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TEM観察

破壊などの挙動を透過電子顕微鏡でリアルタイム観察

透過電子顕微鏡(TEM)は原子スケールまでイメージングするためにオングストロームまたはサブオングストロームの分解能を得ることができる顕微鏡です。前処理を施した試料をただTEMで観察するだけではなく、ブルカーのin-situナノ機械的特性評価システムを用いてその試料を試験することで、ナノスケールでの事象解明のために有効な知見を得ることができます。

ブルカーのHysitron PI 95 TEM PicoIndenter は、ナノ機械的特性評価試験を透過電子顕微鏡内で直接観察することを可能にしたナノインデンテーションシステムです。試験中に得られる定量的な荷重・変位データとTEM観察により認められた相変態、転位バースト、破壊などの現象を組み合わせて解析することでナノスケールでの現象解明の大きな手掛かりとなります。TEM観察では試料中の化学的組成の分布や既存の欠陥の存在、配向などを把握できるので、試験前に事前に試料観察を行うことでナノ機械的特性評価試験のパラメーターを先験的に決定することができます。ブルカーはナノスケールの機械的特性評価試験と高分解能TEMイメージングの組み合わせにより、ナノの世界で生じる変形メカニズムを調べるための強力なツールを皆様にご提供します。

PI 95 TEM Picoindenter icon

PI 95 TEM PicoIndenter

TEM(透過電子顕微鏡)中で行うin-situナノ力学特性評価モデル

 

TS 75 Product image v1

TS 75 TriboScope

ブルカーのAFM(原子間力顕微鏡)に取り付けてナノインデンテーションを行う専用アタッチメント