Herausragende Energieauflösung für anspruchsvollste Messaufgaben

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Der XFlash® 6 ist mit einer unübertroffenen Energieauflösung von 121 eV bei Mn Kα verfügbar. Er bietet damit die exzellente Energieauflösung, die für die Analyse komplexer Proben unverzichtbar ist – insbesondere für leichte Elemente und im Niedrigenergiebereich unterhalb vomn 1 keV.

Energieauflösungsklassen der XFlash® 6 Detektoren

Auflösung bei
Mn-Kα / eV
Auflösung bei
F-Kα / eV
Auflösung bei
C-Kα / eV
1214738
1235345
1266051
1296757

 

Die Spezifizierung aller XFlash® 6 Auflösungswerte übertrifft die in der ISO 15632:2012 gestellten Anforderungen.

Tungsten and Silicon Low Energy Spectra
Low energy range spectra acquired with
121 eV

Die Wichtigkeit guter Energieauflösung lässt sich an der Abbildung links ersehen. Sie enthält die Überlagerung der Niedrigenergiebereiche eines Si- und eines W-Spektrums, gemessen mit dem 121 eV XFlash® Detektor. Es zeigt sich, dass die exzellente Energieauflösung dieses Detektors beinahe ausreicht, um die Si K- und die W M-Linien zu trennen. Die Si L-Linie ist auch klar zu erkennen, trotz der vergleichsweise hohen Anregungsspannung von 7 keV. Die W M-Linien können in der Niedrigenergie-Flanke des Kohlenstoff Kontaminations-Peaks ausgemacht werden. Die Entfaltungsergebnisse, enthalten im vergrößerten Bildausschnitt, bestätigen dies Feststellung.

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