装配 XFlash® 6 的 QUANTAX

可在电子显微镜上进行出众的 X 射线分析

Icon Detector Areas

有多种探测器尺寸可供选择

  • 10、30、60 及 100 平方毫米面积的探测器可为微区分析及纳米分析提供理想的解决方案

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Icon Energy Resolution

可用于轻元素和低能端分析的最佳能量分辨率

  • ƒƒ121 eV 限量版
  • ƒƒ123 eV 旗舰版
  • ƒƒ126 eV 高级版
  • ƒƒ129 eV 标准版
  • ƒƒ所有版本的分辨率均超出 ISO 15632:2012 的要求

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Icon High Speed Pulse Processing

超高处理能力实现最快测量

  • ƒƒ采用数模混合技术的全新信号处理器
  • 超过 1,500 kcps 的输入计数率
  • 高达 600 kcps 的输出计数率

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Icon Slim-line Detector Technology

可实现更多计数及更低束流分析的 Slim-line 探测器技术

  • 最短的探测器到样品距离,在 SEM、FIB-SEM、电子探针和TEM中实现最大固体角

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Icon Compact and Light-weight Design

小巧轻便型设计

  • ƒƒ高精度滑块与完全集成化的马达,实现精确定位
  • 改进的散热器几何形状,提供稳定的测量条件
  • 最大探测器重量为 3.75 公斤

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