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Slim-line 技术

提供最佳的采集条件

Icon Slim-line Detector Technology

所有 XFlash® 6T 探测器都采用 slim-line技术,具有超薄的探测器指示针和端盖。其优点是拥有最佳的采集条件,包括最佳的立体角和出射角。

Take-off Angle of a TEM Detector

Slim-line 技术可确保最佳的探测器与样品距离,实现最大的立体角。而且,它还可以优化探测器和准直器之间几何角度从而确保最佳检出角,这些因素对减少吸收效应,优化杂散峰,以及提高峰背比都非常重要。