电子显微镜分析仪器

SEM QUANTAX EDS

XFlash^® 7 - 最新 EDS 探头系列

优化的设计更好的分析

快速、精准、可靠

1,000,000

cps

有效输出计数可达 1,000,000 cps

无与伦比的分析速度

> 2,200

条元素谱线

包含所有 K，L，M 和 N 线系的全系原子数据库，可以对复杂的数据进行定量分析

> 1.1

sr

更大的采集立体角

优化的几何结构，更快的采集速度，更高的测试效率

用于 SEM, FIB-SEM 和 EPMA 的能量分散谱仪

布鲁克的最新一代 QUANTAX EDS XFlash^® 7 能谱探头具有最大的采集立体角 ( Solid Angle) 和更高的输出计数率。
XFlash^® 7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准。
XFlash^® 7 探头还为 TEM 和 SEM 中可以透过电子的样品提供了优化的解决方案，此外，独特的 XFlash^® FlatQUAD 为一些高难度样品提供了更好的解决办法。
Slim-line 技术，大立体角设计，最新一代脉冲处理器。
更好的能量分辨率和采谱性能。
精致的定量算法，独特的有标样和无标样定量分析方法有效提高了分析结果的准确性。

观看 XFlash 7 在线研讨会!

您需要接受 cookie 才能播放该视频。

联系我们彩页下载 (EN)

高效的元素分析

每一套EDS系统都独立进行优化，保证以更快的速度得到更精确的结果。
更大的输出计数率使测量时间大大缩短，可以在任何条件下进行定量和面分布分析而不再受数据量的困扰。
优化的结构设计，可以分析各种高难度的样品。
优化的设计降低了背底和吸收的影响，使定量结果更为准确可靠。
更低的背底和吸收使检测限更小，可以检测到更低含量的元素。
一体化的 ESPRIT 软件平台将EDS, WDS, EBSD 和微区-XRF 无缝组合，成为一个综合的分析平台，可用于所有的 SEM, FIB-SEM 以及 EPMA。

了解用于 TEM, STEM 和 T-SEM 的 XFlash 7

分析测试面临的挑战

Element distribution map of volcanic rock

Determining Magmatic Evolution using SEM EDS

The magmatic evolution of volcanic minerals over tens of thousands of years of volcanic minerals can be analyzed using SEM EDS. Discover more about the history of geological samples in just a few minutes.

Analyze Phases in Geological Samples

Higher spatial resolution maps with SEM EDS

Structural and Elemental Analysis of a Chalcolithic Smelting Vessel

Artworks and cultural heritage items reveal a great deal about our past. Learn how you can use SEM EDS to gain a deeper understanding of the history of these objects…

Explore the History of Archaeological Objects

Element distribution map of nettle by SEM EDS

Elemental Analysis of a Plant Sample using Dual EDS Detection

A high beam sensitivity, difficult topography and low count rate yield mean that the fast, non-destructive analysis of biological materials is difficult. However, a dual EDS detector system can overcome these challenges, allowing for the elemental mapping of biological samples.

Analyze Elements in Biological Materials

Live chemical mapping of solder region

Live Elemental Mapping of Sn–Cu Solder Region in Al-Si Alloy

Live elemental mapping using ESPRIT LiveMap enables large area scanning of the sample surface for quick ROI identification to perform further analysis with EDS or other techniques

Map Elements in Real-Time

EDS map of a failed welding seam

High Throughput Element Mapping of Zr-steel Welding Seam

High-throughput, i.e., high-speed EDS element mapping using XFlash 7® quickly provides post-welding information about the local structure and potential failures.

Map elements at high throughput

composite EDS map

Fast Elemental Mapping of Si and W Wafer Etching Residues

The new generation of XFlash^® detectors make mapping at very high input count rates (ICR) possible. This example showcases the XFlash^® detectors’ mapping capabilities of an element combination with overlapping peaks (Si and W) at very high count rates.

Map elements at high count rates

SEM 元素分析在不同领域的应用

HfB2的EDS频谱以5kV获得;插图显示 100 - 250 eV 区域中的放大光谱

高温耐火材料硼化物的低电压 EDS 定量

超高温（UHT）硼化物陶瓷是一类用于极端环境的耐火材料。

AgPbTebi 热电材料中的比斯穆特隔离

解析热电材料中富集铋的晶界

热电材料具有从能源生成到固态冷却等多种应用。

碳化钨切割工具上涂层的 EDS 图和 SE 图像

用于硬质合金切割工具的 TiCN 硬涂层

功能薄层和厚层在工程技术上十分重要，因为它们可增强或改变任何材料的表面特性。然而，这些薄膜的二维性质和材料中的包埋位置对这类材料的可靠分析提出了挑战。

Si/C 核/壳结构纳米颗粒的超高分辨元素面分析

使用布鲁克独特的EDS FlatQUAD探测器，使 Si/C 核/壳结构硅纳米颗粒的超高分辨元素面分析表征成为可能

莫克斯历史陨石：显示流星裂缝中硫和铅脱硫的复合净强度图

陨石标品的高分辨X射线元素面分析

使用布鲁克独特的 XFlash FlatQUAD EDS 探测器在扫描电子显微镜上进行元素分布面分析不需要样品制备。在这里，我们介绍在陨石样品上获得的 EDS 结果，这种珍贵的样品往往不能做任何样品制备。

具有粗糙样品地形和认证浓度值的三元合金的 SE 图像

粗糙表面样品的 EDS 定量分析

为了进行可靠的 EDS 定量分析，必须准确了解样品和探测器几何构型。

基于 SEM 的 EDS：对整个地质薄片样品进行高效 X 射线面分析

通过控制扫描电子显微镜的电子束和样品台，EDS 只需几分钟即可实现整个矿物样品薄面的元素分布表征。

网络研讨会

Application Area

Filter and Sort

网络研讨会

Brochures & Flyers

Application Notes

Publications

联系信息

专家团队

获取有关我们的产品和解决方案的更多信息

客户支持

Bruker 仪器服务支持

联系客户支持

关注我们的微信公众号

了解布鲁克公司的最新技术、应用和活动

现在就加入我们！