Micro-XRF on SEM

QUANTAX Micro-XRF

Incrementando os MEV's para a analise de traços

XTrace Mounted on a SEM

O QUANTAX Micro-XRF, com fonte de raios X tipo Micro-Spot XTrace, adiciona os recursos de um espectrômetro de micro-FRX completo ao microscópio eletrônico de varredura. O XTrace pode ser instalado em praticamente qualquer MEV que possua uma porta inclinada livre. Essa técnica mescla a sensibilidade na analises de traços e a maior profundidade de informações de análises por FRX.

Sistema Micro-XRF amigável para MEV

  • A análise de distribuição com HyperMap armazena espectros completos para cada ponto do mapa, permitindo análise on-line e off-line
  • As amostras podem ser analisadas com Micro-FRX e EDS sem alterar sua posição
  • Os dois métodos são integrados na mesma plataforma de software analítico - ESPRIT 2.0
  • Não há interferência na operação normal do MEV; o XTrace pode ser mantido na posição de medida durante a maior parte do tempo.

Um espectrômetro completo de micro-FRX sem investimento

  • Os resultados analíticos são comparáveis aos de sistemas stand-alone.
  • Imagens em mosaico permitem o mapeamento de grandes áreas.
  • Filtros de radiação primária selecionáveis para supressão de picos de difração.
  • Utiliza o estágio motorizado do MEV.
  • Permite a inclinação da amostra para minimização do ponto focal.
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