LUMOS II
Wyjątkowa IR.
Genialny wygląd. Ultraszybkie obrazowanie.
Mikroskopia podczerwieni taka, jaka powinna być.
Więcej miejsca na przygotowanie próbek. Większa szybkość obrazowania chemicznego. Większa wydajność w mikroskopii ATR, transmisji i refleksji. To jest to, co nazywamy prawdziwym przełomem - bez dyskusji.
Punktowa mikroskopia FT-IR? Obrazowanie FPA? Obrazownaie laserowe IR? Twój wybór.
Mikroskopia FT-IR:
- TE-MCT jako standardowy detektor
- Wiodący na rynku design kryształu ATR
- Nie wymagany ciekły azot i przedmuch suchym powietrzem
- LN-MCT i DTGS dostępne opcjonalnie
- Do dwóch detektorów punktowych równocześnie
- Upgrade do obrazowania FPA w każdej chwili
- Analiza próbek do wysokości 40 mm
Obrazowanie FT-IR FPA:
- Detektor ogniskowej matrycy do obrazowania (FPA)
- Obrazy FT-IR o wielkości 1.6 mm² na sekundę
- Dostęp do rozdzielczości przestrzennej 1.25 µm (ATR)
- Obrazy FT-IR w pełnym zakresie MIR
- Obrazowanie w ATR/TRANS/REFL
- Opatentowana kalibracja obrazowania PermaSure+
- Do dwóch dodatkowych detektorów równocześnie
Obrazowanie laserowe IR (ILIM):
- Detektor ogniskowej matrycy pracujący w temperaturze pokojowej
- Obrazy laserowe IR o wielkości 4.5 mm² na sekundę
- Obrazowanie laserowe IR w zakresie 1,800 - 950 cm-1
- Obrazy chemiczne w TRANS i REFL
- Opatentowana redukcja koherencji przestrzennej
- Gotowe workflow (Tkanki, cząstki, tableki)
- Instruments o otwartej konstrukcji, klasy laserowej 1
Bez względu na to, co wybierzesz, LUMOS II zawsze oferuje...
Proste w użyciu oprogramowanie typu all-in-one.
LUMOS II Wizard.
Obojętny na wysoką wilgotność.
Wykorzystanie inertnych materiałów optycznych.
Ewaluacje oparte o AI.
Adaptacyjne obrazowanie chemiczne.
Zgodność z cGMP i FDA 21 CFR p11.
Obszerny audit trail.
Kompletna automatyzacja i długie cykle serwisowe.
Zautomatyzowana przysłona knife-edge.
Otwarty design z łatwym dostępem do próbki.
Dostęp z trzech stron 270°.
Mikroskopia FT-IR i obrazowanie chemiczne
Mikroskop FTIR dla każdego
Wierzymy, że to najwyższy czas udostępnić zaawansowane techniki każdemu użytkownikowi, niezależnie o umiejętności. Korzyści z obrazowania i mikroskopii FT-IR są zbyt duże, aby ograniczyć do nich dostęp przez zbyt skomplikowany hardware czy oprogramowanie.
Od samego początku LUMOS II miał sprawić, że obrazowanie FT-IR będzie szybsze, łatwiejsze, dokładniejsze i bardziej niezawodne - a dodatkowo bardziej przyjemne w użytkowaniu. Oczywiście wymagało to od nas wprowadzenia nowych i ulepszonych sprawdzonych technologii.
Dlatego dostosowaliśmy LUMOS II, jego oprogramowanie i interfejs specjalnie do użytkownika. Początkujący mogą osiągać doskonałe wyniki w krótkim czasie, natomiast eksperci mają nieograniczone możliwości.
Cechy
Cechy techniczne LUMOS II:
- Standardowo: detektor TE-MCT
- Plug & Play: nie wymagany ciekły azot czy przedmuch
- Opcjonalny detektor FPA do obrazowania
- Nowatorska technologia kalibracji PermaSure+
- W pełni zmotoryzowany i zautomatyzowany hardware
- Pomiar próbek o wysokości do 40 mm
- Długa żywotność komponentów, w tym lasera
- Niewrażliwy na wysoką wilgotność (optyka ZnSe)
- Samodzielny, o niewielkich rozmiarach
- Niskie zużycie energii
LUMOS II zapewnia:
- Łatwość obsługi dzięki specjalnemu asystentowi pomiaru
- Dane spektralne i widzialne wysokiej rozdzielczości
- Wysoka czułość IR bez konieczności stosowanie ciekłego azotu
- Rozdzielczość widzialna w zakresie sub mikrometrów
- Ultraszybkie obrazowanie FPA
- Obrazowanie FPA w ATR/transmisji/refleksji
- Łatwy dostęp do stolika pomiarowego
- Zgodność z cGMP i FDA 21 CFR p11
- Automatyczne testy OQ/PQ/farmakopei
- Szerokie możliwości rozbudowy systemu
Zastosowanie:
- Analiza błędów
- Analiza cząstek i powierzchni
- Produkcja przemysłowa
- Kryminalistyka
- Life science
- Polimery i tworzywa sztuczne
- Badania środowiskowe
- Przemysł farmaceutyczny
Doskonałe możliwości μ-ATR FT-IR
Sprowadza się to do tego: Lepszy instrument. Lepsze wyniki.
