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在显微镜上增加定量纳米力学表征

布鲁克开发了一套全面的纳米力学和纳米摩擦学测试系统,可以和强大的显微镜技术联用。先进的显微镜技术和原位定量纳米力学表征结合,有助于加速理解材料纳米尺度行为。



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surface analysis
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PI 85L SEM PicoIndenter

PI 85L扫描电镜专用原位纳米力学测试系统时深度感应纳米力学测试设备,它能与扫描电镜(SEM)联用。

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PI 88 SEM PicoIndenter

PI 88扫描电镜专用原位纳米力学测试系统,海思创的全面纳米力学测试设备的所有技术功能都能用于SEM和FIB/SEM。

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PI 95 TEM PicoIndenter

PI 95透射电镜专用原位纳米力学测试系统是第一台成熟的深度感应压痕设备,能在透射电镜(TEM)里直接观察纳米力学测试。

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IntraSpect 360

IntraSpect 360专为X光显微镜(XRM)和加速器设计的原位定量力学性能表征设备。

 

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BioSoft In-Situ Indenter

BioSoft In-Situ Indenter是第一台用于生物材料和水凝胶的多尺度定量力学测试设备

TS 75 Product image v1

TS 75 TriboScope

TS 75 TriboScope在已有原子力显微镜(AFM)上增加定量、刚性探针纳米压痕和纳米摩擦学表征功能。

Hysitron BioSoft In-Situ Indenter | Bruker

BioSoft In-Situ Indenter

The first of its kind instrument for multiscale quantitative mechanical testing of biological materials and hydrogels.