Spectroscopie infrarouge à l’échelle nanométrique

Comparaison de l’AFM-IR et du s-SNOM

AFM-IR et s-SNOM sont des techniques complémentaires avec des forces différentes. Avec les nanoIR3-s, vous pouvez choisir une configuration qui a une technique ou les deux, en fonction de votre échantillon et de la mesure.

Appliquez la meilleure technique pour votre recherche – sans compromis

AFM-IR et s-SNOM sont des techniques complémentaires avec des forces différentes. Avec les nanoIR3-s,vous pouvez choisir une configuration qui a une technique ou les deux, en fonction de votre échantillon et les besoins de mesure. L’AFM-IR détecte directement la lumière absorbée par l’échantillon à l’aide de la pointe de la sonde AFM pour détecter l’expansion thermique. Cette expansion thermique dépend principalement du coefficient d’absorption de l’échantillon, ks, et est largement indépendante des autres propriétés optiques de la pointe et de l’échantillon. La technique AFM-IR est donc privilégiée pour les mesures où un spectre d’absorption précis est souhaité. L’AFM-IR excelle dans les études sur les matières douces en raison de l’expansion thermique élevée de ces matériaux.

s-SNOM détecte la lumière dispersée par les régions à l’échelle nanométrique directement sous la pointe de la sonde AFM. Le champ dispersé dépend des constantes optiques complexes de la pointe et de l’échantillon et contient de riches informations sur les phénomènes nano-optiques. Des échantillons de référence (p. ex., or ou silicium) sont nécessaires pour séparer les contributions de réponse de l’échantillon de la source et de la pointe. Il peut être nécessaire de faire de la modélisation pour interpréter les résultats. s-SNOM est une technique convaincante pour l’imagerie du contraste à l’échelle nanométrique dans les propriétés optiques, avec diverses applications dans les matériaux de pointe, les dispositifs et les interactions fondamentales lumière/matière. s-SNOM fonctionne mieux pour les matériaux durs qui interagissent fortement avec la lumière.