LUMOS II zapewnia doskonałe wyniki w pomiarach transmisyjnych i odbiciowych. Godnym uwagi są pomiary w trybie osłabionego całkowitego wewnętrznego odbicia (ATR). LUMOS II jest zawsze właściwym wyborem. Jego największą zaletą jest mikroskopia ATR wzmocniona przez technologię FPA. Dzięki temu LUMOS II jest uniwersalnym narzędziem do analizy błędów i rozwoju produktów.
Krótko mówiąc, jego możliwości ATR są niezrównane. Nie zadowalaj się niewiarygodnymi, manualnymi akcesoriami ATR - zdobądź to co najlepsze. Postaw na LUMOS!
Wysuwany kryształ jest kontrolowany przez wysoce precyzyjne piezoelektryczne motory oraz jest zintegrowany z obiektywem. Pozwala to na uzyskanie idealnego obrazu próbki podczas gdy Twój pomiar odbywa się dokładnie w tym miejscu, w którym chcesz
Przekonujące innowacje
Wytrzymałość i moc dla różnych zastosowań.
Jest dla nas naturalnym przekazywać najlepsze technologie naszym klientom. To również odnosi się do mikroskopu LUMOS II.
Interferometr RockSolidTM gwarantuje stałą, wysoką wydajność, podczas gdy nowoczesna elektronika zapewnia mechaniczną precyzję i niskie zużycie energii. Oprogramowanie monitoruje efektywność instrumentu i zapewnia prawidłowe działanie.
LUMOS II filmy aplikacyjne
Wybierz zastosowanie μ-FT-IR
Analiza cząstek i powierzchni
Produkcja przemysłowa
Badania środowiskowe
Life science
Kryminalistyka
Polimery
Sztuka i renowacja
Farmacja
Analiza powierzchni
OPUS Release 8.8 | LUMOS II | Q3 2023
New Feature: 3D FocusFusion now allows the creation of visual images of infinite "sharpness"
This new feature creates a pin sharp visual image, even if the sample has a rough surface or isn’t flat at all.
This infinite "sharpness" in microscopic images helps in region of interest selection. Now it will be possible to generate sharp visual images of samples for which the depth of field of the LUMOS II is limited.
New Feature: FPA imaging can now follow round / circular measurement areas
Now, the measurement grid can be placed in a round shaped way to measure a whole particle filter with FPA imaging. By only measuring the actual region of interest users safe significant amounts of time during FPA measurements of round regions of interest like filters in microplastic analysis.
OPUS Release 8.7 | LUMOS II | Q3 2021
New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function
This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.
- Forecasting or time consuming searching of the included amount of chemical classes is no longer been necessary as the algorithm can predict all included chemical classes by itself.
- This major function is important for all kind of chemical imaging and distribution analysis of unknown samples or small structures within larger datasets.
- Together with the LUMOS II analysis and evaluation is as easy as possible and safes your valuable time and nerves.
New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data
Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.
- Easy determination of the chemical identity of classified sample components for particles, layers in laminates, components of pharmaceutical tablets and other inhomogeneous materials.
- Reliable and comprehensive statistics reports about quantity, size and of course identity of all analyzed structures is provided and leads particle and technical cleanliness analysis to a new, autonomous level.
Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method
The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.
- While particle recognition for low contrast structures and off-white/transparent particles/fibers on off-white filter membranes can be tedious, a postrun particle determination based on the chemical IR image allows you to determine quantity and size of particles from your imaging or mapping results.
- With the Find Particle Function together with the LUMOS II you will never miss any detail – neither in visual nor in IR range.
Mikroskopy FT-IR - materiały dodatkowe
Dowiedz się więcej o naszych mikroskopach i rozwiązaniach FT-IR, pobierając dostępne materiały.
