VERTEX 80v-Kopie

VERTEX 80/80v spektrometry FTIR

Spektrometry VERTEX 80 oraz VERTEX 80v (próżniowy) oparte są na aktywnie justowanym interferometrze UltraScan™, który zapewnia najwyższą rozdzielczość. Precyzyjny, liniowy, powietrzy skaner oraz najwyższej jakości optyka gwarantują unikalną czułość i stabilność. VERTEX 80v pozwala na uzyskanie próżni eliminując problem absorpcji atmosferycznej celem uzyskania najwyższej czułości i stabilności; umożliwia to pomiary wysokorozdzielcze, ultraszybkie rapidscan, step-scan, UV.

Optyka spektrometrów VERTEX 80/80v zapewnia najszersze możliwości rozbudowy oraz najwyższą wydajność systemu. Unikalna technologia DigiTect™ zapobiega zakłóceniom, gwarantuje najwyższy stosunek sygnału do szumu oraz umożliwia szybką i powtarzalną wymianę detektora przez użytkownika. W połączeniu z chłodzonym wodą źródłem Hg, odkryty na nowo zakres THz jest dostępny nawet przy użyciu detektora DTGS pracującego w temperaturze pokojowej.

Szeroki zakres spektralny

Spektrometry VERTEX 80/80v mogą zostać opcjonalnie wyspożone w komponenty optyczne pozwalające na pokrycie zakresu spektralnego od dalekiej podczerwieni lub THz, przez średnią i bliską podczerwień, aż do UV/VIS. Dzięki prekalibrowanym komponentom optycznym i aktywnie justowanemu interferometrowi UltraScan™, zmiana zakresów jest niezwykle prosta.

BSCc s

BMS-c: Bruker zapewnia wysoce precyzyjną opcję automatycznej zmiany beamsplitterów dostępną dla spektrometru próżniowego VERTEX 80v.

Automatyczna, zdalnie sterowana wymiana do 4 zainstalowanych beamsplitterów w warunkach próżniowych jest dostępna dla spektrometru próżniowego VERTEX 80v. Kompletne widmo w zakresie od UV/VIS do dalekiej podczerwieni/THz może zostać uzyskane bez konieczności wentylacji spektrometru wymaganej przy manualnej zmianie beamsplitterów.

Nowość: Bruker rozszerzył zakres dostępnych beamsplitterów o nowy, szerokopasmowy beamsplitter na zakres dalekiej podczerwieni/THz dla spektrometrów FTIR VERTEX 80/80v. Dla badań R&D półprzewodników i związków nieorganicznych nowy beamsplitter pozwala uzyskać więcej cennych informacji pokrywając zakres powyżej 900 cm-1 do 5 cm-1 w jednym pomiarze, a także łączy średnią podczerwień z zakresem FIR/THz.

Rozdzielczość spektralna

Spektrometry VERTEX 80 oraz VERTEX 80v w podstawowej konfiguracji zapewniają rozdzielczość lepszą niż 0.2 cm-1 (apodyzowana), która jest wystarczająca do większości pomiarów gazów pod ciśnieniem atmosferycznym oraz badań próbek w temperaturze pokojowej. Dla zaawansowanych badań niskotemperaturowych np. krystaliczne materiały półprzewodnikowe lub pomiary gazów pod niskim ciśnieniem, dostępna jest rozdzielczość lepsza niż 0.06 cm-1.Rozdzielczość ta, to najwyższa wartość osiągnięta przy wykorzystaniu komercyjnego spektrometru FTIR. Wysokorozdzielcze widma w zakresie VIS prezentują zdolność rozdzielczą lepszą od 300,000:1.

Wszechstronność

Innowacyjny design optyki zapewnia najszersze możliwości rozbudowy. Próżniowy układ optyczny spektrometru zapewnia najwyższą czułość w zakresie MIR, NIR, FIR bez obawy o maskowanie słabych sygnałów przez parę wodną. Doskonałe wyniki np. w nanotechnologii pozwalają na badania do poniżej 10-3 monowarstw, przy wykorzystaniu spektrometru próżniowego VERTEX 80v. Nie występują praktycznie żadne ograniczenia dotyczące rozbudowy systemu. Spektrometr jest wyposażony w łącznie 5 portów wyjściowych po prawej i lewej stronie oraz na froncie, a także 2 porty wejściowe po prawej stronie i z tył spektrometru. Tak rozbudowane możliwości pozwalają na jednoczesne podłączenie np. źródła synchrotronowego do portu z tyłu systemu, modułu modulacji polaryzacji PMA 50 po prawej stronie, modułu światłowodowego na froncie po prawej stronie, bolometru na froncie po lewej stronie i mikroskopu FTIR HYPERION po lewej stronie spektrometru.

Spektrometry serii VERTEX 80 to idealne systemy do wymagających zastosowań naukowo-badawczych.

