顕微鏡 | Bruker

マテリアルAFM

ブルカーの材料研究用原子間力顕微鏡マテリアルAFMは、独自のPeakForce Tapping®技術を搭載しており、新しいナノメカニクス、ナノ電気、ナノ電気化学の研究を進めるのに貢献。1日に3本の査読付き論文が発表されています。

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インダストリーAFM

自動化で生産性を向上させる産業用R＆D AFMソリューション

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ライフサイエンス向けAFM

物理構造、生化学的相互作用、機械的性質を含むライフサイエンス研究への知見を提供

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光ピンセット

フォース検出付き光ピンセットと光トラップ

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マテリアルサイエンス向けの3D XRM

ブルカーの3D X線顕微鏡(XRM)のポートフォリオは、さまざまな産業および科学アプリケーションの非破壊3Dイメージングの包括的ソリューションです。これには、鋳造、機械加工、アディティブマニュファクチャリングにおける欠陥検出、複雑な電気機械アセンブリの検査、医薬品包装、高度な医療機器、地質サンプルの空隙率と粒径分析、In-situ顕微鏡法などが含まれます。

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most comprehensive compositional and structural analysis of materials

電子顕微鏡アナライザー

SEM/TEM分析力を拡張するために、Brukerの電子顕微鏡分析装置EDS、WDS、EBSDおよびMicro-XRF SEM上の先端材料研究、プロセス開発および故障分析のための分析ソフトウェアを含む材料の最も包括的な組成および構造分析を提供する。

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