ケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM)

幅広いサンプルで高空間分解能の表面電位測定を実現

金属や半導体のナノ構造は、バイオセンサーから太陽電池に至る、幅広い装置の中で用いられています。研究者は、ナノ構造や表面、デバイスの表面電位の測定におおいに興味を持ちます。というのも、そうした特性が局所的な化学現象や物理現象に大きな影響を及ぼすからです。ケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM) モードは、様々なサンプルの高分解の能表面電位分布およびト形状測定が可能です。

ブルカーでは、画期的な タッピングモード™ 技術をベースにした2つのKPFMモードを提供しています。

  • KPFM (表面電位モードとも呼ばれる): 振幅変調KPFM、共振するプローブの振幅の変化にフィードバックをかける
  • KPFM-FM: 周波数変調KPFM、プローブの共振周波数の変化にフィードバックをかける(Dimension IconおよびMultiMode 8にのみ適用)

PeakForce KPFM™アクセサリーは、上記のKPFMモードのほか、ブルカーが特許を有する PeakForce Tapping™ 技術をベースにした強力なKPFMモードを含みます。

KPFMモードを搭載するブルカーのAFMシステム:

推奨されるAFMプローブ:

Kelvin probe force microscopy 1
Composite image of the topography and surface potential of a laser diode (8um scan).