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Analysesysteme für Elektronenmikroskope

QUANTAX EDS für REM

Die Lösung für Ihre analytische Herausforderung - EDS für REM, FIB und EPMA

Der Standard in der energiedispersiven Spektrometrie

Schnell. Vielseitig. Sehr begehrt.

QUANTAX EDS for SEM

Highlights

600
kcps
Analytischer Durchsatz
Beste Analysegeschwindigkeit
121
eV
Spitzenauflösung
Beste Energieauflösung für Lichtelementanalyse
4
Kombinierte EDS-Detektoren
Maximierung des Durchsatzes mit mehreren Detektoren oder Detektor-Arrays

EDS mit Slim-Line-Technologie für REM, FIB und EPMA

Wieder einmal setzt Bruker Standards bei Leistung und Funktionalität in der energiedispersiven Spektrometrie für Rasterelektronenmikroskope. Die neue Generation des QUANTAX Spektrometers ist mit der XFlash® 6-Detektorserie mit vier Detektorgrößen von 10 mm2 bis 100 mm2 verfügbar.

Generation 6 verfügt über die Hardware und die Softwaretechnologie, die  schnellste und zuverlässigste Ergebnisse liefern:

Schneller – Mit neuen Detektoren in Slimline-Technologie, großflächigen SDDs und überragender Impulsverarbeitung können Messaufgaben schneller gelöst werden.

Einfacher - Motorisierte Positionierung und geringes Gewicht machen Detektoren leicht bedienbar.

Präziser  - Höchste Energieauflösung liefert Spektren bester Qualität für genaueste Analystik.

Zuverlässiger  - Die umfassendste Atomdatenbank der Welt gewährleistet die zuverlässige Identifizierung auch von niedrigenergetischen Peaks.

Genauer  - Die ausgeklügeltsten Algorithmen für die Quantifizierung und die einzigartige Kombination von standardlosen und standardbasierten Methoden liefern exzellente Ergebnisse.

Vorteile

Machen Sie Ihre Elementanalyse effizienter!

Die Kombination aus individueller Mikroskopanpassung, unübertroffener Geschwindigkeit und Präzision führt zu dem leistungsstärksten EDS-System für jedes Labor. Durch das hyperspektrale Mapping ist die Mikro- und Nanoanalyse keine Herausforderung mehr.

Die XFlash®-Detektorfamilie bietet auch optimierte Lösungen für TEM und STEM sowie den einzigartige XFlash® FlatQUAD, ein Detektor, entwickelt, um Fragen zu sehr herausfordernden Proben zu beantworten.

Darüber hinaus bietet die nahtlose Integration von EDS in Verbindung mit EBSD, Micro-XRF und WDS in einer einzigen Benutzeroberfläche ESPRIT die umfassendste Analyseplattform für alle SEM, FIB und EPMA.

Anwendungen

Was ist Ihre Analytische Herausforderung?

Elementverteilungsbilder einer Mantelperidotit-Probe

Elementverteilungsanalysen eines geologischen Dünnschliffes durch REM-basierte EDS-Analyse

Die Elementverteilung eines mineralogischen Dünnschliffs kann mit der EDS-Analyse durch Steuerung des Elektronenstrahls und des Probentisches im REM in nur wenigen Minuten ermittelt werden.
Mocs historischer Meteorit: Elementverteilungsbild mit Schwefel- und Bleiablagerungen in den Rissen des Meteoriten.

Hochauflösende EDS-Elementverteilungsbilder eines Meteoriten

Durch die Verwendung des einzigartigen XFlash FlatQUAD EDS-Detektors kann auf eine komplizierte Probenpräparation zur Ermittlung einer Elementverteilung (Map) mit Hilfe eines Rasterelektronenmikroskops verzichtet werden. Hier stellen wir die Ergebnisse einer Meteroriten-Probe vor, für die eine Probenpräparation nicht möglich war.
EDS-Spektrum von HfB2, erfasst bei 5 kV; das Inset-Bild zeigt die vergrößerten Spektren im 100 - 250 eV-Bereich.

Quantifizierung von feuerfesten Boriden für Hochtemperaturanwendungen

Ultrahochtemperatur-Boridkeramik ist eine Klasse von feuerfesten Materialien, die für extreme Umgebungen hergestellt werden.
Bismutseigerung in thermoelektrischen AgPbTeBi -Materialien

Bismut-angereicherte Korngrenzen in thermoelektrischen Materialien

Thermoelektrische Materialien finden breite Anwendung von der Energieerzeugung bis zur Festkörperkühlung.
EDS-Elementverteilungsbild und SE-Bild von verschiedenen Beschichtungslagen auf Wolframcarbid-Schneidwerkzeugen. Die Oberfläche wurde mit einem fokussierten Ionenstrahl (FIB) poliert.

TiCN-Beschichtungen für Hartmetall-Schneidwerkzeuge

Funktionelle Beschichtungen sind technologisch bedeutend, da sie die Oberflächeneigenschaften von Materialien verbessern können. Die geringe Schichtdicke stellt jedoch die zuverlässige Analyse dieser Materialien vor Herausforderungen.
SE-Bild eines ternären Systems mit rauer Oberfläche (ohne Probentischrotation)

EDS-Quantifizierung von Materialien mit rauer Oberfläche

Für eine zuverlässige EDS-Quantifizierung ist die genaue Kenntnis der Probe und der Detektorgeometrie unerlässlich.

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