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EDS para aplicaciones de S/TEM

Análisis cuantitativo

Cliff-Lorimer Factor Editor

La cuantificación de espectros de EDS es uno de los pasos más importantes del análisis. ESPRIT utiliza herramientas avanzadas para el procesamiento y análisis de espectros, incluyendo la rutina Cliff-Lorimer para cuantificación. Gracias a la gran eficiencia de los detectores XFlash®, se pueden obtener resultados excelentes tanto en el rango energético bajo y de los elementos ligeros como en el rango de más de 50 keV. Más información

Caracterización de una estructura de semiconductor

NiSi(Pt)-NiSi2 Junction, Quantitative Pt Map

La creciente integración de los circuitos hace necesario el análisis de estructuras muy pequeñas. Este ejemplo de aplicación ilustra la caracterización química de una estructura NiSi-NiSi2 en aleación con platino. Más información

EDS para las ciencias de la vida

Bright Field Image and Single Element Maps of a Yeast Cell

La excelente capacidad de detección de elementos ligeros de los detectores XFlash® permite llevar a cabo muchas aplicaciones en las ciencias de la vida, particularmente en biomineralización. Esto se demuestra con el mapeo de una célula de levadura que fue teñida con Os y marcada con Ag. Más información

Una nanoestructura magnética

HAADF Image of a Magnetic Nanostructure with Layers Annotated

Este ejemplo de aplicación muestra mapas de elementos de una nanoestructura magnética estratificada colocada en una esfera de SiO2. La localización en la escala de nanómetros de las capas y sus constituyentes se puede realizar fácil y rápidamente, así como una evaluación de la calidad del proceso de producción. Más información

Estudio de una partícula con estructura núcleo-cubierta

HAADF Image of a Pd Pt Core Shell Particle Overlaid with Pd and Pt Mixed Element Map

Las partículas con una estructura núcleo-cubierta se usan a menudo en nanotecnología, especialmente en catálisis. En este ejemplo, una partícula núcleo-cubierta de Pd-Pt se analiza tanto desde el punto de vista tanto cualitativo como cuantitativo. Más información

Análisis químico de fases de un sistema de capas

Chemical Phase Map of a Layer Structure

El análisis químico de fases es un útil complemento del mapeo de elementos en STEM. Esta aplicación muestra como ESPRIT Autophase puede ayudar a entender mejor la estructura de una muestra estratificada. Más información

Caracterización química de nanohilos

Nanowires, Mixed Element Map

Las nanoestructuras, como nanohilos o nanovarillas y nanovehículos funcionalizados, son de cada vez mayor interés para varias aplicaciones en nanotecnología, tanto para la nanoelectrónica como para la aplicación de medicamentos en el cuerpo humano. En este caso se analizaron nanohilos multicapa III-V para su aplicación en el desarrollo de transistores de un solo electrón usando 0,12 sr con un ángulo de incidencia de 22°. Más información

EDS a resolución atómica

Map and Spectrum of an InGaAs Semiconductor Structure

El análisis de EDS también se puede realizar en STEM con aberración corregida sin que esto interfiera con el funcionamiento del microscopio. El análisis de un semiconductor de InGaAs muestra que EDS incluso puede identificar variaciones en la composición a escala atómica. Más información

Análisis de EDS de átomos sueltos

Single Silicon Atom in Graphene
Single silicon atom in graphene

Las inigualables propiedades de los detectores XFlash® para TEM permiten el análisis de EDS a la mejor resolución espacial posible. Este ejemplo muestra el análisis de átomos sueltos en grafeno a 60 kV en STEM. Más información

Análisis cuantitativo

Cliff-Lorimer Factor Editor

La cuantificación de espectros de EDS es uno de los pasos más importantes del análisis. ESPRIT utiliza herramientas avanzadas para el procesamiento y análisis de espectros, incluyendo la rutina Cliff-Lorimer para cuantificación. Gracias a la gran eficiencia de los detectores XFlash®, se pueden obtener resultados excelentes tanto en el rango energético bajo y de los elementos ligeros como en el rango de más de 50 keV. Más información