AFM-IR 및 S-SNOM 비교
AFM-IR 및 s-SNOM은 서로 다른 강점을 가진 보완적인 기술입니다. nanoIR3-s를 사용하면 샘플 및 측정에 따라 하나의 기술 또는 둘 다있는 구성을 선택할 수 있습니다.
타협하지 않고 연구에 가장 적합한 기술을 적용하십시오.
AFM-IR 및 s-SNOM은 서로 다른 강점을 가진 보완적인 기술입니다. nanoIR3-s를사용하면 샘플 및 측정 요구에 따라 하나의 기술 또는 둘 다있는 구성을 선택할 수 있습니다. AFM-IR은 AFM 프로브 팁을 사용하여 샘플에 흡수된 빛을 직접 감지하여 열 팽창을 감지합니다. 이러한 열 팽창은 주로 시료의 흡수 계수인 ks에 따라 달라지며 팁과 시료의 다른 광학 적 특성과 는 크게 무관합니다. 따라서 AFM-IR 기술은 정확한 흡수 스펙트럼이 바람직한 측정에 선호됩니다. AFM-IR은 이러한 재료의 높은 열 팽창으로 인해 연질 물질 연구에 탁월합니다.
s-SNOM은 AFM 프로브 팁 바로 아래에 나노미터 스케일 영역에 의해 산란된 빛을 감지합니다. 산란된 필드는 팁과 샘플 모두의 복잡한 광학 상수에 따라 달라지며 나노 광학 현상에 대한 풍부한 정보를 포함합니다. 기준 샘플(예: 금 또는 실리콘)은 샘플 응답 기여도를 소스 및 팁과 분리하는 데 필요합니다. 결과를 해석하려면 모델링 지원이 필요할 수 있습니다. s-SNOM은 고급 재료, 장치 및 기본 광/물질 상호 작용에 다양한 응용 분야와 함께 광학 특성에서 나노 스케일 대비를 이미징하는 강력한 기술입니다. s-SNOM은 빛과 강하게 상호 작용하는 단단한 재료에 가장 적합합니다.
