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MICRO-XRF新時代の幕開け

 

M4 TORNADOPLUSは、炭素からアメリシウムまでの全元素範囲の検出と分析を可能にする世界初のMICRO-XRF分析装置です。M4 TORNADOファミリーの最新メンバーとしてM4 TORNADOPLUSは、革新的なアパーチャーマネージメントシステム(AMS)、高感度スループット・パルス・プロセッサーと試料交換が楽なクイックチェンジ・サンプル・ステージを提供します。

超軽元素分析が可能 – 炭素から検出

超軽元素用ウィンドウと大面積シリコンドリフト検出器を使用したデュアルディテクターや特に低エネルギー領域の励起効率に最適化されたRh X線管球を搭載したM4  TORNADOPLUSは、超軽元素の分析を実用化した世界初のMICRO-XRF分析装置です。

ナトリウムからの元素を検出するのに適した一般的なMICRO-XRFシステムとは異なり、M4 TORNADOPLUSはフッ素、酸素、窒素、炭素など原子番号11以下の元素も含め高エネルギー領域における感度やパフォーマンスを落とすことなく測定できます。

このパフォーマンスの向上により、MICRO-XRFの新しいアプリケーションが開かれました。例えば 生物学、ポリマー研究、半導体産業などの分野で幅広く使用されます。

二倍のスループット-測定時間を高速化

 

M4 TORNADOの以前のデュアル検出器バージョンはすでに最高260kcpsの出力カウントレートをエネルギー分解能を犠牲にせずに提供していました。

計数強度最高1,200 kcpsの処理能力と最大550kcpsのアウトプットカウントレートを提供する独自の能力、M4 TORNADOPLUSはこれらの制限をさらに押し上げさらに優れた強度取得速度と高速処理を実現します

アパーチャーマネージメントシステム(AMS) -被写界深度および空間分解能の向上

MICRO-XRFを使用して分析される多くの試料は、常に平らとは限りません。 したがって、写真のように、被写界深度を生成するために使用されるX線光学システムにとって試料表面上の小さな励起スポットは重要なパラメーターとなります。

通常、7μm程度の高空間分解能X線光学系を備えたMICRO-XRFアナライザーでは、ワーキングディスタンスは2mmほどと小さく、達成可能な被写界深度は1mm未満です。

M4TORNADOPLUSに搭載された革新的なソフトウェア制御のアパーチャーマネージメントシステム(AMS)は、約 9mmのワーキングディスタンスと最大±5mmの被写界深度を可能にします。 つまり、空間分解能はサンプルの表面が数mm変化しても、それほど変化しません。 これにより、M4 TORNADOPLUSは、起伏の激しい試料、すなわち 電子工学、法医学、または地球科学において測定されるさまざまな試料に柔軟に対応することができます。

クイックチェンジステージ - すばやく、簡単なサンプル交換

 

M4 TORNADOPLUSには、モジュール式のクイックチェンジ・ステージ・インターフェイスが付属しています。ダブテール・カップラーは、ステージ・プレートを取り外して簡単に再挿入することを可能にし、ツールを使用せずにすばやく簡単に試料をステージ上にセットすることができます。

M4 TORNADO PLUS: 超軽元素分析対応 Micro-XRF 分析装置

コリメーターチェンジャー付第二X線管球 - 高エネルギー領域での柔軟性向上

 

M4 TORNADOPLUSは、オプションの第二X線管球にソフトウェア制御の4ポジションコリメーターチェンジャーを組み合わせました。コリメーターチェンジャーは500μmから4.5mmのスポットサイズに設定することができ、小さなスポット分析から大きな高強度スポット径を備えたバルクXRF分析が可能です。

コンピューター制御Heパージシステム – 真空を引かずに軽元素を分析

 

ある種の試料では、圧力変動に敏感であるか乾燥してしまう可能性があるため、真空下での測定には問題があります。大気中での測定は常に可能ですが、Caより下の軽元素の蛍光X線強度は強く減衰するか、完全に吸収されて強度が計数されません。 M4 TORNADOPLUSは、真空下での測定が難しいサンプルでも軽元素や炭素までの超軽元素を検出して、大気圧下での分析範囲を拡大するオプションのコンピュータ制御Heパージシステムを提供しています。

分析方法に応じた、最適な2種類のパージモードを使用することができます。 迅速なシングルポイントはマルチポイント分析で低エネルギー領域のX線を確実に取得するには、測定位置の局所的な高流量パージが適しています。