3D X선 현미경 (XRM)

SKYSCAN 1272 CMOS Edition

고해상도 3D X선 현미경

샘플의 선명한 3D 뷰

하이라이트

하이라이트

0.6 m²
Footprint
모든 실험실에 적합한 데스크톱 시스템
16포지션
외부 샘플 체인저
무인 고처리량 분석
CMOS
검출기 기술
고대비 이미지

SKYSCAN 1272 – 고해상도 XRM

SKYSCAN 1272 CMOS Edition은 신뢰할 수 있는 SKYSCAN 1272 데스크탑 X선 현미경 플랫폼을 기반으로 하며 최신 X선 기술을 통합하여 XRM을 다음 단계로 끌어 올립니다.


최첨단 1600만 화소 CMOS X선 검출기는 뛰어난 해상도의 고대비 이미지를 제공합니다. 확장된 검출기 시야와 X선에 대한 향상된 감도는 스캔 시간을 최대 2배까지 단축합니다.

SKYSCAN 1272 CMOS는 Genius-Mode로 매개변수의 자동 선택을 제공합니다. 한 번의 클릭으로 확대, 에너지, 필터, 노출 시간 및 배경 보정을 모두 자동으로 최적화할 수 있습니다.


무인 고처리량 스캐닝을 위해 16개 위치 샘플 교환기를 선택적으로 사용할 수 있습니다.
SKYSCAN 1272 CMOS는 3D.SUITE로 보완됩니다. 이 포괄적인 소프트웨어 제품군은 GPU 가속 재구성, 2D/3D 형태 분석, 표면 및 볼륨 렌더링 시각화를 다룹니다.

특징

주요 기능

SKYSCAN 1272 CMOS 기능

Genius Mode

SKYSCAN 1272 CMOS 는 Genius-Mode로 매개 변수의 자동 선택을 제공합니다. 한 번의 클릭으로 확대, 에너지, 필터, 노출 시간 및 배경 보정을 자동으로 최적화 할 수 있습니다.

또한, 샘플과 대형 CMOS 카메라 모두 소스에 최대한 가깝게 배치될 수 있으며, 이는 측정된 강도를 실질적으로 증가시킵니다. SKYSCAN 1272 CMOS 가 고정 카메라 위치를 사용하는 기존 시스템에 비해 최대 5배 빠르게 스캔되는 이유입니다.

 

SKYSCAN 1272 CMOS 기능

Sample changer

SKYSCAN 1272 CMOS 에는 QC 및 일상적인 분석을 위한 처리량을 늘리기 위해 외부 16포지션 샘플 체인저를 선택적으로 장착할 수 있습니다.

샘플 체인저는 최대 직경 25mm까지 다양한 샘플 크기를 수용합니다.

진행중인 스캔 프로세스를 중단하지 않고 언제든지 샘플을 쉽게 교체할 수 있습니다. 새로운 샘플이 자동으로 감지되고, LED는 모든 스캔의 상태(준비, 스캔, 완료)를 나타냅니다.

 

SKYSCAN 1272 CMOS 기능

In-situ stages

브루커 재료 테스트 스테이지는 최대 4400 N 및 인장 실험을 440 N까지 수행하도록 설계되었습니다. 모든 스테이지는 케이블 연결 없이 시스템의 회전 스테이지를 통해 자동으로 통신됩니다. 제공된 소프트웨어를 사용하여 예약된 스캔 실험을 설정할 수 있습니다.

브루커의 가열 및 냉각 스테이지는 최대 +80ºC 또는 주변 온도보다 30ºC 의 낮은 온도에 도달할 수 있습니다. 다른 스테이지와 마찬가지로 추가 연결이 필요하지 않으며 스테이지를 자동으로 인식할 수 있습니다. 가열 및 냉각 스테이지를 사용하여 샘플은 non-ambient 조건에서 검사하여 샘플의 미세 구조에 대한 온도의 영향을 평가할 수 있습니다.

SKYSCAN 1272 CMOS
성능 저하없이 외부 냉각수 또는 특수 전력 없음 : 오늘날의 생태학적 및 경제적 요구에 맞게 설계되었습니다.

 

SKYSCAN 1272 CMOS
통합 진동 차단과 같은 스마트 솔루션과 설계는 완벽한 전체를 형성합니다.

응용

주요 애플리케이션

SKYSCAN 1272 CMOS

섬유 및 복합재료

Volume rendering of an FFP2 mask, fibers are color coded by the local orientation

재료를 복합재료로 결합하면 그 결과 성분이 강도를 크게 줄이면서 강도를 크게 감소시킬 수 있다. 추가 최적화는 하위 구성 요소의 방향이 최적화되도록 보장하는 것입니다. 사용되는 고전적인 구성 요소 중 하나는 콘크리트의 강철 철근, 전자 부품의 유리 섬유, 항공 재료의 탄소 나노 튜브에 이르는 섬유입니다. XRM은 단면화 없이 섬유와 복합재를 검사할 수 있으므로 시료의 상태가 시료 준비의 영향을 받지 않도록 합니다.

