4 T-STAR

pg、ngまたはμgの範囲の非常に少ないサンプル量の極微量（サブppb）元素分析のためのハイエンドTXRF分光計:低い操作コスト、クリーンな技術
詳細はこちら
t-aero-product-teaser

T-AERO Package

TXRF spectrometer extension for in-field sampling of airborne particulate matter (PM) and direct analysis of heavy metals.
詳細はこちら

TXRF分光法について詳しく知る 

TXRF principle

How does TXRF work?

During total reflection X-ray fluorescence analysis an aircooled X-ray tube generates an X-ray beam, which is reduced to a narrow energy range by a multi-layer monochromator.
詳細はこちら
LftL-S4-E12-Trace-Elemental-Analysis-Teaser

Trace Elemental Analysis with Minimal Sample Prep

In this session, Noah, our TXRF application scientist will walk you through the core principles of TXRF, discuss differences compared to ICP techniques, and share real-world examples across industries like food safety, pharmaceuticals, and environmental testing.
Watch Webinar

コンタクト