X4 POSEIDON

모듈형

분석 요구에 맞는 시스템 맞춤 설정.

효율적인

rozor-sharp 대비로 2 µm 크기의 세부 구조도 선명하게.

접근성

직관적인 사용자 인터페이스와 간단한 워크플로우로 빠르고 원활한 작업 가능.

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Material Science Brochure

Life Science Brochure

The Future of Micro-CT and 3D X-Ray Microscopy

The X4 POSEIDON is a powerful micro-computed tomography machine that delivers the functionality of a floor-standing system in a compact benchtop design.

Micro-CT, also known as 3D X-ray microscopy (3D XRM), is an advanced imaging technique that provides an in-depth 3D view of samples for biomedical, life and materials science.

마이크로 CT 및 3D X-선 현미경의 미래

X4 POSEIDON은 플로어 스탠딩 시스템의 기능을 컴팩트한 벤치탑 디자인에 담은 강력한 마이크로 컴퓨터 단층촬영 장비입니다.

마이크로 CT(3D X-선 현미경, 3D XRM)는 생명과학, 생물의학, 재료과학 분야에서 샘플을 3차원으로 심층 분석할 수 있는 첨단 이미징 기술입니다.

X4 POSEIDON - 한눈에 보기:

X4 POSEIDON은 SKYSCAN 1272 및 1275의 성공을 기반으로 한 최첨단 고해상도 3D X-선 이미징 시스템입니다.
X4 POSEIDON의 모듈형 하드웨어와 사용자 중심 소프트웨어는 다양한 분석 작업에 맞게 조정 가능합니다. 시야, 배율, 속도 간의 균형을 통해 빠른 스캔이 가능하며, 넓은 범위에서 부터 2 µm까지의 세부 구조 분석이 가능합니다.
세계 최초의 듀얼 디텍터 기반 Multi-Vision 벤치탑 3D XRM 솔루션으로, 고급 알고리즘과 GEM Plus™ 기능을 통해 최적의 3D 이미지를 제공합니다.
X4 POSEIDON은 누구나 쉽게 접근할 수 있는 시스템으로 직관적인 사용자 인터페이스와 간편한 작업 흐름, 다국어 지원을 통해 비교할 수 없는 사용 편리성을 제공합니다.
X4 POSEIDON은 표준 전원과 실험실 작업대만 있다면 모든 실험실에 적합하므로, 고품질의 비파괴 3D 이미징을 어디서든 구현할 수 있습니다!

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Discover the X4 POSEIDON - Benchtop X-ray microscopy for everyone.

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진화할 수 있도록 설계된 모듈식 데스크탑 시스템

X4 POSEIDON은 모듈형 X선 탁상형 현미경입니다. 변화하는 요구에 맞춰 장비를 업그레이드할 수 있으며, 기술 발전에 따른 새로운 구성 요소를 쉽게 통합할 수 있습니다.

X4 POSEIDON은 사용자 경험을 향상시키는 다양한 프리미엄 기능을 처음부터 갖춘 포괄적인 마이크로 CT 솔루션입니다.

X4 POSEIDON은 기본적으로 검증된 반사 X-선 소스와 다용도 평면 패널 디텍터를 포함합니다. 이러한 구성 요소를 통해 시스템은 뛰어난 시야와 선명한 대비를 유지하면서 초고속 스캔이 가능합니다.

귀하의 실험실이 다양한 연구 및 개발 분야의 여러 사용자를 지원하거나 특정 산업 프로세스를 지원하더라도, X4 POSEIDON은 비파괴적인 정성 및 정량 3D 분석의 모든 기능을 제공합니다.

The X4 POSEIDON - a modular, tabletop 3D X-ray analysis system.

GEM Plus™: 이미징의 궁극적인 유연성

X4 POSEIDON은 Best-Scan-Geometry와 Multi-Vision을 결합하여 Geometric Magnification Plus - GEM Plus™로 벤치탑에서 궁극적인 유연성을 제공합니다.

시야와 해상도의 균형은 샘플을 원천에 가깝게 또는 검출기에 가깝게 이동시킴으로써 달성됩니다. Best-Scan-Geometry를 통해 검출기도 연속적으로 이동할 수 있어 특정 샘플 크기에 대한 이상적인 원뿔 빔 활용이 가능하며, 동일한 배율 비율을 유지하면서도 스캔 속도를 크게 향상시킵니다.

GEM Plus™는 Multi-Vision 및 Best-Scan-Geometry를 기반으로 순수 해상도, 스캔 속도 및 시야 간의 완벽한 균형을 제공합니다.

GEM Plus™는 X4 POSEIDON의 Multi-Vision 기능과 함께 검출기의 움직임(Best-Scan-Geometry)을 활용하여 높은 스캔 속도에서도 균형 잡힌 이미지를 제공합니다.