Skontaktuj się z naszym działem sprzedaży żeby dowiedzieć się więcej o VERTEX 80/80v!

Wykorzystane technologie są chronione jednym lub większą ilością patentów: US 7034944

 

 

Akcesoria zewnętrzne, źródła i detektory

Spektrometry VERTEX 80/80v wyposażone są w 5 portów wyjściowych oraz 2 porty wejściowe oraz oferują możliwość połączenia ich np. z zewnętrznym laserem i źródłem synchrotronowym. Ponadto, system może zostać rozszerzony o zewnętrzne akcesoria pomiarowe, źródła i detektory. Są to m.in.:

  • PMA 50 moduł polaryzacji do VCD i PM-IRRAS
  • PL II moduł fotoluminescencji
  • RAM II moduł FT-Raman i mikroskop RamanScope III
  • TGA-FT-IR
  • HYPERION mikroskop FTIR
  • HYPERION 3000 system obrazowania FTIR
  • HTS-XT
  • IMAC moduł do makroobrazowania przy użyciu detektora ogniskowej matrycy
  • Zewnętrzna komora pomiarowa XSA, próżniowa lub z przedmuchem
  • Adaptacja do systemów UHV
  • Moduł próżniowy PL/PT/PR
  • Kriostaty chłodzone ciekłym helem lub kriostaty kriogeniczne
  • Moduł do podłączenia sond światłowodowych MIR lub NIR do pomiarów ciał stałych i cieczy
  • Sfery integrujące
  • Autosampler
  • Zewnętrzne źródło Hg na zakres FIR
  • Unikalny szerokopasmowy detektor MIR-FIR
  • Beamsplitter Solid State na zakres FIR/THz
  • Zewnętrzny adapter emisyjny
  • Zewnętrzne wysokoenergetyczne źródło MIR
  • Zewnętrzne wysokoenergetyczne źródło VIS
  • Zewnętrzna próżniowa komora na 4 detektory
  • Adaptacja bolometru na zakres FIR
  • Automatyczny zmieniacz beamsplitterów dla spektrometru VERTEX 80v (BMS-c)

Spektrometry VERTEX 80 i VERTEX 80v to systemy do zaawansowanych zastosowań badawczych. Innowacyjna optyka sprawia, że spektrometry VERTEX 80/80v to oferują najwyższe dostępne parametry. Dostępny jest zakres spektralny regionu od UV/VIS (50000 cm-1) do FIR/THz (5 cm-1), najwyższa rozdzielczość spektralna i najszersze możliwości rozbudowy.

Badania R&D

  • Techniki Continuous i Step Scan do pomiarów czasowo-rozdzielczych oraz spektroskopii modulacji amplitudy/fazy
  • Rapid, Interleaved i Step Scan do pomiarów z wysoką rozdzielczością czasową (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • Charakterystyka uporządkowanych okresowo materiałów mikroskopowych - metamateriałów
  • Wysokorozdzielcza spektroskopia gazów z rozdzielczością >0.06 cm-1
  • Metoda stopped-flow do eksperymentów katalizy enzymatycznej
  • Zewnętrza adaptacja do pomiarów w UHV
  • Spektroelektrochemia FT-IR do badań in-situ powierzchni elektrod i elektrolitów

Farmacja

  • Określanie konfiguracji absolutnej cząsteczek (VCD)
  • Charakterystyka stabilności i zawartości lotnej leków przy wykorzystaniu analizy termicznej (TGA-FTIR)
  • Różnicowanie form polimorficznych API w zakresie dalekiej podczerwieni

Polimery i chemia

  • Identyfikacja wypełniaczy nieorganicznych w kompozytach polimerowych w dalekiej podczerwieni
  • Dynamiczne i reooptyczne badania polimerów
  • Oznaczenie związków lotnych i charakterystyka procesów dekompozycji przy użyciu analizy termicznej (TGA-FTIR)
  • Monitorowanie przebiegu reakcji (sonda światłowodowa MIR)
  • Identyfikacja pigmentów i minerałów

Analiza powierzchniowa

  • Detekcja i charakterystyka cienkich warstw i monowarstw
  • Analiza powierzchniowa połączona z modulacją polaryzacji (PM-IRRAS)

Inżynieria materiałowa

  • Charakterystyka materiałów optycznych i wysokorefleksyjnych (okna, lustra)
  • Badania ciemnych materiałów oraz profili głębokościowych przy użyciu spektroskopii fotoaktustycznej (PAS)
  • Charakterystyka emisyjności materiałów

Półprzewodniki

  • Określanie zawartości tlenu i węgla w waflach krzemowych podczas kontroli jakości
  • Niskotemperaturowe pomiary transmitancji i fotoluminescencji (PL) do kontroli jakości zanieczyszczeń śladowych