  • 임베디드 객체의 방향
  • 층 두께, 섬유 크기 및 분리의 정량화
  • 액세서리 스테이지를 통한 in-situ 온도 및 물리적 특성 테스트
SKYSCAN 1272 CMOS

제약

픽셀 크기 0.45 μm의 장용 코팅 과립 형태의 경구 의약품. 코팅은 3층으로 구성되며, 외부 층은 두께에 따라 색으로 구분됩니다.

새로운 제약의 개발은 시간이 많이 걸리고 비용이 많이 들며, 노력이 필요합니다. XRM은 제품 제형 단계에서 제품의 내부 구조에 대한 즉각적인 피드백을 제공하여 출시 시간을 단축할 수 있습니다.

테이블 압축 밀도 결정

코팅 두께 균일성 측정

API 배포 평가

압축된 테이블에서 스트레스로 인한 미세 균열 감지

기계적 특성 테스트를 위해 in-situ 압축 적용

SKYSCAN 1272 CMOS

Foams

재구성 된 데이터의 다중 볼륨 이미지와 폼 셀의 직경과 개방 셀 니켈 폼 스트럿의 중공 특성을 모두 보여주는 색상 코드 구조 분리. 1.0µm 픽셀 크기.

Foam은 산업 응용 프로그램에 널리 사용됩니다. 단열재 또는 방음재, 보호 부품의 충격 흡수재, 필터로 사용되는지 여부는 폼의 재질과 구조적 특성에 따라 다릅니다.
XRM은 비파괴 방식으로 폼의 3D 내부 구조를 시각화할 수 있습니다.

로컬 스트럿의 구조적 두께 결정

기공 네트워크를 시각화하기 위한 구조 분리 결정

압축 및 인장 단계로 in-situ 기계적 테스트 적용

개방 및 폐쇄된 다공성의 수준을 정량화

사양

SKYSCAN 1272 CMOS Specifications

Feature

Specification

Benefit

X-ray source

40 – 100 kV

10 W

< 5 µm spot size at 4 W

Maintenance-free sealed X-ray source

Fast scans for QC, or 4D XRM

X-ray detector

16 MP sCMOS detector (4096 x 4096 pixels)

Fine-pitched detectors for achieving highest resolution

Object size

75 mm diameter

80 mm height

Capable to scan from small to medium large sample sizes

Sample changer

(optional)

16 samples up to 25 mm diameter

External access

Unattended high throughput

Any combination of large and small samples

Add/remove samples at any time without interrupting the actual scan

Dimensions

W 1160 mm x D 520 mm x H 330 mm

Weight 150 kg

Space-saving desktop system that fits in every lab

Power supply

100-240V AC, 50-60Hz, 3A max.

Minimum installation requirements, a standard power supply suffices

소프트웨어

포지션, 스캔, 재구성 및 분석

Bruker XRM 솔루션에는 데이터를 수집하고 분석하는 데 필요한 모든 소프트웨어가 포함됩니다. 사용자 유도 매개 변수 최적화가 있는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스는 전문가 및 초보 사용자 모두를 지원합니다. 최신 GPU 기반 알고리즘을 사용 하 여 재구성 시간이 크게 줄어듭니다. CTVOX, CTAN 및 CTVOL이 결합하여 모델의 질적 및 정량적 분석을 위한 강력한 소프트웨어 제품군을 형성합니다.

측정 소프트웨어:
SKYSCAN 1272 – 계측기 제어, 측정 계획 및 수집

재건 소프트웨어:
NRECON – 2D 프로젝션 이미지를 3D 볼륨으로 변환

분석 소프트웨어:
DATAVIEWER – 3D 볼륨의 슬라이스별 검사 및 2D/3D 이미지 등록
CTVOX – 볼륨 렌더링에 의한 사실적인 시각화
CTAN – 2D/3D 이미지 분석 및 처리
CTVOL – CAD 또는 3D 프린팅을 위해 내보낼 표면 모델의 시각화

 

웨비나

지원

서비스 및 지원

우리는 다음을 제공합니다.

  • 고도로 숙련된 문제 해결 전문가의 헬프 데스크 지원, 하드 및 소프트웨어 문제 격리 및 해결
  • 서비스 진단 및 애플리케이션 지원을 위한 웹 기반 원격 계측기 서비스
  • 병합된 현실 지원 – 당신의 측면에 가상 엔지니어 (동영상)
  • 귀하의 요구 사항에 따라 계획된 유지 보수
  • 고객 현장 수리 및 유지 보수 서비스
  • 일반적으로 야간 또는 전 세계 근무일 기준 며칠이내의 예비 부품 가용성
  • 설치 적격성, 운영 적격성 /성능 검증을 위한 규정준수 서비스
  • 부지 계획 및 이전
  • 다음 교육 과정 찾기

우리의 지원 웹사이트 방문해보세요 :

  • 소프트웨어 업데이트
  • 제품 메뉴얼 및 설치 가이드
  • 교육 동영상

등록이 필요합니다.