Multi-Vision: 빠른 고해상도 3D 이미징을 위한 듀얼 검출기 기술

X4 POSEIDON은 진정한 멀티 검출기 벤치탑 XRM 솔루션입니다. 다용도 평면 패널 검출기, 과학 등급 CMOS 검출기, 또는 두 가지 모두 장착할 수 있습니다!

분석 요구 사항에 적합한 검출기를 선택할 때는 시야, 해상도 및 스캔 속도 간의 균형을 고려해야 합니다. 속도가 가장 중요한 경우, 평판 검출기가 귀하의 응용 프로그램에 이상적이며, sCMOS 검출기는 최대 해상도를 위해 최상의 선택입니다.

X4 POSEIDON을 사용하면 선택할 필요가 없습니다 - Multi-Vision 덕분에 두 가지를 모두 가질 수 있습니다!

X4 POSEIDON 플랫폼은 현장에서 Multi-Vision으로 업그레이드할 수 있는 기능을 제공합니다.

재료 과학 브로슈어 생명 과학 브로슈어

평면 패널 검출기

X4 POSEIDON의 평판 검출기를 이용한 불가사리의 마이크로 CT 이미징/3D XRM. 샘플의 상대적 위치에 따라 최대 시야각 또는 최대 배율을 얻을 수 있습니다.

sCMOS 검출기

X4 POSEIDON의 sCMOS 검출기를 이용한 불가사리의 마이크로 CT 이미징/3D XRM. 샘플의 상대적 위치에 따라 최대 시야각 또는 최대 배율을 얻을 수 있습니다.

탁월한 X-선 파워

X4 POSEIDON은 최신 세대의 마이크로 포커스 X-선 소스를 지원합니다. 이 플랫폼은 시간이 지남에 따라 귀하의 요구에 맞게 현장에서 소스를 교환할 수 있는 기능을 제공합니다.

고에너지 반사 X-선 소스

반사 X-선 소스는 최대 100 kV의 에너지와 20 W의 전력을 가진 X-선 빔을 생성합니다. 이 산업 등급 소스는 다중 사용자 시설, 서비스 실험실 또는 스크리닝 환경에서 귀하의 작업 솔루션을 위한 완벽한 선택으로 유지 관리가 필요 없으며 소유 비용이 낮습니다.

마이크로포커스 투과 X-선 소스

투과 X-선 소스는 2 µm의 스팟 크기를 달성하며 고해상도 데이터를 얻기 위한 완벽한 연구 솔루션입니다. 최대 110 kV의 에너지는 더 높은 밀도와 더 큰 샘플에 대한 응용 범위를 확장합니다.

3D 해상도 보장

모든 Bruker 3D X선 현미경에는 고유한 3D 분해능 보장이 제공됩니다. 2D 및 3D 분해능 성능은 공장 교정 과정에서 업계 표준 JIMA 2D 및 3D QRM 팬텀을 사용하여 테스트 및 문서화됩니다. 설치 후, 2D JIMA 측정을 반복하여 현장에서 성능을 보장합니다.

2D JIMA standard collected with transmission source sCMOS detector.

3D QRM Standard collected with the transmission source and sCMOS detector. 3D reconstructed volume (top left), extracted slice (bottom) and integrated line (top right).

생산성 및 처리량 증가

X4 POSEIDON은 15개 위치의 샘플 체인저로 업그레이드하여 장비 활용도를 극대화하고 작업자 개입을 최소화할 수 있습니다.

이 컴팩트한 샘플 체인저는 인체공학적으로 장비 전면에 배치되어 있습니다. 각 위치의 상태는 LED로 표시되어 작동 중에도 언제든지 샘플을 추가하거나 교체할 수 있습니다. 특허 출원 중인 지능형 로딩 알고리즘은 샘플 처리량을 최적화합니다.

각 위치는 최대 직경 50mm, 높이 80mm의 샘플을 수용할 수 있습니다. 소형 샘플은 수직으로 쌓거나 묶어 용량을 늘릴 수 있습니다.

사용하지 않을 때에도 샘플 체인저가 설치된 상태로 두고, 장비에 완전히 접근하여 대용량 샘플이나 특수 스테이지를 로딩할 수 있습니다.

The X4 POSEIDON equipped with the 15-position sample changer.

4D-CT: 완벽한 통합

소스 전력, 검출기 속도 효율성, 가변 기하학 및 고급 스캔 모드에 의한 향상된 처리량은 압축 시험, 인장 시험 및 비상온 온도에서의 시험을 위한 독점적 특수 스테이지를 사용한 현장 4D-CT 실험의 새로운 가능성을 열어줍니다.

