针对高挑战性任务的最佳能量分辨率

Icon Energy Resolution

XFlash® 6 可提供 121 eV (Mn Kα) 的至高分辨率,为复杂样品的分析,尤其是低于 1 keV 的轻元素低能量范围内的分析提供所需的出众能量分辨率。

XFlash® 6 探测器的能量级别

Mn Kα / eV 的分辨率 F Kα / eV 的分辨率C Kα / eV 的分辨率
1214738
1235345
1266051
1296757

 

所有 XFlash® 6 的分辨率均高于 ISO 15632:2012 的要求。

Tungsten and Silicon Low Energy Spectra
Low energy range spectra acquired with
121 eV

良好能量分辨率的重要性如左图所示。它包含用121 eV XFlash® 探测器测量得到的 Si 和 W在低能端的重叠谱图。值得注意的是,这款探测器所具有的出众能量分辨率足够区分 Si K 和 W M 线。同样Si L 线也清晰可见(虽然它的激发电压相对偏高,达到 7 kV)。 W N 线在碳污染峰的低能端还可以看见W的N 线。插图中所示的谱峰剥离结果也证实了这一发现。

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