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配备 XFlash® 6T 的 QUANTAX

电子显微镜上出色的 X 射线分析

 

 

Icon Detector Areas

探测器尺寸选择

  • 30 mm2 和 60 mm2 探测器为 TEM 上的微分析和纳米分析提供理想解决方案

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Icon Energy Resolution

最佳能源分辨率,实现最佳分析结果

  • 126 eV 最佳
  • ƒƒ129 eV 标准
  • 分辨率优于 ISO 15632:2012 要求

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Icon High Speed Pulse Processing

超高流通量,满足最快的测量要求

  • 配备混合技术的新信号处理装置
  • 可提供各种成像时间
  • 逾 1,500 kcps 输入计数率
  • 高达 600 kcps 输出计数率

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Icon Slim-line Detector Technology

Slim-line 探测器技术实现更高的计数率和更低的电子束电流

  • ƒƒ最短的探测器与样品距离,实现最大的立体角
  • TEM 的最佳可用射出角

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Icon Compact and Light-weight Design

设计紧凑、小巧轻便

  • 高精度滑块与电机全面整合,实现准确定位
  • 经改善的散热器几何结构,提供稳定的测量条件
  • 低重量设计

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