Anasys IR3 S webslider 2018.065
  • s-SNOMとAFM-IR - 2つの相補的なナノスケールIR分析技術
  • 10 nmの空間分解能を持つ化学および光学特性マッピング
  • 高性能広帯域なnano FTIR分光装置
  • ナノスケールの光学特性マッピングと各種AFMイメージの同時測定による相関分析
  • 高い利便性、生産性、信頼性を提供する"Anasys engineered"

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Nanoir3 Sept2018

10 nm空間分解能の化学イメージングと分光分析

グラフェンプラズモニクス

Graphene Plasmons Ill

グラフェンウェッジの表面プラズモンポラリトン (SPP) のs-SNOM位相・振幅像。SPP定常波の位相像及び振幅像(右図)。SPP位相像の3D像及び断面プロファイル(左図)。

高分解能光学特性マッピング

GrapheneFlakeCrossSection 21

グラフェン薄片試料の光学特性イメージングにおいては,10 nmを超える高い光学分解能が示されている

高性能ナノFTIR分光技術

  • 高性能のナノFTIR分光技術
  • 最先端のnanoIRレーザー光源による高性能のIR SNOM分光分析
  • 可視光~THz,放射光にも対応したナノFTIR分光分析
  • マルチチップ量子カスケードレーザー (QCL) を用いた化学マッピングと分光分析

分子振動情報を調べる超高速・広帯域の散乱型SNOM分光法。右に示すポリテトラフルオロエチレン (PTFE) のレーザーインターフェログラムは、自由誘導減衰シグナル中のコヒーレントな分子振動を示している。ハイライトされた領域のパターンは、その周波数領域でのC-Fモードの対称モードと反対称モードのビートにより生じている(図左下)。ナノFTIRの単分子膜試料に対する検出感度は、4-ニトロベンゼンチオール (p-NTP) の単分子膜で実証されています(図右下)。(データ提供: 米国コロラド大学 Markus Raschke教授)

PTFI spectrograph group

ポイント分光技術

PointSpectroscopy data b

ポイント分光分析用レーザーを用いることで,広範囲の波長領域での分光分析及び高い空間分解能での光学特性マッピングが可能となります

  1. AFM画像中で分析を行いたい構造・場所を選択します
  2. スペクトルを測定し,その中で興味のある波長を選択します
  3. 選択した波長に対し,高分解能の光学特性マップを作成します

10 nmの空間分解能を持つ振幅・位相像は、取得したインターフェログラムから即座に算出し,表示することが出来ます。このように,本装置のもつ,相補的かつ独自のIR分光技術により、高い空間分解能を持つタッピングAFM-IR測定を実現しています。