Bruker 재료 시험 스테이지는 각각 최대 4400 N과 440 N의 압축 및 인장 실험을 수행할 수 있으며, Bruker의 가열 및 냉각 스테이지는 주변 온도보다 25 °C 낮은 온도에서 80 °C까지 도달할 수 있습니다.

모든 스테이지는 소프트웨어 및 하드웨어에 통합되어 케이블이 필요하지 않습니다. 인클로저의 케이블 피드스루를 통해 맞춤형 또는 타사 스테이지를 사용할 수 있습니다.

The X4 POSEIDON can be used to perform 4D-CT when enhanced with integrated mechanical and thermal testing stages.

3DxSUITE 소프트웨어 - 턴키 측정 및 분석 솔루션

직관적이고 간단하면서도 강력한 3DxSUITE 소프트웨어는 내부 구조를 파악하는 데 도움을 주도록 설계되었습니다. 사용자 중심적인 디자인으로 초보자도 쉽게 이미징을 시작할 수 있습니다.

하드웨어 및 소프트웨어 확장이 용이한 아키텍처
사용자 및 데이터 관리
조정 가능한 유연한 그래픽 사용자 인터페이스
다국어 지원
표준 기능에는 3D 검사, 시각화 및 분석이 포함됩니다.
위상 검색 알고리즘은 표준 흡수 대비법으로는 감춰질 수 있는 특징을 찾아냅니다.
고급 스캔 알고리즘은 최상의 이미지 품질을 보장합니다.

The intuitive 3DxSUITE software allows even novice users to perform micro-CT and 3D XRM.

모든 응용 분야를 위한 3D X-Ray 이미징: 그 아래에 숨겨진 것을 보세요.

Micro-CT image of a starfish - 3D X-ray imaging using the X4 POSEIDON provides a three-dimensional view into the internal structure of a samples at microscale resolution.

어떤 분석 기법도 현미경만큼 보편적이지 않습니다. '보는 것이 믿는 것이다'라는 말처럼 말입니다. 가시광선, 전자 또는 원자적으로 정밀한 캔틸레버를 사용하더라도 이러한 탐침은 표면에만 제한됩니다.

X-ray 현미경은 패러다임의 전환을 의미하며, 비파괴적인 3차원 관찰을 통해 미세한 세계를 들여다볼 수 있게 해줍니다. 내부 구조에 대한 통찰을 제공하고, 실패의 메커니즘을 밝히거나 성공적인 제작을 확인하는 데 도움을 줍니다.

3D X-ray 이미징은 현미경에 제3의 차원을 추가합니다.

재료 과학에서의 3D X-선 현미경

X4 POSEIDON은 신소재 연구 개발부터 첨단 전자 및 광학 부품의 고장 분석까지 광범위한 재료 과학 응용 분야에 활용할 수 있는 다재다능한 시스템입니다.

재료 과학 응용 분야 페이지에서 X4 POSEIDON에 대한 자세한 정보와 사용 사례를 확인해 보세요.

재료 과학 응용분야 재료 과학 브로슈어

생명 과학에서의 마이크로 CT 이미징

The X4 POSEIDON is a powerful tool for the life sciences, enabling high-resolution, non-destructive micro-CT imaging. The system's benchtop design means that invaluable insights from micro-CT analysis can now benefit every biomedical lab.

Discover more and see examples of the X4 POSEIDON on our life science application page.

생명 과학 응용분야 생명 과학 브로슈어

X4 POSEIDON Specifications

Feature	Specification	Benefit
X-Ray Source	Reflection Source Up to 100 kV, 20 W < 5 µm spot at 4 W	Maintenance-free sealed X-ray source Fast Scans for QC and 4D XRM
X-Ray Source	Transmission Source Up to 110 kV, 16 W < 2 µm spot at 2 W	High resolution with a small focal spot
X-ray Detector	16 MP sCMOS (4096 x 4096 pixels)	Fine-pitch detector for achieving highest resolution
X-ray Detector	7MP Flat Panel (2800 x 2400 pixels)	High frame rate detector for high throughput
Object Size	Up to 110 mm in diameter	The sample chamber allows for a large variety of sample sizes
Object Size	Up to 300 mm in height
Sample Changer	15 Positions (up to 50 mm diameter and 80 mm height per position)	Unattended high throughput Auto sample shuffle to increase efficiency Add/remove samples at any time without disrupting the current scan
Dimensions	W 1250 mm x D 604 x H 690 Weight 350 kg	Space-saving desktop system that fits in any lab
Power supply	100 - 240 V AC, 50 - 60 Hz, 3A max	Minimum installation requirements, a standard power supply is sufficient

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Learn more about the X4 POSEIDON by watching our launch webinar.

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