XFlash® 6

适合任何应用的完美选择

Icon Detector Areas

每一次分析任务都有不同的要求。布鲁克可提供采用不同设计、具有不同有效面积的多种探测器,来确保为任意应用提供最佳条件。所有探测器均可提供业界最佳的单位面积固体角。

XFlash® 6 | 10——具有最佳分辨率的 SDD

  • 10 平方毫米探测器可提供市场最佳分辨率:121 eV (Mn Kα)
  • 卓越的轻元素及低能端定性定量性能

XFlash® 6 | 30——高效的通用型 SDD

  • ƒƒ可用于纳米分析和高计数率谱图成像的中型 30 平方毫米 SDD
  • ƒƒ高速 EBSD 分析的理想搭档

XFlash® 6 | 60——用于纳米分析的大面积 SDD

  • ƒƒ用于低束电流的 60 平方毫米 SDD
  • ƒƒƒƒ纳米颗粒、生物样本及类似分析的理想选择

XFlash® 6 | 100——用于低电流应用的最大面积 SDD

  • ƒƒ100 平方毫米有效面积,用于特殊分析场合
  • 低束流 SEM(冷场发射)和敏感样品的理想之选
更多信息