Slim-line 技术

提供最佳采集条件

Icon Slim-line Detector Technology

所有 XFlash® 6 探测器均采用 slim-line 技术,其具有超细的探指及端盖。其优势在于可提供最佳的采集条件,包括最佳的固体角。

Optimized Solid Angle through Slim-line Technology

Slim-line 技术可确保探测器到样品的最短距离,实现最大的固体角。此外,它还可留出更多空间,供您更轻松地在 SEM 上安装其他探测器。