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XFlash® 6T

适用于各种应用的正确选择

Icon Detector Areas

Bruker 提供两种不同有效面积的探测器,可提供 TEM 中任何分析任务所需的最佳分析条件。这两种不同有效面积的探测器皆可提供最佳的立体角。

XFlash® 6T | 30 – 适用于传统及偏差校正TEM的第一款 SDD

  • ƒƒ搭载中等尺寸 30 mm² 芯片,普遍适用于各种 TEM

XFlash® 6T | 60 – 适用于原子级TEM分析的大型立体角 SDD

  • 60 mm² 有效面积探测器,适用于低X射线产额条件下进行的分析