Bruker
Продукты и решения Применения Услуги Новости и события О нас карьера
Пожалуйста, используйте как минимум 2 символа (в настоящее время вы используете 1 символ).

Languages

  • Deutsch
  • English
  • Español
  • Français
  • Italiano
  • Polski
  • Português
  • Русский
  • 中文
  • 日本語
  • 한국어

TXRF Spectrometers

Benchtop TXRF Spectrometers for Trace Element Analysis

Total reflection X-ray fluorescence spectrometry (TXRF) is a well-established method for trace element analysis on a variety of samples.

S2 PICOFOX TXRF-Spektrometer

S2 PICOFOX

Transportable TXRF spectrometer for ultra-trace (sub-ppb) elemental analysis of very small sample amounts in the ng or µg range: low operating cost, “green” technology
Подробнее
S4 T-STAR TXRF spectrometer

S4 T-STAR

High-volume TXRF spectrometer for ultra-trace (sub-ppb) elemental analysis of very small sample amounts in the pg, ng or µg range: low operating cost, “green” technology
Подробнее
t-aero-product-teaser

T-AERO Package

TXRF spectrometer extension for in-field sampling of airborne particulate matter (PM) and direct analysis of heavy metals.
Подробнее

Learn More about Total X-Ray Reflection Fluorescence Spectroscopy

TXRF principle

How does TXRF work?

During total reflection X-ray fluorescence analysis an aircooled X-ray tube generates an X-ray beam, which is reduced to a narrow energy range by a multi-layer monochromator.
Подробнее

Контакт

Связаться с отделом продаж
Программное обеспечение и руководства
Офисы Bruker
Запросить ценовое предложение
Bruker
© Copyright Bruker 2026
Imprint Условия использования Политика конфиденциальности Уведомление об использовании файлов cookie