하이페리온 II

무엇보다도, 기기에 대한 완전한 액세스 권한이 있어야 합니다. 실험, 샘플 및 매개변수에 대한 액세스, 이것이 HYPERION II 의 토대이자 가장 가치 있는 자산인 완전한 제어를 제공하는 것입니다.

단일 지점 모드에서 수행하는 FT-IR 측정, 서로 다른 디텍터 또는 렌즈로 매핑 또는 이미징, 특수 샘플 측정, ATR 또는 Grazing Angle Objective는 언제든지 결과에 영향을 미치고 더 나은 결과를 만들 수 있습니다.

이것이 LUMOS II IR 현미경과의 분명한 차이점입니다. LUMOS II 가 사용자로부터 지루한 실험 세부사항을 덜어주고 측정 프로세스를 자동화하는 반면, HYPERION II 는 사용자가 요구하는 것만 수행하는 정밀 도구로 남아있습니다.

많은 사용자가 HYPERION II와 그것의 강점을 알고 그것의 전임자를 통해. 거의 20 년 동안 IR 현미경 검사 및 이미징의 혁신 힘이되었습니다. HYPERION을 뛰어난 FT-IR 현미경으로 만든 것들은 여전히 존재합니다 - 더 좋고, 빠르며, 개선되었습니다.

HYPERION II는 액체 질소 및 열전 냉각 MCT, 초점 평면 배역 영상 감지기, 시각화 및 적외선 강화 도구, 그리고 다양한 전용 부속품 등 일상 연구 루틴에서 필요로 하는 모든 기능을 갖추고 있습니다.

결국, 우리는 FT-IR 현미경 검사법과 이미징의 벤치마크를 다시 한 번 설정하고, 확립된 가치있는 방법을 유지하면서 새롭고 흥미로운 기술을 도입하여 혁신 리더로서의 이름에 부응하고 싶습니다.

단일 기기에서의 QCL 및 FT-IR

처음으로, 사용자는 FT-IR 및 QCL 기술을 하나의 기기에 결합한 IR 현미경에 액세스할 수 있습니다. 이를 통해 우리는 생명 과학 및 재료 연구에 완전히 새로운 문을 열고 있습니다.

FT-IR 스펙트럼을 수집하고 QCL을 사용하여 조사하려는 파장을 선택하고 수 초 내에 멋진 화학적 이미지를 생성합니다.

FT-IR 과 적외선 레이저 이미징의 완전히 새로운 접근 방식을 통해, 우리는 마침내 사용자, 연구원 및 과학자에게 새로운 응용 프로그램을 개발할 수 있는 도구뿐만 아니라 확립되고 입증된 접근 방식을 개선할 수 있는 도구를 제공합니다.

뛰어난 성능을 갖춘 진정한 QCL 현미경

HYPERION II 는 최첨단 FT-IR 현미경으로, 완벽한 QCL 현미경을 제공합니다. 실제로, 우리는 디지털 후처리 없이 비할 데 없는 IR 레이저 이미징 성능을 구현하는 새로운 간섭 감소 기술을 개발하고 특허를 받았습니다.

예: 기존 FT-IR 에서 공간결맞음성(Spatial Coherence)은 역할을 하지 않습니다. 그러나 QCL을 사용한 IR 현미경 측정에서는 공간 간섭 현상이 불가피하게 발생합니다. IR 이미지 및 스펙트럼의 이러한 줄무늬와 반점은 일반적으로 화학적 이미징에 유해한 것으로 간주됩니다 (참조; DOI: 10.1002/jbio.201800015).

실제로, 산란된 광자의 위상 관계를 설명하는 물리적 정보와 샘플의 화학적 정보를 분리하는 것은 쉬운 일이 아닙니다. HYPERION II 는 이 문제를 실용적으로 접근하여 스마트 하드웨어 설계로 해결하며 화학 이미징 데이터를 얻을 수 있습니다.

FT-IR 및 QCL 분광검사 비교

이 기술을 비교하면, 두 가지 모두 동일한 작업을 동등하게 잘 수행할 수 있음을 의미합니다. FT-IR 및 적외선 레이저 이미징은 뚜렷한 장점을 가지고 있으며 두 가지 모두의 실용적인 조합으로 최상의 결과를 얻을 수 있습니다.

우리는 대부분의 과학자와 연구원이 FT-IR의 보편성을 놓치고 싶지 않다는 것을 알고 있습니다. 그들은 참조나 근거 없이 하나의 최첨단 기술에 국한되는 것을 좋아하지 않습니다. 다행히도 HYPERION II 는 뛰어난 FT-IR 이미징 현미경과 야시찬 QCL 현미경을 모두 고려해볼 수 있습니다.

우리는 이 이중성을 해결했으며 QCL 기술이 동일한 신호 대 잡음에서 훨씬 더  빠르게 데이터를 기록하지만 이는 여전히 작은 범위의 MIR 로 제한됩니다. 다시 말하지만, 우리는 HYPERION II 의 개념에 충실합니다. 선택하십시오. 여러분은 모든것을 제어 할 수 있습니다.

New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function

This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.

•  Forecasting or time consuming searching of the included amount of chemical classes is no longer been necessary as the algorithm can predict all included chemical classes  by itself.
• This major function is important for all kind of chemical imaging and distribution analysis of unknown samples or small structures within larger datasets.
• Make analysis and evaluation is as easy as possible and safes your valuable time and nerves.

New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data

Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.

• Easy determination of the chemical identity of classified sample components for particles, layers in laminates, components of pharmaceutical tablets and other inhomogeneous materials.
• Reliable and comprehensive statistics reports about quantity, size and of course identity of all analyzed structures is provided and leads particle and technical cleanliness analysis to a new, autonomous level.
  

Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method

The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.

• While particle recognition for low contrast structures and off-white/transparent particles/fibers on off-white filter membranes can be tedious, a postrun particle determination based on the chemical IR image allows you to determine quantity and size of particles from your imaging or mapping results.