Anasys IR3 S webslider 2018.065

Unique AFM Capabilities

Anasysシリーズのすべての製品は、当社のフル機能AFMをベースに構築されており、通常使用されるAFMの測定モードの多くをサポートしております。サポートするモードとしては、タッピング、位相、コンタクト、フォースカーブ、水平力、力変調、EFM、MFM、CAFMなどがあります。

Tapping Mode Data

高分子薄膜、単分子層およびブレンド境界部解析

nanoIR3-sにより取得されるナノ局所場由来のFTIRスペクトルは,バルクのFTIRスペクトルライブラリのデータと直接的な相関があります。これに基づき本システムでは,広範囲のポリマー材料に対して,真のモデルフリー・ナノスケールFTIR分光技術を提供することが可能です。また,化学および材料特性マッピング機能においては,最小10 nmというあらゆるシステムの中で最高の空間分解能を提供します。

HBN Phonon polaritons PhaseAmplitude

2次元材料やナノフォトニクス

2次元材料やナノフォトニクス 技術は、様々な分野において新規応用が期待されるチャレンジングな領域です。散乱型SNOM を搭載したnanoIR3-sでは、こうした2次元材料・量子材料に対し、光学的情報、化学的情報そしてその材料特性をナノスケールで分析する独自の機能を提供します。s-SNOMとAFM-IRという2つの相補的測定技術は、現場での新しい発見を強力にサポートする、比類ないナノスケールIR分光技術を提供します。

MultilayerFilm ApplicationsPage B

半導体向け欠陥解析

欠陥解析や材料評価工程 では、組織のコスト削減や収益向上を目指して、開発プロセスの改善あるいはプロセス関連の問題解決につながる材料解析に焦点を置いています。nanoIR3-sは、文字通りの意味でのナノスケールFTIR技術、すなわち、ナノスケールの化学イメージングおよび材料特性評価のプラットフォームをご提供します。本システムは、AFM-IRと散乱型SNOMという2つの相補的なナノスケールIR技術と,AFMベースの材料特性マッピングを組み合わせたものです。nanoIRプラットフォームは極めて生産的で信頼性のあるシステムであり、現場において即座に貢献することが可能です。

LCR WoodCells 3D

機械的特性マッピング

Lorentz Contact Resonance (LCR)では、 試料表面の粘弾性特性に基づき材料を判別することのできるナノメカニカル接触共鳴スペクトルを取得することができます。これにより、試料中の複数成分の分布をマッピングすることができ、同時に試料内の正確な位置での化学的・熱的分析が可能となります。また、 LCRでは、Anasys Instruments独自の自己発熱型のThermaLever™プローブを使用しているため、試料の機械的特性における温度依存性を迅速に測定することができます。この技術は、ポリマーブレンド、多層フィルム、複合材料、そしてライフサイエンス分野において素晴らしい成果をもたらしています。.